오일 및 연료 분석용 Epsilon 4

오일 및 연료 생산 과정에서 큰 비용 절감

오일 및 연료 생산 과정에서 Epsilon 4의 사용으로 최대 190,000달러를 절감할 수 있습니다. 주어진 요건을 준수하고 반복성과 정확도가 높은 원소 분석은 기본이고 정유 공정의 여러 부분에서 추가적인 가치를 제공합니다.

  • 원유의 원소 분석을 통한 정유 공정 조정 및 최적화
  • 최적의 탈염 및 부식 방지를 위한 낮은 수준의 염소 농도 측정
  • 촉매제의 수명 연장 및 이의 성능 개선을 위한 낮은 수준의 S, Ni, V, Ca 및 Fe 농도 측정 
  • 연료 생산 및 혼합 과정에서 황 함량 분석

Epsilon 4에서 수행하는 분석은 TIER 3, ISO 13032, ISO 20847, ISO 8754, ASTM D4294, ASTM D4929, JIS K2541-4, IP 336 및 IP 496과 같은 국제적 표준 테스트 방법과 규정을 준수합니다.

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개요

요건 준수 이상의 가치

Epsilon 4는 정유 분야의 서로 다른 공정에서 탁월한 원소 분석 성능을 제공합니다. 이러한 새롭고 강력한 벤치톱 XRF 기기는 최신 ASTM, EPA, ISO, IP 및 JIS 테스트 방법에 따라 연료에 함유된 황 및 기타 미량 원소를 분석하는 데 적합합니다.
아래 그림은 한 번의 적절한 비용 투자로 Epsilon 4를 통해 부가적으로 얻을 수 있는 가치를 보여줍니다.

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특징

벤치톱 XRF의 장점

최신 여기 및 검출 기술과 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 분광기의 성능에 근접합니다. 선택적 여기와 함께 X선 선관 출력과 검출기 시스템 용량 간 세밀한 매칭을 통해 탁월한 시스템 성능을 제공합니다.

벤치톱 XRF의 장점

보장된 성능

Epsilon 4는 TIER 3, ISO 13032, ISO 20847, ISO 8754, ASTM D4294, ASTM D4929, JIS K2541-4, IP 336 및 IP 496과 같은 국제적 표준 테스트 방법과 규정을 준수합니다.

보장된 성능

수년간 유효한 보정

낮은 드리프트의 X선 선관과 자동 드리프트 교정 시스템은 재보정할 필요 없이 요건을 준수하는 결과를 수년간 제공합니다. 이를 통해 시스템을 더 효율적으로 사용할 수 있으며 보정 유지 비용도 절감할 수 있습니다.
수년간 유효한 보정

더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다.

검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.

더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

헬륨 소모량 감소

Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.

헬륨 소모량 감소

사양

샘플 처리X선관검출기소프트웨어
10개 위치의 탈착식 샘플 교체기금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공일반적으로 135eV @ Mn-Kα의 높은 분해능Oil-Trace를 사용한 오일 및 연료에 대한 유연성 있는 한 번의 보정
일반적으로 5ml의 액체 샘플 사용경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창최대 50% 불감 시간(dead time)에서 1,500,000회/s의 계수율Omnian 무표준 분석 솔루션을 사용한 원소 스크리닝
공기 필터 분석의 정확도를 높이기 위해 스피너 포함P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창FingerPrint 솔루션을 통한 통과/실패 분석

악세서리

표준(참조 물질)

ADPOL

XRF를 통한 기능성 폴리머 첨가제의 정확한 원소 분석
ADPOL

RoHS

RoHS 제한 물질의 정확한 원소 분석
RoHS

TOXEL

XRF를 사용한 폴리머 및 플라스틱 내 독성 원소의 정확한 분석
TOXEL

CRM

Claisse는 항상 여러분의 필요를 충족시키기 위해 존재합니다!
CRM

소프트웨어

Epsilon 소프트웨어

Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 벤치톱 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다.

Epsilon 소프트웨어

Omnian

Omnian 소프트웨어를 사용하면 전용 분석법이나 인증된 표준물질이 없더라도 가장 최적의 분석을 수행할 수 있습니다.

Omnian

Oil-Trace

Oil-Trace 소프트웨어 패키지는 사용자가 WDXRF 및 EDXRF를 사용하여 액체에 대한 정확하고 신뢰할 수 있는 원소 분석을 시행할 수 있도록 하는 표준 제품군으로 구성되어 있습니다.
Oil-Trace

FingerPrint

Epsilon EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 물질 테스트에 이상적입니다.

FingerPrint

지원팀

서비스

투자 수익 극대화를 위한 솔루션

장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

지원팀

평생 서비스

  • 전화 및 원격 지원
  • 예방적 유지보수 및 점검
  • 유연한 고객 관리 계약
  • 성능 인증서
  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
  • 지역 및 글로벌 지원

전문 기술

공정에 가치 추가 

  • 샘플 준비 개발/최적화
  • 분석 방법 
  • XRD를 위한 턴키 솔루션 
  • IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실 간 연구를 통한 운영
  • 연구실 공정 자동화
  • 자문 서비스

훈련 및 교육

  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정

분석 서비스 및 교정 물질

  • 전문가(XRF) 분석 서비스
  • 산화물 및 미량 분석
  • 맞춤형 교정 물질

주요 응용 분야

Epsilon 4 분광기는 무게가 밀리그램에서 대형 벌크 샘플에 이르는 다양한 샘플을 처리할 수 있습니다.

샘플을 다음 형태로 측정할 수 있습니다.

  • 고체
  • 압축 분말
  • 가루 분말
  • 액체
  • 용융 비드
  • 슬러리
  • 과립
  • 필터
  • 필름 및 코팅