Découvrez comment Aeris XRD transforme l'analyse des matériaux dans les secteurs de l'exploitation minière, des métaux et bien plus encore.. Apprendre encore plus

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Aeris Édition Minerals

Optimiser le traitement des minerais

  • Système XRD de paillasse très précis
  • Conçu pour l'industrie minière
  • Système entièrement automatisable
  • Facilement intégrable dans le contrôle de la production industrielle

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Aperçu

L'Édition Minerals d'Aeris, un diffractomètre à rayons X pour paillasse, rend l'analyse polyvalente des minerais accessible à toute l'industrie minière.

Traitement efficace des minerais et des minéraux

La XRD assure un suivi et un apport précis des minéraux pour les modèles hydrométallurgiques, afin d'obtenir les conditions de traitement les plus économiques.

L'Édition Minerals d'Aeris est votre partenaire à chaque étape du processus de production, des matières premières au produit final.

Fonctionnalités

Intégration harmonieuse dans l'automatisation

  • Le seul diffractomètre de paillasse automatisable pour une cadence d'analyse élevée: Aeris peut être connecté à une courroie ou un robot pour un traitement rapide et automatisé des échantillons
  • La puissance de la combinaison technologique: La solution jumelle alliant Aeris et Zetium fournit une caractérisation complète des matériaux en ajoutant des informations sur la composition élémentaire (déterminée par Zetium) à l'identification de phase effectuée par Aeris
  • Porte-échantillons étalons adaptés à vos besoins: Ensemble de porte-échantillons 51,5 mm / Porte-échantillons 40 mm

Analyse rapide, temps de fonctionnement maximal

L'analyse rapide minimise les boucles de rétroaction et permet une intervention précoce pour l'optimisation des processus. Les durées de mesure typiques d'Aeris sont de moins de 10 minutes par échantillon.

Le temps de fonctionnement de l'équipement d'analyse est la clé d'un contrôle de procédé fiable. Aeris a été conçu dès le départ pour garantir un temps de fonctionnement maximal.

Solide et résistant

  • Conception robuste : Le seul instrument XRD pour paillasse avec chargement externe d'échantillons, pour une protection antipoussière ultime du cœur de l'instrument
  • Besoins minimums en infrastructure : Pas d'eau de refroidissement, pas de refroidisseur, pas d'air comprimé : la seule chose dont vous ayez besoin est une prise électrique à phase unique
  • Adapté aux besoins de l'industrie : Compatible avec toutes les normes communes de l'industrie, des protocoles d'interfaçage LIMS aux porte-échantillons conformes aux normes de l'industrie

Simple d'utilisation

Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif. Avec l'écran tactile intégré, vos résultats sont toujours accessibles en quelques tapotements :

  1. Placez votre échantillon
  2. Sélectionnez le programme de mesure
  3. Affichez les résultats

Spécifications

Manipulation des échantillons

Chargement d'échantillon Chargement externe de l'échantillon
Sample holders Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences
Changement d'échantillon
Wählen Sie zwischen einer manuellen Ladestation, einem Probenwechsler mit 6 Positionen oder einem Probenwechsler mit hoher Kapazität und 67 Positionen
Automatisation
Compatible avec l'intégration de l'automatisation

Génération de rayons X

Longueur d'onde
Cu / Co
Tube setting
Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV
Tube housing
Patented design with Corrosion-resistant incident smart beam path technology (CRISP)
CRISP technology prevents corrosion in the incident beam path caused by X-ray induced ionized air. Patent no. US 8437451 B2

Goniomètre

Base configuration
Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux
Geometry
Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante
Radius
145 mm
Maximum 2θ range
-4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active)
Angle positioning
Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie
Scan Speed
2,17°/s max
Résolution
< 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon)
2θ linearity
< 0,04° 2 θ
Smallest addressable increment
0,001 °

Supports et détecteurs

Spinning
Divers supports tournants
Non-ambient
Option support chauffant (BTS-500, BTS-150)
Exchange of stages
Échange de supports PreFIX sans alignement
Special stages
Sur demande (manuel, MPSS, in situ)
Détecteur
Choix entre les détecteurs PIXcel1D, PIXcel3D et 1Der

Général

Dimensions
690 x 770 x 786 mm
Dust protection
Système fermé avec chargement externe des échantillons
External cooling water supply
Inutile
Compressed air supply
Inutile
Alimentation électrique
100 – 240 V, monophasé
Ordinateur
PC de l'instrument interne
Operation
Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po
Interface LAN, USB, HDMI

Accessoires

Détecteurs

1Der

Polyvalence et clarté des données ultimes dans la détection 1D

Le 1Der est la toute dernière addition à un portefeuille de détecteurs à semi-conducteurs de pointe pour les applications de diffraction des rayons X (XRD). Associé à une gamme inégalée de configurations optiques, le 1Der s’intègre parfaitement aux plateformes XRD pour allier simplicité d’utilisation, flexibilité maximale et clarté des données pour toutes les applications 0D et 1D.

Le 1Der est compatible avec toutes les sources de rayons X utilisées sur l’Empyrean et l’Aeris.

PIXcel1D

Technologie Medipix comme détecteur de bande dédié

Avec le détecteur PIXcel1D, vous disposez d’un détecteur à bande dédié pour les applications 0D et 1D. Vous pouvez mesurer jusqu’à 255 fois plus rapidement qu’avec un détecteur ponctuel traditionnel, sans compromettre la qualité des données. Sans besoin d’eau de refroidissement, de flux d’azote liquide, de gaz de comptage ou de calibrations chronophages, c’est une solution rentable.

Grâce à une résolution et une plage dynamique inégalées, le PIXcel1D peut être utilisé avec l’ensemble de nos diffractomètres.

Logiciels

HighScore

Approche de figure complète pour l'identification de phase et bien plus encore

Que vous soyez intéressé par l'amélioration du contrôle de procédé, ou que vous effectuiez des activités de recherche et développement, la compréhension de vos matériaux commence très souvent par comprendre la figure de diffraction de poudre.

Alors que Malvern Panalytical vous aide à obtenir la meilleure figure de diffraction de poudre avec ses diffractomètres, l'une de vos préoccupations principales est d'identifier le contenu de votre échantillon. HighScore est le logiciel idéal pour l'identification de phase, l'analyse de phase semi-quantitative, le traitement de figure, l'ajustement de profil et bien plus encore. Le progiciel contient de nombreuses fonctions permettant d'afficher, de manipuler et d'évaluer vos données de diffraction. HighScore peut prendre en charge tous les formats de données de diffraction des rayons X Malvern Panalytical, ainsi que la plupart des figures de diffraction d'autres fournisseurs.

HighScore Plus

L'outil idéal pour l'analyse cristallographique et bien plus encore

Que vous soyez intéressé par l'amélioration du contrôle de procédé, ou que vous effectuiez des activités de recherche et développement, la compréhension de vos matériaux commence très souvent par comprendre la figure de diffraction de poudre.

Après l'identification de toutes les phases présentes dans votre échantillon avec le HighScore de Malvern Panalytical, cette suite logicielle tout-en-un avec l'option Plus continue à vous aider dans votre analyse. Que vous vous concentriez sur la quantification avec ou sans la méthode de Rietveld, l'ajustement de profil ou le traitement de figure, HighScore Plus est la solution qui vous permet d'effectuer vos analyses quotidiennes.

Nous sommes fiers de vous présenter les tutoriels vidéo de notre client, JIAM Diffraction Facility de l'Université du Tennessee (États-Unis). Faites défiler l'écran vers le bas pour voir d'autres vidéos.

Recherche-correspondance

Bases de données de référence

L'identification de phase par diffraction des rayons X consiste à comparer des données mesurées inconnues avec des données de référence connues. Ces données de référence proviennent généralement d'une ou de plusieurs bases de données. Le processus de comparaison est également souvent appelé recherche de correspondance.

La qualité et le contenu des différentes bases de données de référence varient considérablement en fonction de la qualité des données et du processus de rédaction. En général, il existe une relation entre le prix et la qualité.

Manipulation des échantillons

Changeur d’échantillons haute capacité

Pour les environnements à haut débit, le changeur d’échantillons haute capacité Aeris est la solution idéale. Sa technologie éprouvée de manipulation robotisée des échantillons permet une analyse autonome de plus de 60 échantillons, améliorant l’efficacité des ressources de 50 %.

Pour en savoir plus
Changeur d’échantillons haute capacité

Manipulation automatisée des échantillons

Aeris s'intègre parfaitement aux laboratoires automatisés multi-systèmes, où l’instrument est piloté via l’interface UAI. Les échantillons sont amenés à l’instrument soit par un convoyeur relié à notre changeur automatisable, soit par un bras robotisé qui place directement les échantillons sur la plateforme de chargement.

Manipulation automatisée des échantillons

Changeur d’échantillons à 6 positions

Le changeur d’échantillons à 6 positions permet le traitement par lot de six échantillons simultanément, améliorant ainsi l’efficacité et réduisant les interventions de l’opérateur. Idéal pour les laboratoires à débit moyen.

Changeur d’échantillons à 6 positions

Chargement manuel des échantillons

Pour les utilisateurs manipulant un faible volume d’échantillons ou effectuant des changements peu fréquents, la plateforme externe permet de charger et de remplacer un échantillon à la fois. L’échantillon est ensuite automatiquement transféré vers la zone de mesure XRD, garantissant une manipulation précise à chaque analyse.

Chargement manuel des échantillons

Tubes à rayons X

Tubes à rayons X

Malvern Panalytical propose une large gamme de tubes à rayons X.

Pour en savoir plus
Tubes à rayons X

Manuels d'utilisation

Téléchargements de logiciels

23 June 2025

1.7a

OmniTrust software update v1.7a

1.7a

20 July 2023

1.60

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.60

16 December 2021

1.40

OmniAccess   

  • Flexible/configurable roles in Empyrean and Aeris (now aligns with Zetasizer) 
  • Summary of roles/permissions 
  • Default roles for instrument applications 
  • Support for complex domains 
  • Wizard for initial set up and massively improved UI to improve configuration/set up 

OmniTrail  

  • Record Audit trail events viewable in OmniTrail. 
  • Show/compare authorization files 

More information can be found in the Release and Installation Notes.

1.40

Assistance

Services

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Encombrement réduit, GRANDE importance.

Encombrement réduit, GRANDE importance.

La XRD rapide de haute qualité, adaptée à vos besoins. Prêt pour l'automatisation et l'intégration. Compact et moderne.

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