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상표 목록 최종 업데이트: 2025년 3월 20일

등록 상표	표시
1DER	®
AERIS	®
AERIS PANALYTICAL	™
ASD	™
(ASD Inc) logo	®
AMASS	®
AMPLIFY ANALYTICS	®
AMPLIFY ANALYTICS(+ 로고)	®
Archimedes	®
AXIOS	®
CHI-BLUE	®
CLAISSE	®
Claisse(+ 로고)	®
CREOPTIX	®
CUBIX	®
CubiX³	®
dCore	™
EAGON	®
Eagon 2	™
EasySAXS	®
EMPYREAN	®
EPSILON	®
EPSILON Xflow	®
ExpertSAXS	®
FIELDSPEC	®
FIPA	™
FLUOR’X	®
FORJ	™
GaliPIX^3D	®
Gemini	™
goLab	™
HandHeld 2	™
HighScore	®
Hydrosight	™
iCore	™
Indico Pro	™
INSITEC	®
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(Insitec Measurement Systems logo)	®
ISYS	®
LabSizer	™
LABSPEC	®
LeNeo	®
LeDoser	™
LeDoser-12	™
M3 PALS	™
M4	™
MADLS:	®
MALVERN	®
(Triangular hills logo + Malvern Instruments)	®
马尔文(말번의 중문 표기)	®
MALVERN INSTRUMENTS	®
马尔文仪器(Malvern Instruments의 중문 표기)	™
Malvern Link	™
(Malvern Plus Hills Logo)	®
말번 파날리티칼	®
马尔文帕纳科(MALVERN PANALYTICAL의 중국어 표기)	®
マルバーン·パナリティカル(MALVERN PANALYTICAL의 가타카나 표기)	®
말번 파날리티칼(MALVERN PANALYTICAL의 한글 표기)	®
MALVERN PANALYTICAL(+ X 로고)	®
MASTERSIZER	®
Mastersizer 2000	™
MC (stylised)	™
MDRS	®
MICROCAL	®
MORPHOLOGI	®
(Triangular hills logo)	®
NanoSight	®
NIBS(비침투적 후방 산란)	™
Oil-Trace	®
Omnian	®
OmniSEC 소프트웨어	®
OmniTrust	®
PANALYTICAL	®
帕纳科(PANALYTICAL의 중국어 표기)	®
パナリティカル(PANALYTICAL의 가타카나 표기)	®
PANalytical AERIS	®
PANalytical + 로고	®
PANTOS	™
PEAQ-ITC	®
PIXcel	®
PIXcel^1D:	®
PIXcel^3D:	®
PIXIRAD	®
QUALITYSPEC	®
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Spraytec	™
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SST-mAX	®
SUPER SHARP TUBE	®
Stratos	®
SuperQ	®
SyNIRgi	™
TERRASPEC	®
TheOx	®
Ultrasizer	™
VENUS MINILAB	™
ViewSpec	™
Viscogel	™
VISCOTEK	®
Viscotek SEC-MALS	™
WAVEchip	®
WAVEcore	®
waveRAPID	®
당사는 작은 규모이지만 큰 회사입니다.	®
(X 로고)	®
X’CELERATOR	®
X’pert³	®
ZETASIZER	®
ZETIUM	®
ZS Helix	™

특허

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특허 목록 최종 업데이트: 2025년 3월 20일

Mastersizer

특허 번호	특허 제목	기기
GB2494735B	광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E, Mastersizer 3000+ 제품군
CN104067105B(ZL201280042740.0) EP2756283B1(GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B2	광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000+ Ultra
US10837889B2 GB2494734B	광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법	Mastersizer 3000, Mastersizer 3000E, Mastersizer 3000+ 제품군
WO2024023498A2 EP4312015A1	입자 특성 분석	Mastersizer 3000+: Pro 및 Ultra
WO2024023497A1	데이터 품질	Mastersizer 3000+: Pro 및 Ultra
WO2024180386A1	입자 특성 분석	Mastersizer 3000+: Ultra

Zetasizer

특허 번호	특허 제목	기기
EP2467701B1(CH+LI, GB, FR, DE602010067652.8) CN102575984B(ZL201080036806.6) US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US11237106B2	개선된 단일 산란 모드 검출을 통해 복합 유체의 동적 광 산란 기반 미세유변학	Zetasizer Advance Range, Nano ZSP, Helix
CN103608671B(ZL201280027695.1) CN105891304B(ZL201610324224.7) EP2721399B1(BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP6023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US11079420B2	표면 전하 측정	제타 플레이트 셀 액세서리
US8702942B2 CN103339500B(ZL201180060863.2) EP2652490B1(GB, FR, DE602011046775.1) JP6006231B2 JP6453285B2 US10648945B2 US11988631B2	확산 장벽을 사용한 레이저 도플러 전기 영동법	Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1(GB, FR, DE602012018122.2) US9816922B2	미립자의 이중 모드 특성 분석	Zetasizer Helix
US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 US11435275B2 EP3353527B1(GB, FR, DE602016077138.1) JP6936229B2 CN108291861B(ZL201680068213.5) JP7361079B EP4215900A1	입자 특성	Zetasizer Advance 시리즈
US10119910B2	입자 특성 분석 기기	Zetasizer Advance: Ultra 및 Pro
US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1(GB, FR, DE602010066495.3)	입자 특성	Zetasizer Advance 액세서리
EP3521806B1(AT, FR, GB, DE602018077164.6) US11441991B2 CN111684261B(ZL201980011816.5) JP7320518B2	다각도 동적 광 산란	Zetasizer Advance: Ultra
설계: DM/100202(EM: D100202-0001, D100202-0002; GB: 81002020001000, 81002020002000; JP: JP1614066S; US: D878227S) CN304816039S(ZL201730635419.9)	입자 특성 분석 장치	Zetasizer Advance 시리즈

Insitec

특허 번호	특허 제목	기기
US7871194B2 EP1869429B1(GB, FR, DE602006060213.8)	희석 시스템 및 방법	Insitec(일부 제품)
EP2640499B1 (GB)	인라인 분산기와 분말 혼합 방법	Insitec dry

Morphologi

특허 번호	특허 제목	기기
EP2106536B1(GB, FR, DE602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2	이질성의 분광광도법 조사	Morphologi G3-ID, Morphologi 4-ID
GB2522735B JP6560849B2	분말 분산의 방법 및 장치	Morphologi G3-ID, Morphologi G3, Morphologi 4, Morphologi 4-ID
EP3510526B1(GB, FR, DE60217072468.8) US11068740B2 CN109716355B(ZL201780054158.9) JP7234106B2	입자 경계 식별	Morphologi 4, Morphologi 4-ID
US8004662B2 US8842266B2	의약품 혼합 평가	Morphologi 4-ID
설계: DM/100537(EM: D100 537-0001, D100 537-0002; GB: 81005370001000, 81005370002000; JP: JP1622788S, JP1623345S; US: D862261S1) CN304677453S(ZL201730616458.4)	측정 기기[시간 측정 외]	Morphologi 4, Morphologi 4-ID

Viscosizer

특허 번호	특허 제목	기기
US11113362B2 JP6917897B2 EP3274864A1 CN107430593B(ZL201680017577.0)	다중 성분 모델 매개변수화	Viscosizer TD

Hydro Sight

특허 번호	특허 제목	기기
CN104704343B(ZL201380044016.6) EP2864760B1(GB, FR, DE602013085354.1) US10509976B2	불균일 유체 샘플 특성 분석	Hydro Sight

NanoSight

특허 번호	특허 제목	기기
EP3071944B1(GB, FR, DE602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364B(ZL201480063550.6)	기기 보정 개선 또는 관련	NanoSight NS300, NanoSight Pro
WO2023148528A1 EP4476523A1 CN118984933A JP2025505204A	입자 분석	NanoSight Pro
WO2024094987A1	입자 특성 분석을 위한 장치 및 방법	NanoSight Pro

MicroCal ITC

특허 번호	특허 제목	기기
CN101855541B(ZL200880114826.3) EP2208057B1(CH+LI, GB, FR, DE602008065108.8) JP05542678B2 US8449175B2 US8827549B2	등온 적정 미세 열량측정계 장치 및 사용 방법	MicroCal ITC 시리즈
CN102232184B(ZL200980149081.9) EP2352993B1(CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1(CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776B1(CH+LI, GB, FR, DE602009065333.4)	자동 등온 적정 미세열랑측정계 장치 및 사용 방법	MicroCal ITC 시리즈

MicroCal DSC

특허 번호	특허 제목	기기
US8635045B2 CN103221808B(ZL201180057401.5) EP2646811B1(GB, FR, DE 602011071793.6) IN336472 JP5925798B2	열량 측정 데이터에서 자동 피크 찾기 방법	MicroCal DSC 시리즈
설계: DM/097302(EM: D097 302; GB: 80973020001000; JP: JP1619772S, JP1643496S; US: D826739S1) CN304227374S(ZL201730043139.9)	시차 주사 미세 열량계	PEAQ-DSC 제품군

OMNISEC

특허 번호	특허 제목	기기
US9759644B2 US10551291B2	평형 방식 모세관 브릿지 점도계	OMNISEC
US9612183B2 EP2619543B1(GB, FR, DE602011011174.4) JP5916734B2 CN103168223B(ZL201180046166.1) IN341558	모듈식 모세관 브릿지 점도계	OMNISEC

QualitySpec 7000

특허 번호	특허 제목	기기
US8164747B2 CA2667650C EP2092296B1(CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)	광학 분광 측정을 위한 장치, 시스템 및 방법	QualitySpec 7000

TerraSpec Halo

특허 번호	특허 제목	기기
US9207118B2	단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법	TerraSpec Halo

QualitySpec Trek

특허 번호	특허 제목	기기
US9207118B2	단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법	QualitySpec Trek

Floor standing XRF

특허 번호	특허 제목	기기
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B(ZL201010223406.8) EP2270410B1(GB, FR, NL, DE602009003389.1) AU2010202662B2	비드 용광로	Zetium Axios FAST Epsilon5
JP4950523B2	수차 교정 장치 및 방법	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS*
US7949092B2	X선 분석을 수행하는 장치 및 방법	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS
US9658352B2 CN104833557B(ZL201510120748.X) JP656263B2 JP6804594B2	표준 제조 방법	Zetium Axios FAST
EP2787342B1(GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	가압에 의한 샘플 펠릿 전처리	Zetium Axios FAST
US10107551B2 EP2966039B1(GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B(ZL201510504763.4)	플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리	Zetium Axios FAST
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B(ZL201610119027.1) EP3064931B1(GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정	Zetium* Axios FAST
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B(ZL201610121520.7) EP3064933B1(GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비	Zetium* Axios FAST
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B(ZL201610121518.X) EP3064932B1(GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	정량적 X선 분석 - 비율 보정	Zetium* Axios FAST
US9239305B2	샘플 홀더	Zetium* Axios FAST* Epsilon5
US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B(ZL200810127759.0)	X선 형광 장치	Zetium* Axios FAST* 2830 ZT(웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS*
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B(ZL200880018575.9) EP1983547B1(GB, FR, NL, DE602008000361D1)	금속 와이어 음극이 있는 X선 소스	Zetium Axios FAST 2830 ZT(웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B(ZL201610016276.8) EP3043371B2(GB, FR, NL, DE602015012421.9)	X선관 양극 배열	Zetium Axios FAST 2830 ZT(웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS
US10281414B2 EP3330701B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587B1(GB, FR, NL, DE602017061400.9) US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267B(ZL201711251653.7)	X선 측정을 위한 원뿔형 콜리메이터	Zetium*
* · 선택 사항/제품의 표준 아님

Benchtops XRF

특허 번호	특허 제목	기기
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B(ZL201010223406.8) EP2270410B1(GB, FR, NL, DE602009003389.1)	비드 용광로	Epsilon 1 제품군 Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션
JP4950523B2	수차 교정 장치 및 방법	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US7949092B2	X선 분석을 수행하는 장치 및 방법	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US9658352B2 CN104833557B(ZL201510120748.X) JP6562635B2 JP6804594B2	표준 제조 방법	Epsilon 1 제품군 Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션
EP2787342B1(GB, FR, NL, DE602013028642.6) JP6360151B2	가압에 의한 샘플 펠릿 전처리	Epsilon 1 제품군 Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션
US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B(ZL201510504763.4) EP2966039B1(GB, FR, NL, DE602014024004.2)	플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리	Epsilon 1 제품군 Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B(ZL201610119027.1) EP3064931B1(GB, FR, NL, CH, DE602016057221.4)	정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B(ZL201610121520.7) EP3064933B1(GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)	정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B(ZL201610121518.X) EP3064932B1(GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)	정량적 X선 분석 - 비율 보정	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US9239305B2	샘플 홀더	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US9547094B2 CN104849295B(ZL201510155965.2) EP2908127B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2	X선 분석 장치	Epsilon 1 제품군 Epsilon 3X 분광기 Epsilon 4 Air Quality 에디션
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B(ZL200880018575.9) EP1983547B1(GB, FR, NL, DE602008000361D1)	금속 와이어 음극이 있는 X선 소스	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B(ZL201610016276.8) EP3043371B2(GB, FR, NL, DE602015012421.9)	X선관 양극 배열	Epsilon 1 제품군* Epsilon 3X 분광기* Epsilon 4 Air Quality 에디션*
US11183355B2 EP3675148A1 JP7601502B2 CN111383876B(ZL201911390180.8)	X선관	Revontium
EP24169034.6(미공개)	반복 계산된 보완 배경 피팅	Revontium
EP24169094.0(미공개)	샘플 취급 장치	Revontium
* 선택 사항/제품의 표준 아님

Floor standing XRD

특허 번호	특허 제목	기기
JP4950523B2	수차 교정 장치 및 방법	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD(XL) CubiX³ 제품군
US9506880B2 CN104251870B(ZL201410299083.9) EP2818851B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	회절 이미징	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군#
US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B(ZL200910129197.8) EP2088451B1(GB, FR, NL, DE602008041760.3)	이미징 검출기	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군#
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)	이미징 검출기	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군#
US9110003B2 CN103383363B(ZL201310069293.4) EP2634566B1(GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2	미세 영역 회절	Empyrean# X'Pert³ Powder# X'Pert³ MRD(XL)# CubiX³ 제품군#
US9640292B2 CN104777179B(ZL201410833194.3) EP2896960B1(GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2	X선 장치	Empyrean X'Pert³ Powder CubiX³ 제품군
US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B(ZL200910134609.7) EP2090883B1(GB, FR, NL, DE602008002143D1)	포장 내 X선 검출	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD(XL)
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B(ZL201110072597.7) EP2365319B1(GB, FR, NL, DE602011055847.1)	X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영	Empyrean X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD(XL)* CubiX³ 제품군*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B(ZL200810095161.8) EP1947448B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	X선 산란용 X선 회절 장비	X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD(XL)*
US7477724B2	X선 장비	Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD(XL)* CubiX³ 제품군
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B(ZL201210007967.3) EP2477191B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	X선 셔터 배열	Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD(XL) CubiX³ 제품군
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B(ZL201610016276.8) EP3043371B1(GB, FR, NL, DE602015012421.9)	X선관 양극 배열	Empyrean* X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD(XL)* CubiX³ 제품군*
EP3553508A2 US11035805B2 JP7398875B2 CN110389142B(ZL201910295269.X)	X선 분석 장치 및 방법	Empyrean*
US10359376B2 EP3273229B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602017069169.0) JP6701133B2 CN107643308B(ZL201710593858.7)	X선 분석용 샘플 홀더	Empyrean*
US10782252B2 CN110376231A EP3553506A2 JP7258633B2	빔 발산의 하이브리드 제어를 통한 X선 분석 장치 및 방법	Empyrean*
US10753890B2 EP3372994B1(AT, CZ, GB, FR, NL, PL, DE602018003874.4) CN108572184B(ZL201810190461.8) JP6709814B2	고분해능 X선 회절 방법 및 장치	Empyrean*
EP3553509B1(AT, GB, FR, NL, DE602019017362.8) JP7208851B2 US10900912B2 CN110389143B(ZL201910300453.9)	X선 분석 장치	Empyrean*
US10352881B2 EP3343209B1(GB, FR, NL, DE602017032595.3) CN108240998B(ZL201711404282.1) JP6839645B2	컴퓨터 단층촬영	Empyrean*
US9753160B2 CN104285164B(ZL201380025271.6) EP2850458B1(GB, FR, NL, DE602013040524.7, IT502018000029139) JP6277351B2	디지털 X선 센서	Empyrean X'Pert³ CubiX³ 제품군
EP3719484B1(AT, CZ, FR, GB, NL, PL, DE602019046393.6, IT502024000012301) US12007343B1 CN113661389B(ZL202080027081.8) JP7503076B2	X선 성형 장치 및 방법	Empyrean*
EP4111184A1 US20230296538A1 CN116368379A JP2023538446A	X선 회절 분석 장치용 X선 검출기	Empyrean*(1Der 검출기 포함)
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	X선 회절의 전하 공유 식별	Empyrean*(1Der 검출기 포함)
* 선택 사항/제품의 표준 아님 # 특별 요청 시 제공

Benchtops XRD

특허 번호	특허 제목	기기
JP4950523B2	수차 교정 장치 및 방법	Aeris
US9506880B2 CN104251870B(ZL201410299083.9) EP2818851B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602013084303.1) JP6403452B2	회절 이미징	Aeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)	이미징 검출기	Aeris*
US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B(ZL201410833194.3) EP2896960B1(GB, FR, NL, DE602014012155.1)	X선 장치	Aeris
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B(ZL201110072597.7) EP2365319B1(GB, FR, NL, DE602011055847.1)	X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영	Aeris*
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B(ZL200810095161.8) EP1947448B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)	X선 산란용 X선 회절 장비	Aeris*
US7477724B2	X선 장비	Aeris*
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B(ZL201210007967.3) EP2477191B1(CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)	X선 셔터 배열	Aeris
US9911569B2 JP7154731B2 CN105810541B(ZL201610016276.8) EP3043371B1(GB, FR, NL, DE602015012421.9)	X선관 양극 배열	Aeris*
US10753890B2 EP3372994B1(AT, CZ, DE602018003874.4, GB, FR, NL, PL) CN108572184B(ZL201810190461.8) JP6709814B2	고분해능 X선 회절 방법 및 장치	Aeris*
EP4094073A1 US20230293127A1 CN116438449A JP2023538445A	X선 회절의 전하 공유 식별	Aeris*(1Der 검출기 포함)
* 선택 사항/제품의 표준 아님

샘플 준비

특허 번호	특허 제목	기기
WO2024164079A1	용융 시스템 및 이를 이용한 샘플 용융 수행 방법	FORJ
WO2024164080A1	용융 시스템 및 이를 이용한 샘플 용융 수행 방법	FORJ
WO2024164081A1	용융 시스템 및 이를 이용한 샘플 용융 수행 방법	FORJ
WO2024164082A1	용융 시스템 및 이를 이용한 샘플 용융 수행 방법	FORJ
WO2024164086A1	용융 시스템 및 이를 이용한 샘플 용융 수행 방법	FORJ*
WO2024164083A1	용융 장치용 알약 전달 시스템	FORJ*
설계: US 29/873,668(미공개) CA 224,605;235,581; 235,582; 235,583; 235,584; 235,585; 235,586; 235,587(모두 등록됨) DM/232583: EM, GB(모두 등록됨); BR(미공개) AU202316700 AU202410300 CN308681450S (ZL202330644590.1) ZA: A2023/01083, A2023/01084, A2023/01085, A2023/01086	샘플 홀더	FORJ 도가니 및/또는 몰드 카세트
* 선택 사항/제품의 표준 아님

WAVEsystem(Creoptix)

특허 번호	특허 제목	기기
EP3824469B1(CH+LI, GB, FR, SE, DE602019066157.6)	반응 네트워크의 동역학적 매개변수 계산 방법	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN113811771B(ZL202080036463.7) EP3969910B2(CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2022532479A US20220162697A1	분석 물질과 리간드 간 반응의 동역학적 매개변수 결정 방법	WAVEdelta, WAVEcontrol
CN115667930A EP4172625B2(CH+LI, FR, GB, SE, DE602021016832.2) JP2023531046A US20230273202A1	반응의 동역학적 매개변수 결정 방법	WAVEdelta, WAVEcontrol
EP3448564B1(CH+LI, FR, GB, SE, DE602017039989.2) CN108883414B(ZL201780021418.2) JP6846434B2 US11135581B2	분자 회수를 위한 방법 및 어셈블리	WAVEdelta
EP2137514B1(CH+LI, FR, GB, SE, DE502008016144.9) US8325347B2	통합형 광학 센서	WAVE, WAVEdelta, WAVEchip

BreakThrough Analyzer(BTA)

특허 번호	특허 제목	기기
10,487,954 B2 10,514,332	자동 검출기 교정 및 맞춤형 가스 혼합	BreakThrough Analyzer(BTA), AutoChem III

AutoChem III

특허 번호	특허 제목	기기
10,487,954 11,105,825 B2	샘플 반응기용 KwikConnect 밀봉 메커니즘	AutoChem III

AccuPyc III

특허 번호	특허 제목	기기
11,874,155 B2 미국 및 외국 특허 출원 중	가스 피크노미터 및 가스 흡착 분석기를 교정하기 위한 시스템 및 방법	AccuPyc III

AccuPore

특허 번호	특허 제목	기기
미국 및 해외 특허 출원 중	- -	AccuPore