Malvern Panalytical에서는 원소 및 박막 두께 측정용 X선 형광 분광기 및 관련 제품을 다양하게 제공합니다. 이러한 XRF 분석기는 다양한 분석 및 처리량 요구 사항 및 운영 환경에 적합합니다. 에너지 분산형 탁상용 XRF 시스템부터 고성능 파장 분산형 XRF 시스템과 반도체 측정 제품까지 다양한 분광계가 있습니다.
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Find out more원소 조성 분석용 전문가 XRF 분광기
Malvern Panalytical에서는 원소 및 박막 두께 측정용 X선 형광 분광기 및 관련 제품을 다양하게 제공합니다. 이러한 XRF 분석기는 다양한 분석 및 처리량 요구 사항 및 운영 환경에 적합합니다. 에너지 분산형 탁상용 XRF 시스템부터 고성능 파장 분산형 XRF 시스템과 반도체 측정 제품까지 다양한 분광계가 있습니다.
XRF 분광기는 특정 유형의 X선 형광 분석을 위해 전용 소프트웨어 옵션으로 구성할 수 있습니다. 애플리케이션 모듈(애플리케이션 구성, 교정 및 표준)과 결합하거나 패키지를 샘플 준비 제품과 함께 사용하면 종합적인 분석 솔루션이 완성됩니다. 사후 및 고객 서비스 조직에서 모든 Malvern Panalytical 제품을 지원합니다.
분광기를 적용할 수 있는 XRF 응용 분야에 대한 자세한 내용을 당시 지식 센터에서 확인할 수 있습니다.
![]() Zetium구성요소의 탁월함 |
![]() Epsilon 1작고 강력한 휴대용 XRF 분석기 |
![]() Epsilon 4신속하고 정확한 앳라인 원소 분석 |
![]() Epsilon Xflow생산 공정에 대한 직접적인 통찰력 |
![]() 2830 ZT고급 반도체 박막 계측학 솔루션 |
![]() Axios FAST고속 샘플 처리 |
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측정 유형 | ||||||
박막 계측학 | ||||||
원소 분석 | ||||||
오염물 검출 및 분석 | ||||||
원소 정량화 | ||||||
입자의 화학적 성분 | ||||||
기술 유형 | ||||||
X-ray Fluorescence (XRF) | ||||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||||
원소 범위 | Be-Am | Na-Am | F-Am | Na-Am | B-Am | B-Am |
LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
해상도(Mg-Ka) | 35eV | 135eV | 135eV | 135eV | 35eV | 35eV |
샘플 처리량 | 160per 8h day - 240per 8h day | Up to - 80per 8h day | Up to - 160per 8h day | on-line | up to 25 wafers per hour | 240per 8h day - 480per 8h day |