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등록 상표
등록 상표 | 표시 |
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AERIS | ® |
AERIS PANALYTICAL | ® |
(ASD Inc) logo | ® |
Archimedes | ® |
AXIOS | ® |
Bohlin | ™ |
CHI-BLUE | ® |
Claisse | ® |
CUBIX | ® |
CUBIX3 (superindex the 3) | ® |
dCore | ™ |
EAGON | ® |
Eagon 2 | ® |
EASY SAXS | ® |
EMPYREAN | ® |
EPSILON | ® |
EPSILON X-FLOW | ® |
EXPERT SAXS | ® |
EASY SAXS | ® |
FieldSpec | ® |
FIPA | ® |
FLUOR’X | ® |
GALIPIX 3D | ® |
Gemini | ™ |
goLab | ™ |
HandHeld 2 | ™ |
HIGHSCORE | ® |
Hydrosight | ™ |
iCore | ™ |
(i logo) | ® |
Indico Pro | ™ |
Insitec | ® |
(Insitec logo) | ® |
(Insitec Measurement Systems logo) | ® |
ISys | ® |
LabSizer | ™ |
LabSpec | ® |
LeNeo | ® |
LeDoser | ™ |
LeDoser-12 | ™ |
M3 PALS | ™ |
M4 | ™ |
MADLS | ® |
말번 | ® |
(Triangular hills logo + Malvern Instruments) | ® |
Malvern in Chinese characters | ® |
말번 인스트루먼트 | ® |
Malvern Instruments in Chinese characters | ® |
Malvern Link | ™ |
(Malvern Plus Hills Logo) | ® |
Mastersizer | ® |
Mastersizer 2000 | ™ |
MC (stylised) | ® |
MDRS | ® |
Microcal | ® |
Morphologi | ® |
(Triangular hills logo) | ® |
Nanosight | ® |
NIBS(비침투적 후방 산란) | ™ |
OIL-TRACE | ® |
OMNIAN | ® |
OMNISEC | ® |
PANALYTICAL | ® |
PANALYTICAL LOGO (picture) | ® |
PANTOS | ® |
PEAQ-ITC | ® |
PIXCEL | ® |
PIXCEL 1D | ® |
PIXCEL 3D | ® |
QualitySpec | ® |
(r logo) | ® |
(Realogica logo) | ® |
Spraytec | ™ |
SST | ® |
SST-MAX | ® |
SUPER SHARP TUBE | ® |
STRATOS | ® |
SUPER Q | ® |
SyNIRgi | ® |
TerraSpec | ® |
TheOx® Advanced | ® |
Ultrasizer | ® |
VENUS MINILAB | ® |
ViewSpec | ™ |
Viscogel | ® |
Viscotek | ® |
X’CELERATOR | ® |
XPERT3 (superindex the 3) | ® |
Zetasizer | ® |
ZETIUM | ® |
ZS Helix | ® |
특허
Malvern Panalytical은 다음과 같은 특허 및 특허 응용분야에 의해 보호되는 다양한 시장 주도의 고유 제품을 보유하고 있습니다.
Mastersizer
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1) | 샘플 취급 시스템 | Hydro MV, Hydro LV, Hydro EV |
GB2364774B
US6800251B2 | 입자 특성 분석 장치에 사용되는 샘플 취급 시스템 | Hydro MV, Hydro LV |
GB2494735B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 | MS3000, MS3000E |
CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법 | MS3000, MS3000E |
US10837889B2
GB2494734B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법 | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US7217350B2
| 표면 전하로 인한 이동성 및 효과 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix |
EP2467701A1
CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US20200096443A1 | 개선된 단일 산란 모드 검출을 통해 복합 유체의 동적 광 산란 기반 미세유변학 | Zetasizer Advance Range, Nano ZSP, Helix |
CN103608671B
CN105891304B EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP06023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US20200072888A1 | 표면 전하 측정 | 제타 플레이트 셀 액세서리 |
US8702942B2
CN103339500B EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 | 확산 장벽을 사용한 레이저 도플러 전기 영동법 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP |
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2 | 미립자의 이중 모드 특성 분석 | Zetasizer Helix |
US10197485B2
US10520412B2 US10845287B2 EP3353527A1 JP2018535429A CN108291861A | 입자 특성 | Zetasizer Advance range |
US10119910B2 | 입자 특성 분석 기기 | Zetasizer Advance: Ultra 및 Pro |
US8675197B2
JP6059872B2 EP2404157B1 | 입자 특성 | Zetasizer Advance 액세서리 |
EP3521806A1
US20210063295A1 CN111684261A WO2019154882A1 | 다각도 동적 광 산란 | Zetasizer Advance: Ultra |
Insitec
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US7418881B2
EP1592957B1 (GB) | 희석 시스템 및 방법 | Insitec(일부 제품) |
US7871194B2
EP1869429A2 | 희석 시스템 및 방법 | Insitec(일부 제품) |
EP2640499B1 (GB) | 인라인 분산기와 분말 혼합 방법 | Insitec dry |
Morphologi
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2 US8564774B2 | 이질성의 분광광도법 조사 | Morphologi G3-ID |
GB2522735B
JP6560849B2 | 분말 분산의 방법 및 장치 | Morphologi G3-ID, Morphologi G3 |
Viscosizer
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US2018067901A1
JP2018511129A EP3274864A1 CN107430593A | 다중 성분 모델 매개변수화 | Viscosizer TD |
Hydro Sight
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US8456633B2 | 분광 공정 모니터링 | Hydro Sight |
CN104704343B
EP2864760A2 US10509976B2 | 불균일 유체 샘플 특성 분석 | Hydro Sight |
NanoSight
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US7751053B2
JP04002577B2 EP1499871B1 (FR, DE60335872.1) GB2388189B US7399600B2 | 입자 분석을 위한 광학적 검출 | NanoSight NS300
NanoSight NS500 NanoSight LM10 |
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364A | 기기 보정 개선 또는 관련 | NanoSight NS300 |
MicroCal ITC
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
CN101855541B
EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175C1 US8827549C1 | 등온 적정 미세 열량측정계 장치 및 사용 방법 | MicroCal ITC 시리즈 |
CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 | 자동 등온 적정 미세열랑측정계 장치 및 사용 방법 | MicroCal ITC 시리즈 |
MicroCal DSC
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US8635045B2
CN103221808B EP2646811A1 IN336472 JP5925798B2 | 열량 측정 데이터에서 자동 피크 찾기 방법 | MicroCal DSC 시리즈 |
OMNISEC
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US9759644B2
US10551291B2 | 평형 방식 모세관 브릿지 점도계 | OMNISEC |
US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 | 모듈식 모세관 브릿지 점도계 | OMNISEC |
직립형 XRF
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) | 비드 용광로 | Zetium
Axios FAST Epsilon5 |
US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
US7949092B2
| X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS |
US6574305B2
| 샘플 상태 검사 장치 및 방법 | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
JP4111336B2 | X선으로 샘플 검사를 위한 장치
| Epsilon5
|
US7042978B2 | 재료 샘플의 검사 | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 SEMYOS* |
JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7) | Xuv 파장 범위에서 응용을 위한 측면 패턴을 가진 다층 구조 제조 방법과 이 방법에 따라 제조된 bf 및 Imag 구조 | Zetium*
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
US9658352B2
CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 | 표준 제조 방법 | Zetium
Axios FAST |
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 가압에 의한 샘플 펠릿 전처리 | Zetium
Axios FAST |
US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B | 플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리 | Zetium
Axios FAST |
US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE) | 정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정 | Zetium*
Axios FAST |
US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE) | 정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비 | Zetium*
Axios FAST |
US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 정량적 X선 분석 - 비율 보정 | Zetium*
Axios FAST |
JP3936912B2 | 액체의 X선 분석을 위한 플로팅 커버가 있는 샘플 용기 | Zetium
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
US9239305B2 | 샘플 홀더 | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 |
US7978820B2
| X선 회절 및 형광 | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
US7720192B2
JP5574575B2 CN101311708B | X선 형광 장치 | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 금속 와이어 음극이 있는 X선 소스 | Zetium
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Zetium
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587A1 US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A | X선 측정을 위한 원뿔형 콜리메이터 | Zetium* |
* · 선택 사항/제품의 표준 아님 |
Benchtops XRF
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) | 비드 용광로 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US7949092B2
| X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US6574305B2
| 샘플 상태 검사 장치 및 방법 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US7042978B2 | 재료 샘플의 검사 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US9658352B2
CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 | 표준 제조 방법 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 가압에 의한 샘플 펠릿 전처리 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
US10107551B2
JP6559486B2 CN105258987B EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) | 플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE) | 정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 정량적 X선 분석 - 비율 보정 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
JP3936912B2 | 액체의 X선 분석을 위한 플로팅 커버가 있는 샘플 용기 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
US9239305B2 | 샘플 홀더 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US9547094B2
CN104849295B EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2 | X선 분석 장치
| Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
US7978820B2
| X선 회절 및 형광 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 금속 와이어 음극이 있는 X선 소스 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
* 선택 사항/제품의 표준 아님 |
Floor standing XRD
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
---|---|---|
US6815684B2
| 고체상 위치 감지 X선 검출기가 있는 분석 X선 장비 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 제품군 |
US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US6574305B2
| 샘플 상태 검사 장치 및 방법 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | 회절 이미징 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US7116754B2 | 회절분석기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US8488740B2
JP6009156B2 CN102565108B EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3) | 회절분석기
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3) | 이미징 검출기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2) | 이미징 검출기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US9110003B2
CN103383363B EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2 | 미세회절
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 제품군 |
US6704390B2
| 다층 미러와 exit 콜리메이터가 함께 제공되는 X선 분석 장치 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US9640292B2
CN104777179B EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2 | X선 장치
| Empyrean
X'Pert³ Powder CubiX³ 제품군 |
US7756248B2
JP5145263B2 CN101545873B EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1) | 포장 내 X선 검출
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) |
US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영 | Empyrean
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X선 산란용 X선 회절 장비
| X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)* |
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0) | X선 회절분석기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) | X선 장비 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군 |
US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X선 셔터 배열 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 제품군 |
US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
EP3553508A2
US20190317030A1 JP2019184609A CN110389142A | X선 분석 장치 및 방법 | Empyrean* |
US10359376B2
EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308A | X선 분석용 샘플 홀더 | Empyrean* |
* 선택 사항/제품의 표준 아님 |
QualitySpec 7000
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
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US8164747B2
CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6) | 광학 분광 측정을 위한 장치, 시스템 및 방법 | QualitySpec 7000 |
TerraSpec Halo
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
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US9207118B2 | 단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법 | TerraSpec Halo |
QualitySpec Trek
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
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US9207118B2 | 단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법 | QualitySpec Trek |
Benchtops XRD
특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
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US6815684B2
| 고체상 위치 감지 X선 검출기가 있는 분석 X선 장비 | Aeris*
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US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Aeris*
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US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | 회절 이미징 | Aeris*
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US7116754B2 | 회절분석기 | Aeris*
|
US8488740B2
JP6009156B2 CN102565108B EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3) | 회절분석기 | Aeris* |
US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3) | 이미징 검출기 | Aeris* |
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2) | 이미징 검출기 | Aeris*
|
US6704390B2
| 다층 미러와 exit 콜리메이터가 함께 제공되는 X선 분석 장치 | Aeris* |
US9640292B2
JP6564572B2 CN104777179B EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) | X선 장치 | Aeris |
US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영 | Aeris*
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US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X선 산란용 X선 회절 장비
| Aeris*
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EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0) | X선 회절분석기 | Aeris*
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US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) | X선 장비 | Aeris*
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US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Aeris*
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US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X선 셔터 배열 | Aeris
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US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Aeris*
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* 선택 사항/제품의 표준 아님 |