Aeris Guía de usuario
Numéro de version: 8
Découvrez comment Aeris XRD transforme l'analyse des matériaux dans les secteurs de l'exploitation minière, des métaux et bien plus encore.. Apprendre encore plus
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L'Édition Metals d'Aeris est un diffractomètre à rayons X pour paillasse permettant de procéder à une analyse rapide et fiable des agglomérés, du préréduit et de l'austénite résiduelle.
Aeris est entièrement automatisable et peut facilement être intégré au contrôle de la production industrielle.
L'Édition Metals d'Aeris est votre partenaire à chaque étape du processus de production, des matières premières au produit final.
La diffraction des rayons X (XRD) est une technologie clé à chaque étape du processus de fabrication de l'acier.
C'est un outil précieux pour la caractérisation rapide et précise des matériaux des matériaux bruts et intermédiaires utilisés dans le processus de fabrication de l'acier (comme le minerai de fer, les agglomérés et le préréduit).
L'application de la XRD est également idéale pour le contrôle de la qualité des produits finaux, car elle fournit une quantification rapide et précise des phases métalliques telle que l'austénite résiduelle.
L'analyse rapide minimise les boucles de rétroaction et permet une intervention précoce pour l'optimisation des processus. Les durées de mesure typiques d'Aeris sont de moins de 10 minutes par échantillon.
Le temps de fonctionnement de l'équipement d'analyse est la clé d'un contrôle de procédé fiable. Aeris a été conçu dès le départ pour garantir un temps de fonctionnement maximal.
Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif. Avec l'écran tactile intégré, vos résultats sont toujours accessibles en quelques tapotements :
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences |
| Changement d'échantillon | Choisissez entre une station de chargement manuelle, un passeur d'échantillons à 6 positions ou un passeur d'échantillons haute capacité à 67 positions
|
| Automatisation | Compatible avec l'intégration de l'automatisation |
| Longueur d'onde | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
|
| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active) |
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie |
| Scan Speed | 2,17°/s max |
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants |
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement |
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ) |
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D et 1Der |
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons |
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé |
| Ordinateur | PC de l'instrument interne |
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 6
Numéro de version: 7
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 8
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
Numéro de version: 2
Numéro de version: 4
Numéro de version: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Service à vie
Ajout de valeur à vos procédés
L'Édition Metals d'Aeris est un diffractomètre à rayons X pour paillasse permettant de procéder à une analyse rapide et fiable des agglomérés, du préréduit et de l'austénite résiduelle.
Aeris est entièrement automatisable et peut facilement être intégré au contrôle de la production industrielle.
L'Édition Metals d'Aeris est votre partenaire à chaque étape du processus de production, des matières premières au produit final.
La diffraction des rayons X (XRD) est une technologie clé à chaque étape du processus de fabrication de l'acier.
C'est un outil précieux pour la caractérisation rapide et précise des matériaux des matériaux bruts et intermédiaires utilisés dans le processus de fabrication de l'acier (comme le minerai de fer, les agglomérés et le préréduit).
L'application de la XRD est également idéale pour le contrôle de la qualité des produits finaux, car elle fournit une quantification rapide et précise des phases métalliques telle que l'austénite résiduelle.
L'analyse rapide minimise les boucles de rétroaction et permet une intervention précoce pour l'optimisation des processus. Les durées de mesure typiques d'Aeris sont de moins de 10 minutes par échantillon.
Le temps de fonctionnement de l'équipement d'analyse est la clé d'un contrôle de procédé fiable. Aeris a été conçu dès le départ pour garantir un temps de fonctionnement maximal.
Le diffractomètre à rayons X le plus intuitif. Avec l'écran tactile intégré, vos résultats sont toujours accessibles en quelques tapotements :
| Chargement d'échantillon | Chargement externe de l'échantillon |
|---|---|
| Sample holders | Divers grands porte-échantillons capables de répondre à toutes les exigences |
| Changement d'échantillon | Choisissez entre une station de chargement manuelle, un passeur d'échantillons à 6 positions ou un passeur d'échantillons haute capacité à 67 positions
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| Automatisation | Compatible avec l'intégration de l'automatisation |
| Longueur d'onde | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Options de 300 W à 600 W réglé sur 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Conception brevetée avec technologie de trajectoire intelligente du faisceau incident résistante à la corrosion (CRISP)
La technologie CRISP empêche la corrosion dans la trajectoire du faisceau incident causée par l'air ionisé par les rayons X. Brevet n°US 8437451 B2.
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| Base configuration | Goniomètre vertical, couplé et découplé θ-θ, échantillons toujours horizontaux |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmission, incidence rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2 θ ≤ 142° (avec détecteur à balayage et pleine longueur active) |
| Angle positioning | Système de positionnement optique direct (DOPS3) avec précision de la position à vie |
| Scan Speed | 2,17°/s max |
| Résolution | < 0,04° 2 θ sur LaB6 (avec fentes Soller de 0,01 de rayon) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2 θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Divers supports tournants |
|---|---|
| Non-ambient | Option support chauffant (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Échange de supports PreFIX sans alignement |
| Special stages | Sur demande (manuel, MPSS, in situ) |
| Détecteur | Choix entre les détecteurs PIXcel1D et 1Der |
| Dimensions | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Système fermé avec chargement externe des échantillons |
| External cooling water supply | Inutile |
| Compressed air supply | Inutile |
| Alimentation électrique | 100 – 240 V, monophasé |
| Ordinateur | PC de l'instrument interne |
| Operation | Interface utilisateur intuitive avec écran tactile de 10,4 po |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
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Numéro de version: 7
Numéro de version: 8
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Numéro de version: 4
Numéro de version: 3
Numéro de version: 2
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More information can be found in the Release and Installation Notes.
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