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등록 상표
| 등록 상표
| 표시 |
|---|---|
| 1DER | ® |
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ® |
| (ASD Inc) logo | ® |
| AMASS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo) | ® |
| Archimedes | ® |
| AXIOS | ® |
| CHI-BLUE | ® |
| Claisse | ® |
| Claisse (+ Logo) | ® |
| CREOPTIX | ® |
| CUBIX | ® |
| CUBIX3 | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ® |
| EASY SAXS | ® |
| EMPYREAN | ® |
| EPSILON | ® |
| EPSILON X-FLOW | ® |
| EXPERT SAXS | ® |
| EASY SAXS | ® |
| FieldSpec | ® |
| FIPA | ™ |
| FLUOR’X | ® |
| GALIPIX 3D | ® |
| Gemini | ™ |
| goLab | ™ |
| HandHeld 2 | ™ |
| HIGHSCORE | ® |
| Hydrosight | ™ |
| iCore | ™ |
| Indico Pro | ™ |
| Insitec | ® |
| (Insitec logo) | ® |
| (Insitec Measurement Systems logo) | ® |
| ISys | ® |
| LabSizer | ™ |
| LabSpec | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| M3 PALS | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| Malvern | ® |
| (Triangular hills logo + Malvern Instruments) | ® |
| Malvern in Chinese characters | ® |
| Malvern Instruments | ® |
| Malvern Instruments in Chinese characters | ® |
| Malvern Link | ™ |
| (Malvern Plus Hills Logo) | ® |
| MALVERN PANALYTICAL | ® |
| MALVERN PANALYTICAL in Chinese characters | ® |
| MALVERN PANALYTICAL in Katakana | ® |
| MALVERN PANALYTICAL in Korean script | ® |
| MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo) | ® |
| Mastersizer | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC (stylised) | ® |
| MDRS | ® |
| Microcal | ® |
| Morphologi | ® |
| (Triangular hills logo) | ® |
| Nanosight | ® |
| NIBS | ™ |
| OIL-TRACE | ® |
| OMNIAN | ® |
| OMNISEC | ® |
| OMNITRUST | ® |
| PANALYTICAL | ® |
| PANALYTICAL LOGO (picture) | ® |
| PANTOS | ® |
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXCEL | ® |
| PIXCEL 1D | ® |
| PIXCEL 3D | ® |
| PIXIRAD | ® |
| QualitySpec | ® |
| Spraytec | ™ |
| SST | ® |
| SST-MAX | ® |
| SUPER SHARP TUBE | ® |
| STRATOS | ® |
| SUPER Q | ® |
| SyNIRgi | ™ |
| TerraSpec | ® |
| TheOx® Advanced | ® |
| Ultrasizer | ™ |
| VENUS MINILAB | ® |
| ViewSpec | ™ |
| Viscogel | ™ |
| Viscotek | ® |
| Viscotek SEC-MALS | ™ |
| WAVECHIP | ® |
| WE'RE BIG ON SMALL | ™ |
| (X Logo) | ® |
| X’CELERATOR | ® |
| XPERT3 | ® |
| Zetasizer | ® |
| ZETIUM | ® |
| ZS Helix | ® |
특허
Malvern Panalytical은 다음과 같은 특허 및 특허 응용분야에 의해 보호되는 다양한 시장 주도의 고유 제품을 보유하고 있습니다.
Mastersizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| GB2494735B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 | MS3000, MS3000E |
| CN104067105B
EP2756283B1(GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법 | MS3000, MS3000E |
| US10837889B2
GB2494734B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법 | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7217350B2
| 표면 전하로 인한 이동성 및 효과 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix |
| EP2467701B1(CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8)
CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2 | 개선된 단일 산란 모드 검출을 통해 복합 유체의 동적 광 산란 기반 미세유변학 | Zetasizer Advance Range, Nano ZSP, Helix |
| CN103608671B
CN105891304B EP2721399B1(BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2 | 표면 전하 측정 | 제타 플레이트 셀 액세서리 |
| US8702942B2
CN103339500B EP2652490B1(GB, FR, DE602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 | 확산 장벽을 사용한 레이저 도플러 전기 영동법 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP |
| EP2742337B1(GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2 | 미립자의 이중 모드 특성 분석 | Zetasizer Helix |
| US10197485B2
US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527A1 JP6936229B2 CN108291861B | 입자 특성 | Zetasizer Advance range |
| US10119910B2 | 입자 특성 분석 기기 | Zetasizer Advance: Ultra 및 Pro |
| US8675197B2
JP6059872B2 EP2404157B1(GB, FR, DE602010066495.3) | 입자 특성 | Zetasizer Advance 액세서리 |
| EP3521806A1
US11441991B2 CN111684261A JP2021513649A | 다각도 동적 광 산란 | Zetasizer Advance: Ultra |
Insitec
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7418881B2
EP1592957B1(GB) | 희석 시스템 및 방법 | Insitec(일부 제품) |
| US7871194B2
EP1869429B1(GB, FR, DE602006060213.8) | 희석 시스템 및 방법 | Insitec(일부 제품) |
| EP2640499B1 (GB) | 인라인 분산기와 분말 혼합 방법 | Insitec dry |
Morphologi
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| EP2106536B1(GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2 US8564774B2 | 이질성의 분광광도법 조사 | Morphologi G3-ID |
| GB2522735B
JP6560849B2 | 분말 분산의 방법 및 장치 | Morphologi G3-ID, Morphologi G3 |
Viscosizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US11113362B2
JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B | 다중 성분 모델 매개변수화 | Viscosizer TD |
Hydro Sight
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8456633B2 | 분광 공정 모니터링 | Hydro Sight |
| CN104704343B
EP2864760A2 US10509976B2 | 불균일 유체 샘플 특성 분석 | Hydro Sight |
NanoSight
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7751053B2
JP04002577B2 EP1499871B1(FR, DE60335872.1) US7399600B2 | 입자 분석을 위한 광학적 검출 | NanoSight NS300
NanoSight NS500 NanoSight LM10 |
| EP3071944B1(GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B | 기기 보정 개선 또는 관련 | NanoSight NS300 |
MicroCal ITC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| CN101855541B
EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2 | 등온 적정 미세 열량측정계 장치 및 사용 방법 | MicroCal ITC 시리즈 |
| CN102232184B
EP2352993B1(CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1(CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 | 자동 등온 적정 미세열랑측정계 장치 및 사용 방법 | MicroCal ITC 시리즈 |
MicroCal DSC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8635045B2
CN103221808B EP2646811B1(GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2 | 열량 측정 데이터에서 자동 피크 찾기 방법 | MicroCal DSC 시리즈 |
OMNISEC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9759644B2
US10551291B2 | 평형 방식 모세관 브릿지 점도계 | OMNISEC |
| US9612183B2
EP2619543B1(GB, FR, DE602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 | 모듈식 모세관 브릿지 점도계 | OMNISEC |
QualitySpec 7000
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8164747B2
CA2667650C EP2092296B1(CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6) | 광학 분광 측정을 위한 장치, 시스템 및 방법 | QualitySpec 7000 |
TerraSpec Halo
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법 | TerraSpec Halo |
QualitySpec Trek
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법 | QualitySpec Trek |
Floor standing XRF
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1(GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2 | 비드 용광로 | Zetium
Axios FAST Epsilon5 |
| EP1701154B1(FR, DE)
JP4950523B2 | 수차 교정 장치 및 방법
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7949092B2
| X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS |
| JP5782451B2
EP2510397B1(GB, FR, NL, DE602010021859.7) | Xuv 파장 범위에서 응용을 위한 측면 패턴을 가진 다층 구조 제조 방법과 이 방법에 따라 제조된 bf 및 Imag 구조 | Zetium*
Axios FAST 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US9658352B2
CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 | 표준 제조 방법 | Zetium
Axios FAST |
| EP2787342B1(GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 가압에 의한 샘플 펠릿 전처리 | Zetium
Axios FAST |
| US10107551B2
EP2966039B1(GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B | 플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리 | Zetium
Axios FAST |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1(GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | 정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정 | Zetium*
Axios FAST |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1(GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비 | Zetium*
Axios FAST |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1(GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 정량적 X선 분석 - 비율 보정 | Zetium*
Axios FAST |
| US9239305B2 | 샘플 홀더 | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 |
| US7978820B2
| X선 회절 및 형광 | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7720192B2
JP5574575B2 CN101311708B | X선 형광 장치 | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1(GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 금속 와이어 음극이 있는 X선 소스 | Zetium
Axios FAST 2830 ZT(웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2(GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X선관 양극 배열
| Zetium
Axios FAST 2830 ZT(웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2
EP3330701B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1(GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A | X선 측정을 위한 원뿔형 콜리메이터 | Zetium* |
| * · 선택 사항/제품의 표준 아님 | ||
Benchtops XRF
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1(GB, FR, NL, DE602009003389.1) | 비드 용광로 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션 |
| EP1701154B1(FR, DE)
JP4950523B2 | 수차 교정 장치 및 방법
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US7949092B2
| X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US9658352B2
CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 | 표준 제조 방법 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션 |
| EP2787342B1(GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 가압에 의한 샘플 펠릿 전처리 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션 |
| US10107551B2
JP6559486B2 CN105258987B EP2966039B1(GB, FR, NL, DE602014024004.2) | 플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션 |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1(GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4) | 정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1(GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1(GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 정량적 X선 분석 - 비율 보정 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US9239305B2 | 샘플 홀더 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US9547094B2
CN104849295B EP2908127B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2 | X선 분석 장치
| Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션 |
| US7978820B2
| X선 회절 및 형광 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1(GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 금속 와이어 음극이 있는 X선 소스 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2(GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X선관 양극 배열
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션* |
| * 선택 사항/제품의 표준 아님 | ||
Floor standing XRD
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| EP1701154B1(FR, DE)
JP4950523B2 | 수차 교정 장치 및 방법 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD(XL) CubiX³ 제품군 |
| US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | 회절 이미징 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군# |
| US7116754B2 | 회절분석기 | Empyrean#
|
| US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1(GB, FR, NL, DE602008041760.3) | 이미징 검출기 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군# |
| EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2) | 이미징 검출기 | Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군# |
| US9110003B2
CN103383363B EP2634566B1(GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2 | 미세회절
| Empyrean#
X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군# |
| US9640292B2
CN104777179B EP2896960B1(GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2 | X선 장치
| Empyrean
X'Pert³ Powder CubiX³ 제품군 |
| US7756248B2
JP5145263B2 CN101545873B EP2090883B1(GB, FR, NL, DE602008002143D1) | 포장 내 X선 검출
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD(XL) |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1(GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영 | Empyrean
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD(XL)* CubiX³ 제품군* |
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X선 산란용 X선 회절 장비
| X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD(XL)* |
| US7477724B2
EP1703276B1(GB, FR, NL, DE602005033962.0) | X선 장비 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD(XL)* CubiX³ 제품군 |
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X선 셔터 배열 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD(XL) CubiX³ 제품군 |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1(GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X선관 양극 배열
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD(XL)* CubiX³ 제품군* |
| EP3553508A2
US11035805B2 JP2019184609A CN110389142B | X선 분석 장치 및 방법 | Empyrean* |
| US10359376B2
EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308B | X선 분석용 샘플 홀더 | Empyrean* |
| US10782252B2
CN110376231A EP3553506A2 JP2019184610A | 빔 발산의 하이브리드 제어를 통한 X선 분석 장치 및 방법 | Empyrean
X'Pert³ CubiX³ 제품군 |
| US10753890B2
EP3372994B1(AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B JP6709814B2 | 고분해능 X선 회절 방법 및 장치 | Empyrean* |
| EP3553509B1(AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8)
JP2019184611A1 US10900912B2 CN110389143A | X선 분석 장치 | Empyrean* |
| US10352881B2
EP3343209B1(GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B JP6839645B2 | 컴퓨터 단층촬영 | Empyrean* |
| US9753160B2
CN104285164B EP2850458B1(GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2 | 디지털 X선 센서 | Empyrean
X'Pert³ CubiX³ 제품군 |
| * 선택 사항/제품의 표준 아님
# 특별 요청 시 제공 | ||
Benchtops XRD
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| EP1701154B1(FR, DE)
JP4950523B2 | 수차 교정 장치 및 방법 | Aeris
|
| US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | 회절 이미징 | Aeris*
|
| US7116754B2 | 회절분석기 | Aeris*
|
| EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2) | 이미징 검출기 | Aeris*
|
| US9640292B2
JP6564572B2 CN104777179B EP2896960B1(GB, FR, NL, DE602014012155.1) | X선 장치 | Aeris |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1(GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영 | Aeris*
|
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X선 산란용 X선 회절 장비
| Aeris*
|
| US7477724B2
EP1703276B1(GB, FR, NL, DE602005033962.0) | X선 장비 | Aeris*
|
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X선 셔터 배열 | Aeris
|
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1(GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X선관 양극 배열
| Aeris*
|
| US10753890B2
EP3372994B1(AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B JP6709814B2 | 고분해능 X선 회절 방법 및 장치
| Aeris*
|
* 선택 사항/제품의 표준 아님 | ||