Epsilon 4

신속하고 정확한 앳라인 원소 분석

  • 다기능 벤치탑 XRF 분석기 
  • R 영역의 불소(F)에서 아메리슘(Am)까지의 원소 분석
  • 업계 맞춤형 에디션 및 소프트웨어

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개요

입증된 Epsilon 3 XRF 분광기 제품군의 경험과 성공에 기반하여 개발된 Epsilon 4는 불소(F)에서 아메리슘(Am)에 이르는 원소 분석이 필요한 모든 산업 분야에서 연구개발에서부터 공정 관리에 이르는 용도로 사용할 수 있는 다기능 벤치톱 XRF 분석기입니다. 

최신 여기 및 검출 기술과 함께 다기능 소프트웨어와 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 XRF 분광기의 성능에 근접합니다.

Industry 에디션

특징

  • 유연성이 높은 구성: Epsilon 4는 연구개발에서부터 공정 관리에 이르기까지 원소 분석(F – Am)을 위해 10와트 버전에서 사용 가능한 유연성이 높은 분석 도구입니다. 더 높은 처리량 또는 더욱 다양한 경원소 분석 범위가 요구되거나 더욱 까다로운 환경인 경우 탄소, 질소 및 산소 분석도 가능한 15와트 버전도 사용할 수 있습니다.

  • 최신 기술의 적용: Epsilon 4 기기는 최신 여기 및 검출 기술에 최첨단 분석 소프트웨어가 결합된 기기입니다. 15와트 X선 선관은 높은 전류(3mA)의 최신 실리콘 드리프트 검출기 SDD30 및 소형 광 경로 설계를 결합하여 50와트 전력의 EDXRF 또는 벤치톱 WDXRF 시스템보다 우수한 분석 성능을 제공하며 전력 효율도 더욱 향상되었습니다.

  • 더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도: 더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다. 검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.

  • 헬륨 소모량 감소: Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

사양

샘플 처리

샘플 용량 10개 위치의 탈착식 샘플 교체기
샘플 크기 분광기에 최대 52mm(2인치) 직경의 샘플 수용 가능
Features 공기 필터 분석의 정확도를 높이기 위해 스피너 포함
최대 10cm 높이의 크기가 더 큰 샘플 분석을 위한 대형 샘플 모드

X선관

Features 금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공
경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창
Tube setting P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관

검출기

검출기 유형 고분해능 실리콘 드리프트 검출기(SDD), 일반적으로 135eV @ Mn-Kα
Features 50% 불감 시간(dead time)에서 최대 1,500,000회/s의 계수율
높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창

소프트웨어

소프트웨어
  • Omnian 무표준 분석 솔루션을 사용한 원소 스크리닝
  • FingerPrint 솔루션을 통한 통과/실패 분석
  • 규정이 까다로운 환경에 대비한 Enhanced Data Security
  • 다층 샘플 분석을 위한 Stratos
  • 미사용 및 기사용 윤활유에 함유된 마모 금속에 대해 Oil-Trace를 사용한 유연성 있는 한 번의 보정

악세서리

소프트웨어

Epsilon 소프트웨어

Epsilon 벤치탑 시스템용 Analytical EDXRF 소프트웨어 패키지

Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 벤치톱 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다. Epsilon 소프트웨어는 Epsilon 벤치탑 시스템을 설정하고 운용하는 데 필요한 모든 기능을 제공합니다. 분석 프로그램 어셈블리가 소프트웨어에 내장된 높은 수준의 인텔리전스를 통해 활용되므로 사용자는 반세기에 이르는 작업 전문 지식을 활용할 수 있습니다. 이제 경험이 없는 직원도 최소한의 교육만 받으면 매일 반복되는 XRF 분석 작업을 일상적인 작업으로 편리하게 수행할 수 있습니다. 소프트웨어의 유용성을 향상시키기 위해 많은 기능이 제공됩니다.

Stratos

코팅 및 다층의 조성과 두께 측정

Stratos 소프트웨어 모듈은 측정에서 획득한 층상 재료의 화학적 조성과 두께를 동시에 확인할 수 있는 알고리즘을 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 코팅, 표면층 및 다층 구조를 분석하는 빠르고 간단하며 비파괴적인 수단을 제공합니다. Virtual Analyst는 복잡한 스택에 대한 측정 프로그램을 설정하는 동안 인텔리전스를 제공합니다. 


Epsilon 4 EDXRF 및 Zetium XRF 분광계에 사용할 수 있는 Stratos는 샘플 유형 또는 매트릭스에 관계없이 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다.

Omnian

모든 유형의 시료에 대한 비표준 분석

Omnian을 사용하면 전용 기법이나 인증된 표준물질이 존재하지 않는 상황에서도 가능한 최고의 분석을 수행할 수 있습니다. 트렌드세팅 비표준 분석 패키지인 Omnian은 기술을 초월한 첨단 소프트웨어와 설정 시료를 통합합니다. Epsilon 1, Epsilon 4 및 Zetium 분석기에 사용할 수 있는 Omnian은 시료 유형 또는 매트릭스에 관계없이 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다.

Oil-Trace

정확한 미량 원소 분석

Oil-Trace 소프트웨어 패키지는 사용자가 WDXRFEDXRF를 사용하여 액체에 대한 정확하고 신뢰할 수 있는 원소 분석을 시행할 수 있도록 하는 표준 제품군으로 구성되어 있습니다. Oil-Trace는 액체 분석 시 두 가지 문제를 해결합니다.

1) CHON 원소의 알 수 없는 혼합이 있는 경우 적절한 매트릭스 보정

2) 분석 중인 샘플의 부피 변동으로 인한 오류 보정

Oil-Trace는 이러한 문제를 효과적으로 해결함으로써 석유 분석에 상당한 이점을 제공합니다.

FingerPrint

즉각적인 재료 식별

Epsilon 4 EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 재료 테스트에 이상적입니다. FingerPrinting은 일반적으로 샘플 전처리가 거의 또는 전혀 필요하지 않으며 비파괴적입니다.

Enhanced Data Security

데이터 보안 및 감사 충족

EDS(Enhanced Data Security) 모듈은 Zetium XRF 분광계(SuperQ 소프트웨어를 통해) 및 Epsilon XRF 분광계 사용자에게 결과의 신뢰성을 높여 주는 소프트웨어 옵션입니다. EDS는 고급 사용자 관리, 액션 로깅, 데이터 보호, 작업 프로그램 상태 지정 등의 기능을 통해 감사 추적을 강화하고 오류 위험을 최소화하며 XRF 장비가 예상대로 작동하고 있음을 입증할 수 있도록 지원합니다.

표준(참조 물질)

ADPOL

XRF를 통한 기능성 폴리머 첨가제의 정확한 원소 분석

자세한 내용

WROXI

광범위한 광물 산화물 정확한 분석

WROXI CRM은 광석, 암석, 지질학적 물질 등 광범위한 산화물 물질을 포괄하는 합성 고품질 인증 참조 물질 키트입니다.

자세한 내용

LAS

Malvern Panalytical XRF 분광기를 이용한 저 합금강 분석

순차 및 동시 XRF 분광계 Zetium 및 Axios FAST용 저합금강(LAS) 패키지는 최대 21개 요소를 포괄하는 90개 이상의 CRM과 드리프트 및 샘플 준비 수정을 위한 4개의 모니터 샘플을 기반으로 합니다.

자세한 내용

RoHS

RoHS 제한 물질의 정확한 원소 분석

RoHS 교정 모듈은 제조업체와 연구 실험실이 RoHS 2 법규의 요구 사항을 준수하는 데 도움이 됩니다. RoHS 교정 표준을 사용한 정확한 원소 분석을 통해 비용을 절감하고 REACH와 같은 국제 규정 준수를 지원할 수 있습니다.

자세한 내용

TOXEL

XRF를 사용한 폴리머 및 플라스틱 내 독성 원소의 정확한 분석

TOXEL 모듈을 사용하면 다양한 종류의 PP 및 PE를 포함한 폴리올레핀의 독성 원소에 대한 쉽고 정확한 원소 분석이 가능합니다.

자세한 내용

인증된 참고 자료

XRF 교정 모듈 및 참고 자료를 포함한 인증된 참고 자료

자세한 내용

샘플 준비

Claisse LeNeo

Claisse를 통해 융합에 대한 전문 지식 선도.

Claisse LeNeo 융합 계기에서는 XRF용 유리 디스크는 물론 AA 및 ICP 분석용 붕산염 및 과산화물 용액도 준비할 수 있습니다. 단일 위치 전기 계기입니다.

자세한 내용
Claisse LeNeo

왜 Epsilon 4인가?

장소의 제약이 없는 Epsilon 4

Epsilon 4는 설치 인프라 요건이 까다롭지 않아 어떠한 공정에서도 생산 라인 바로 옆에서 운용할 수 있습니다. 

또한, 강력한 성능으로 대부분의 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있어 헬륨 또는 진공 유지를 위한 비용이 절감됩니다.

분석 이상의 가치

에너지 분산 X선 형광 분광기는 ppm 미만 수준부터 100wt% 범위의 농도를 가진 탄소(C)에서 아메리슘(Am)에 이르는 원소의 분석이 가능합니다. 

무표준 분석에는 Omnian을, 분석 속도가 중요한 경우 재질 테스트용으로 FingerPrint를, 코팅과 표면층 및 다층 구조에 대한 신속하고 간단한 비파괴적 분석을 수행하려면 Stratos를 사용하십시오. 

또한 FDA 21 CFR Part 11과 같은 규정 준수를 지원하는 Enhanced Data Security를 사용하거나, 미사용 및 기사용 윤활유에서 연료-바이오연료 혼합물의 정량 분석에는 Oil-Trace를 사용할 수 있습니다.

모든 종류의 샘플 분석 가능

Epsilon 4는 고체, 압착 및 가루 분말, 액체 및 필터를 포함한 다양한 유형의 샘플을 처리할 수 있습니다. 또한 샘플 중량이 밀리그램 단위에서 킬로그램 단위이고 100%에서 ppm 미만 수준의 농도를 가진 탄소(C) 및 불소에서 아메리슘(Am)에 이르는 원소에 대해 비파괴 방식의 정량적 분석을 수행합니다.

Epsilon 4는 시멘트 생산, 채광, 광물질 선광, 철, 강철 및 비철금속, RoHS 스크리닝 및 정량화, 석유 및 석유화학, 고분자 및 관련 산업, 유리 생산, 법의학, 제약, 보건의료 제품, 환경, 식품 및 화장품 등을 포함하는 다양한 산업 및 응용 분야에서, 경원소 분석이 가장 중요한 경우에도 기존 시스템 대비 견고하고 신뢰성 있는 대안으로 활용할 수 있습니다.

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Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

사용자 매뉴얼

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지원팀

서비스

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장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

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평생 서비스

  • 전화 및 원격 지원
  • 예방적 유지보수 및 점검
  • 유연한 고객 관리 계약
  • 성능 인증서
  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
  • 지역 및 글로벌 지원

전문 기술

공정에 가치 추가 

  • 샘플 준비 개발/최적화
  • 분석 방법 
  • XRD를 위한 턴키 솔루션 
  • IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실간 연구를 통한 운영
  • 자문 서비스

훈련 및 교육

  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정
강력한 현장 원소 분석.

강력한 현장 원소 분석.

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