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등록 상표
| 등록 상표 | 표시 |
|---|---|
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ® |
| (ASD Inc) logo | ® |
| Archimedes | ® |
| AXIOS | ® |
| Bohlin | ™ |
| CHI-BLUE | ® |
| Claisse | ® |
| CUBIX | ® |
| CUBIX3 (superindex the 3) | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ® |
| EASY SAXS | ® |
| EMPYREAN | ® |
| EPSILON | ® |
| EPSILON X-FLOW | ® |
| EXPERT SAXS | ® |
| EASY SAXS | ® |
| FieldSpec | ® |
| FIPA | ® |
| FLUOR’X | ® |
| GALIPIX 3D | ® |
| Gemini | ™ |
| goLab | ™ |
| HandHeld 2 | ™ |
| HIGHSCORE | ® |
| Hydrosight | ™ |
| iCore | ™ |
| (i logo) | ® |
| Indico Pro | ™ |
| Insitec | ® |
| (Insitec logo) | ® |
| (Insitec Measurement Systems logo) | ® |
| ISys | ® |
| LabSizer | ™ |
| LabSpec | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| M3 PALS | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| 말번 | ® |
| (Triangular hills logo + Malvern Instruments) | ® |
| Malvern in Chinese characters | ® |
| 말번 인스트루먼트 | ® |
| Malvern Instruments in Chinese characters | ® |
| Malvern Link | ™ |
| (Malvern Plus Hills Logo) | ® |
| Mastersizer | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC (stylised) | ® |
| MDRS | ® |
| Microcal | ® |
| Morphologi | ® |
| (Triangular hills logo) | ® |
| Nanosight | ® |
| NIBS(비침투적 후방 산란) | ™ |
| OIL-TRACE | ® |
| OMNIAN | ® |
| OMNISEC | ® |
| PANALYTICAL | ® |
| PANALYTICAL LOGO (picture) | ® |
| PANTOS | ® |
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXCEL | ® |
| PIXCEL 1D | ® |
| PIXCEL 3D | ® |
| QualitySpec | ® |
| (r logo) | ® |
| (Realogica logo) | ® |
| Spraytec | ™ |
| SST | ® |
| SST-MAX | ® |
| SUPER SHARP TUBE | ® |
| STRATOS | ® |
| SUPER Q | ® |
| SyNIRgi | ® |
| TerraSpec | ® |
| TheOx® Advanced | ® |
| Ultrasizer | ® |
| VENUS MINILAB | ® |
| ViewSpec | ™ |
| Viscogel | ® |
| Viscotek | ® |
| X’CELERATOR | ® |
| XPERT3 (superindex the 3) | ® |
| Zetasizer | ® |
| ZETIUM | ® |
| ZS Helix | ® |
특허
Malvern Panalytical은 다음과 같은 특허 및 특허 응용분야에 의해 보호되는 다양한 시장 주도의 고유 제품을 보유하고 있습니다.
Mastersizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1) | 샘플 취급 시스템 | Hydro MV, Hydro LV, Hydro EV |
| GB2364774B
US6800251B2 | 입자 특성 분석 장치에 사용되는 샘플 취급 시스템 | Hydro MV, Hydro LV |
| GB2494735B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 | MS3000, MS3000E |
| CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법 | MS3000, MS3000E |
| US10837889B2
GB2494734B | 광 산란을 통한 입자 크기 분포 측정 장치 및 방법 | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7217350B2
| 표면 전하로 인한 이동성 및 효과 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix |
| EP2467701A1
CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US20200096443A1 | 개선된 단일 산란 모드 검출을 통해 복합 유체의 동적 광 산란 기반 미세유변학 | Zetasizer Advance Range, Nano ZSP, Helix |
| CN103608671B
CN105891304B EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268) JP06023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US20200072888A1 | 표면 전하 측정 | 제타 플레이트 셀 액세서리 |
| US8702942B2
CN103339500B EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 | 확산 장벽을 사용한 레이저 도플러 전기 영동법 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP |
| EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2 | 미립자의 이중 모드 특성 분석 | Zetasizer Helix |
| US10197485B2
US10520412B2 US10845287B2 EP3353527A1 JP2018535429A CN108291861A | 입자 특성 | Zetasizer Advance range |
| US10119910B2 | 입자 특성 분석 기기 | Zetasizer Advance: Ultra 및 Pro |
| US8675197B2
JP6059872B2 EP2404157B1 | 입자 특성 | Zetasizer Advance 액세서리 |
| EP3521806A1
US20210063295A1 CN111684261A WO2019154882A1 | 다각도 동적 광 산란 | Zetasizer Advance: Ultra |
Insitec
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7418881B2
EP1592957B1 (GB) | 희석 시스템 및 방법 | Insitec(일부 제품) |
| US7871194B2
EP1869429A2 | 희석 시스템 및 방법 | Insitec(일부 제품) |
| EP2640499B1 (GB) | 인라인 분산기와 분말 혼합 방법 | Insitec dry |
Morphologi
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2 US8564774B2 | 이질성의 분광광도법 조사 | Morphologi G3-ID |
| GB2522735B
JP6560849B2 | 분말 분산의 방법 및 장치 | Morphologi G3-ID, Morphologi G3 |
Viscosizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US2018067901A1
JP2018511129A EP3274864A1 CN107430593A | 다중 성분 모델 매개변수화 | Viscosizer TD |
Hydro Sight
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8456633B2 | 분광 공정 모니터링 | Hydro Sight |
| CN104704343B
EP2864760A2 US10509976B2 | 불균일 유체 샘플 특성 분석 | Hydro Sight |
NanoSight
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7751053B2
JP04002577B2 EP1499871B1 (FR, DE60335872.1) GB2388189B US7399600B2 | 입자 분석을 위한 광학적 검출 | NanoSight NS300
NanoSight NS500 NanoSight LM10 |
| EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364A | 기기 보정 개선 또는 관련 | NanoSight NS300 |
MicroCal ITC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| CN101855541B
EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175C1 US8827549C1 | 등온 적정 미세 열량측정계 장치 및 사용 방법 | MicroCal ITC 시리즈 |
| CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 | 자동 등온 적정 미세열랑측정계 장치 및 사용 방법 | MicroCal ITC 시리즈 |
MicroCal DSC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8635045B2
CN103221808B EP2646811A1 IN336472 JP5925798B2 | 열량 측정 데이터에서 자동 피크 찾기 방법 | MicroCal DSC 시리즈 |
OMNISEC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9759644B2
US10551291B2 | 평형 방식 모세관 브릿지 점도계 | OMNISEC |
| US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 | 모듈식 모세관 브릿지 점도계 | OMNISEC |
직립형 XRF
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) | 비드 용광로 | Zetium
Axios FAST Epsilon5 |
| US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7949092B2
| X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
| Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS |
| US6574305B2
| 샘플 상태 검사 장치 및 방법 | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| JP4111336B2 | X선으로 샘플 검사를 위한 장치
| Epsilon5
|
| US7042978B2 | 재료 샘플의 검사 | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 SEMYOS* |
| JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7) | Xuv 파장 범위에서 응용을 위한 측면 패턴을 가진 다층 구조 제조 방법과 이 방법에 따라 제조된 bf 및 Imag 구조 | Zetium*
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US9658352B2
CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 | 표준 제조 방법 | Zetium
Axios FAST |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 가압에 의한 샘플 펠릿 전처리 | Zetium
Axios FAST |
| US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B | 플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리 | Zetium
Axios FAST |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE) | 정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정 | Zetium*
Axios FAST |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE) | 정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비 | Zetium*
Axios FAST |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 정량적 X선 분석 - 비율 보정 | Zetium*
Axios FAST |
| JP3936912B2 | 액체의 X선 분석을 위한 플로팅 커버가 있는 샘플 용기 | Zetium
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US9239305B2 | 샘플 홀더 | Zetium*
Axios FAST* Epsilon5 |
| US7978820B2
| X선 회절 및 형광 | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7720192B2
JP5574575B2 CN101311708B | X선 형광 장치 | Zetium*
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Zetium
Axios FAST* 2830 ZT (웨이퍼 분석기)* Epsilon5* SEMYOS* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 금속 와이어 음극이 있는 X선 소스 | Zetium
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Zetium
Axios FAST 2830 ZT (웨이퍼 분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587A1 US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A | X선 측정을 위한 원뿔형 콜리메이터 | Zetium* |
| * · 선택 사항/제품의 표준 아님 | ||
Benchtops XRF
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8210000B2
JP5554163B2 CN101941789B EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1) | 비드 용광로 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
| US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US7949092B2
| X선 분석을 수행하는 장치 및 방법
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US6574305B2
| 샘플 상태 검사 장치 및 방법 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US7042978B2 | 재료 샘플의 검사 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US9658352B2
CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 | 표준 제조 방법 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
| EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2 | 가압에 의한 샘플 펠릿 전처리 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
| US10107551B2
JP6559486B2 CN105258987B EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2) | 플럭스 및 백금 도가니를 사용한 XRF용 샘플 전처리 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
| US9784699B2
JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE) | 정량적 X선 분석 - 매트릭스 두께 보정 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US9739730B2
JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9) | 정량적 X선 분석 - 다중 광학 경로 장비 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US9851313B2
JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9) | 정량적 X선 분석 - 비율 보정 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| JP3936912B2 | 액체의 X선 분석을 위한 플로팅 커버가 있는 샘플 용기 | Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
| US9239305B2 | 샘플 홀더 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US9547094B2
CN104849295B EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2 | X선 분석 장치
| Epsilon 1 제품군
Epsilon 3X 분광계 Epsilon 4 Air Quality edition |
| US7978820B2
| X선 회절 및 형광 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US8223923B2
JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1) | 금속 와이어 음극이 있는 X선 소스 | Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Epsilon 1 제품군*
Epsilon 3X 분광계* Epsilon 4 Air Quality Edition* |
| * 선택 사항/제품의 표준 아님 | ||
Floor standing XRD
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US6815684B2
| 고체상 위치 감지 X선 검출기가 있는 분석 X선 장비 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 제품군 |
| US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US6574305B2
| 샘플 상태 검사 장치 및 방법 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | 회절 이미징 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US7116754B2 | 회절분석기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US8488740B2
JP6009156B2 CN102565108B EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3) | 회절분석기
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3) | 이미징 검출기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2) | 이미징 검출기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US9110003B2
CN103383363B EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2 | 미세회절
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 제품군 |
| US6704390B2
| 다층 미러와 exit 콜리메이터가 함께 제공되는 X선 분석 장치 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US9640292B2
CN104777179B EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2 | X선 장치
| Empyrean
X'Pert³ Powder CubiX³ 제품군 |
| US7756248B2
JP5145263B2 CN101545873B EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1) | 포장 내 X선 검출
| Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영 | Empyrean
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X선 산란용 X선 회절 장비
| X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)* |
| EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0) | X선 회절분석기 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) | X선 장비 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군 |
| US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X선 셔터 배열 | Empyrean
X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) CubiX³ 제품군 |
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Empyrean*
X'Pert³ Powder* X'Pert³ MRD (XL)* CubiX³ 제품군* |
| EP3553508A2
US20190317030A1 JP2019184609A CN110389142A | X선 분석 장치 및 방법 | Empyrean* |
| US10359376B2
EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308A | X선 분석용 샘플 홀더 | Empyrean* |
| * 선택 사항/제품의 표준 아님 | ||
QualitySpec 7000
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8164747B2
CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6) | 광학 분광 측정을 위한 장치, 시스템 및 방법 | QualitySpec 7000 |
TerraSpec Halo
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법 | TerraSpec Halo |
QualitySpec Trek
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 단색광 분광기 및 다이오드 어레이 분광계 기기 스캔 장치, 시스템 및 방법 | QualitySpec Trek |
Benchtops XRD
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US6815684B2
| 고체상 위치 감지 X선 검출기가 있는 분석 X선 장비 | Aeris*
|
| US6823043B2 | 재료 매개변수 결정
| Aeris*
|
| US9506880B2
CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 | 회절 이미징 | Aeris*
|
| US7116754B2 | 회절분석기 | Aeris*
|
| US8488740B2
JP6009156B2 CN102565108B EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3) | 회절분석기 | Aeris* |
| US7858945B2
JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3) | 이미징 검출기 | Aeris* |
| EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2) | 이미징 검출기 | Aeris*
|
| US6704390B2
| 다층 미러와 exit 콜리메이터가 함께 제공되는 X선 분석 장치 | Aeris* |
| US9640292B2
JP6564572B2 CN104777179B EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) | X선 장치 | Aeris |
| US8477904B2
JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1) | X선 회절 및 컴퓨터 단층촬영 | Aeris*
|
| US7542547B2
JP5280057B2 CN101256160B EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1) | X선 산란용 X선 회절 장비
| Aeris*
|
| EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0) | X선 회절분석기 | Aeris*
|
| US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) | X선 장비 | Aeris*
|
| US7194067B2
| X선 광학 시스템 | Aeris*
|
| US8437451B2
JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1) | X선 셔터 배열 | Aeris
|
| US9911569B2
JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9) | X 선관 음극 배열
| Aeris*
|
* 선택 사항/제품의 표준 아님 | ||