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등록 상표

등록 상표표시
AERIS®
AERIS PANALYTICAL®
(ASD Inc) logo®
Archimedes®
AXIOS®
Bohlin
CHI-BLUE®
Claisse®
CUBIX®
CUBIX3 (superindex the 3)®
dCore
EAGON®
Eagon 2®
EASY SAXS®
EMPYREAN®
EPSILON®
EPSILON X-FLOW®
EXPERT SAXS®
EASY SAXS®
FieldSpec®
FIPA®
FLUOR’X®
GALIPIX 3D®
Gemini
goLab
HandHeld 2
HIGHSCORE®
Hydrosight
iCore
(i logo)®
Indico Pro
Insitec®
(Insitec logo)®
(Insitec Measurement Systems logo)®
ISys®
LabSizer
LabSpec®
LeNeo®
LeDoser
LeDoser-12
M3 PALS
M4
MADLS®
말번®
(Triangular hills logo + Malvern Instruments)®
Malvern in Chinese characters®
말번 인스트루먼트®
Malvern Instruments in Chinese characters®
Malvern Link
(Malvern Plus Hills Logo)®
Mastersizer®
Mastersizer 2000
MC (stylised)®
MDRS®
Microcal®
Morphologi®
(Triangular hills logo)®
Nanosight®
NIBS(비침투적 후방 산란)
OIL-TRACE®
OMNIAN®
OMNISEC®
PANALYTICAL®
PANALYTICAL LOGO (picture)®
PANTOS®
PEAQ-ITC®
PIXCEL®
PIXCEL 1D®
PIXCEL 3D®
QualitySpec®
(r logo)®
(Realogica logo)®
Spraytec
SST®
SST-MAX®
SUPER SHARP TUBE®
STRATOS®
SUPER Q®
SyNIRgi®
TerraSpec®
TheOx® Advanced®
Ultrasizer®
VENUS MINILAB®
ViewSpec
Viscogel®
Viscotek®
X’CELERATOR®
XPERT3 (superindex the 3)®
Zetasizer®
ZETIUM®
ZS Helix®

특허

Malvern Panalytical은 다음과 같은 특허 및 특허 응용분야에 의해 보호되는 다양한 시장 주도의 고유 제품을 보유하고 있습니다.

Mastersizer

특허 번호특허 제목기기
EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1)샘플 취급 시스템Hydro MV, Hydro LV, Hydro EV
GB2364774B
US6800251B2
입자 특성 분석 장치에 사용되는 샘플 취급 시스템Hydro MV, Hydro LV
GB2494735B광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치MS3000, MS3000E
CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0)
US9869625B2
JP6154812B
광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법MS3000, MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법MS3000, MS3000E

Zetasizer

특허 번호특허 제목기기
US7217350B2
표면 전하로 인한 이동성 및 효과Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
개선된 단일 산란 모드 검출을 통해 복합 유체의 동적 광 산란 기반 미세유변학Zetasizer Advance Range, Nano ZSP, Helix
CN103608671B
CN105891304B
EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
표면 전하 측정제타 플레이트 셀 액세서리
US8702942B2
CN103339500B
EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
확산 장벽을 사용한 레이저 도플러 전기 영동법Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2
미립자의 이중 모드 특성 분석Zetasizer Helix
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
입자 특성Zetasizer Advance range
US10119910B2입자 특성 분석 기기Zetasizer Advance: Ultra 및 Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
입자 특성Zetasizer Advance 액세서리
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
다각도 동적 광 산란Zetasizer Advance: Ultra

Insitec

특허 번호특허 제목기기
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
희석 시스템 및 방법Insitec(일부 제품)
US7871194B2
EP1869429A2
희석 시스템 및 방법Insitec(일부 제품)
EP2640499B1 (GB)인라인 분산기와 분말 혼합 방법Insitec dry

Morphologi

특허 번호특허 제목기기
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
이질성의 분광광도법 조사Morphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
분말 분산의 방법 및 장치Morphologi G3-ID, Morphologi G3

Viscosizer

특허 번호특허 제목기기
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
다중 성분 모델 매개변수화Viscosizer TD

Hydro Sight

특허 번호특허 제목기기
US8456633B2분광 공정 모니터링Hydro Sight
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
불균일 유체 샘플 특성 분석Hydro Sight

NanoSight

특허 번호특허 제목기기
US7751053B2
JP04002577B2
EP1499871B1 (FR, DE60335872.1)
GB2388189B
US7399600B2
입자 분석을 위한 광학적 검출NanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
기기 보정 개선 또는 관련NanoSight NS300

MicroCal ITC

특허 번호특허 제목기기
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
등온 적정 미세 열량측정계 장치 및 사용 방법MicroCal ITC 시리즈
CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
자동 등온 적정 미세열랑측정계 장치 및 사용 방법MicroCal ITC 시리즈

MicroCal DSC

특허 번호특허 제목기기
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
열량 측정 데이터에서 자동 피크 찾기 방법MicroCal DSC 시리즈

OMNISEC

특허 번호특허 제목기기
US9759644B2
US10551291B2
평형 방식 모세관 브릿지 점도계OMNISEC
US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
모듈식 모세관 브릿지 점도계OMNISEC

직립형 XRF

특허 번호특허 제목기기
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
비드 용광로Zetium
Axios FAST
Epsilon5
US6823043B2재료 매개변수 결정
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (웨이퍼 분석기)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7949092B2
X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (웨이퍼 분석기)*
Epsilon5*
SEMYOS
US6574305B2
샘플 상태 검사 장치 및 방법Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (웨이퍼 분석기)*
Epsilon5*
SEMYOS*
JP4111336B2X선으로 샘플 검사를 위한 장치
Epsilon5

US7042978B2재료 샘플의 검사Zetium*
Axios FAST*
Epsilon5
SEMYOS*
JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7)
Xuv 파장 범위에서 응용을 위한 측면 패턴을 가진 다층 구조 제조 방법과 이 방법에 따라 제조된 bf 및 Imag 구조Zetium*
Axios FAST
2830 ZT (웨이퍼 분석기)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
표준 제조 방법Zetium
Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
가압에 의한 샘플 펠릿 전처리Zetium
Axios FAST
US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리Zetium
Axios FAST
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정Zetium*
Axios FAST
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비Zetium*
Axios FAST
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
정량적 X선 분석 - 비율 보정Zetium*
Axios FAST
JP3936912B2액체의 X선 분석을 위한 플로팅 커버가 있는 샘플 용기Zetium
Axios FAST
2830 ZT (웨이퍼 분석기)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2샘플 홀더Zetium*
Axios FAST*
Epsilon5
US7978820B2
X선 회절 및 형광Zetium
Axios FAST*
2830 ZT (웨이퍼 분석기)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
X선 형광 장치Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (웨이퍼 분석기)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7194067B2
X선 광학 시스템Zetium
Axios FAST*
2830 ZT (웨이퍼 분석기)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
금속 와이어 음극이 있는 X선 소스Zetium
Axios FAST
2830 ZT (웨이퍼 분석기)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 선관 음극 배열
Zetium
Axios FAST
2830 ZT (웨이퍼 분석기)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
X선 측정을 위한 원뿔형 콜리메이터Zetium*
* · 선택 사항/제품의 표준 아님

Benchtops XRF

특허 번호특허 제목기기
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
비드 용광로Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계
Epsilon 4 Air Quality edition
US6823043B2재료 매개변수 결정
Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US7949092B2
X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US6574305B2
샘플 상태 검사 장치 및 방법Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US7042978B2재료 샘플의 검사Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US9658352B2
CN104833557B 
JP6562635B2
JP6804594B2
표준 제조 방법Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계
Epsilon 4 Air Quality edition
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
가압에 의한 샘플 펠릿 전처리Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계
Epsilon 4 Air Quality edition
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B 
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계
Epsilon 4 Air Quality edition
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B 
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)
정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
정량적 X선 분석 - 비율 보정Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
JP3936912B2액체의 X선 분석을 위한 플로팅 커버가 있는 샘플 용기Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계
Epsilon 4 Air Quality edition
US9239305B2샘플 홀더Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US9547094B2
CN104849295B
EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2)
JP6526983B2
X선 분석 장치
Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계
Epsilon 4 Air Quality edition
US7978820B2
X선 회절 및 형광Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US7194067B2
X선 광학 시스템Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
금속 와이어 음극이 있는 X선 소스Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 선관 음극 배열
Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계*
Epsilon 4 Air Quality Edition*
* 선택 사항/제품의 표준 아님

Floor standing XRD

특허 번호특허 제목기기
US6815684B2
고체상 위치 감지 X선 검출기가 있는 분석 X선 장비Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
CubiX³ 제품군
US6823043B2재료 매개변수 결정
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US6574305B2
샘플 상태 검사 장치 및 방법Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
회절 이미징Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US7116754B2회절분석기Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
회절분석기
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
이미징 검출기Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)이미징 검출기Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US9110003B2
CN103383363B
EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2)
JP6198406B2
미세회절
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
CubiX³ 제품군
US6704390B2
다층 미러와 exit 콜리메이터가 함께 제공되는 X선 분석 장치Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US9640292B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
JP6564683B2
X선 장치
Empyrean
X'Pert³ Powder
CubiX³ 제품군
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)
포장 내 X선 검출
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영Empyrean
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
X선 산란용 X선 회절 장비
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)X선 회절분석기Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
X선 장비Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군
US7194067B2
X선 광학 시스템Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
X선 셔터 배열Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
CubiX³ 제품군
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 선관 음극 배열
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
CubiX³ 제품군*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
X선 분석 장치 및 방법Empyrean*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
X선 분석용 샘플 홀더Empyrean*
* 선택 사항/제품의 표준 아님

QualitySpec 7000

특허 번호특허 제목기기
US8164747B2
CA2667650C
EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)
광학 분광 측정을 위한 장치, 시스템 및 방법QualitySpec 7000

TerraSpec Halo

특허 번호특허 제목기기
US9207118B2단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법TerraSpec Halo

QualitySpec Trek

특허 번호특허 제목기기
US9207118B2단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법QualitySpec Trek

Benchtops XRD

특허 번호특허 제목기기
US6815684B2
고체상 위치 감지 X선 검출기가 있는 분석 X선 장비Aeris*
US6823043B2재료 매개변수 결정
Aeris*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
회절 이미징Aeris*
US7116754B2회절분석기Aeris*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
회절분석기Aeris*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
이미징 검출기Aeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)이미징 검출기Aeris*
US6704390B2
다층 미러와 exit 콜리메이터가 함께 제공되는 X선 분석 장치Aeris*
US9640292B2
JP6564572B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
X선 장치Aeris
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영Aeris*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
X선 산란용 X선 회절 장비
Aeris*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)X선 회절분석기Aeris*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
X선 장비Aeris*
US7194067B2
X선 광학 시스템Aeris*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
X선 셔터 배열Aeris
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
X 선관 음극 배열
Aeris*

* 선택 사항/제품의 표준 아님