Epsilon 4 Pre-installation manual
버전 번호: 4
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지금 아카데미 지원 프로그램을 신청하세요X선 형광 분광법(XRF)은 시멘트 산업 분야에서 중요하면서 기반이 잘 확립된 분석 역할을 수행합니다. 이 분석법은 생산 및 품질 관리를 위해 원료 물질, 대체 연료 및 완제품의 원소 분석에 광범위하게 사용합니다.
Epsilon 4는 업계에서 인정받는 성공적인 Malvern Panalytical의 벤치톱 분광기 제품군의 하나로서 첨단 XRF 분석을 제공합니다. Epsilon 4의 탁월한 분석 성능은 스탠드형 XRF 기기와 비견되며 구입 및 유지 비용은 훨씬 저렴합니다.
XRF 분석의 가능성을 확인한 후 생산 라인과 가까운 곳에 XRF 분광기를 배치함으로써 피드백 시간을 시간 단위에서 분 단위로 줄일 수 있습니다.
벤치톱 XRF의 장점: 최신 여기 및 검출 기술과 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 분광기의 성능에 근접합니다. 선택적 여기와 함께 X선 선관 출력과 검출기 시스템 용량 간 세밀한 매칭을 통해 탁월한 시스템 성능을 제공합니다.
무인 작동: 10개 위치의 탈착식 샘플 교환기와 스피너의 결합을 통해 오퍼레이터가 상주할 필요 없이 샘플 배치의 자동 처리가 가능합니다. 측정 중 샘플이 계속 회전하기 때문에 개별 샘플 내 비균질성이나 표면 불규칙성에 의해 발생할 수 있는 오류를 최소화하여 더 정확한 결과를 제공합니다. 자동으로 데이터를 중앙 위치로 전송하여 최신 결과에 액세스할 수 있도록 합니다.
더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도: 더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다. 검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.
헬륨 소모량 감소: Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.
Malvern Panalytical에서 특별히 설계하고 제조한 고유한 고성능 금속-세라믹 X선 선관은 높은 품질의 데이터와 신뢰성 있는 결과를 보장합니다.
4.0 ~ 50kV 범위의 유연성 있는 전압 설정 및 3.0mA까지의 최대 전류 설정을 통해 전체 주기율표에서 성능을 최적화합니다.
X선 형광 분광법(XRF)은 시멘트 산업 분야에서 중요하면서 기반이 잘 확립된 분석 역할을 수행합니다. Eagon 2 완전
자동 융합 시스템과 결합하여 Epsilon 4는 단 10분 안에 최신 시멘트 테스트 방법인 ASTM C114-15 및 ISO 29581-2의 요건을 모두 만족합니다.
Epsilon 4 분광기는 무게가 밀리그램에서 대형 벌크 샘플에 이르는 다양한 샘플을 처리할 수 있습니다. 샘플을 다음 형태로 측정할 수 있습니다.
| 샘플 용량 | 10개 위치의 탈착식 샘플 교체기 |
|---|---|
| 샘플 크기 | 분광기에 최대 52mm(2인치) 직경의 샘플 수용 가능 |
| Features | 공기 필터 분석의 정확도를 높이기 위해 스피너 포함 |
| Features | 금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공
경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창 |
|---|---|
| Tube setting | P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관 |
| 검출기 유형 | 고분해능 실리콘 드리프트 검출기(SDD), 일반적으로 135eV @ Mn-Kα |
|---|---|
| Features | 최대 50% 불감 시간(dead time)에서 1,500,000회/s의 계수율
높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창 |
| 소프트웨어 |
|
|---|
버전 번호: 4
버전 번호: 4
버전 번호: 4
버전 번호: 3
버전 번호: 3
버전 번호: 3
버전 번호: 3
버전 번호: 3
버전 번호: 3
버전 번호: 3
버전 번호: 1
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장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
평생 서비스
공정에 가치 추가
X선 형광 분광법(XRF)은 시멘트 산업 분야에서 중요하면서 기반이 잘 확립된 분석 역할을 수행합니다. 이 분석법은 생산 및 품질 관리를 위해 원료 물질, 대체 연료 및 완제품의 원소 분석에 광범위하게 사용합니다.
Epsilon 4는 업계에서 인정받는 성공적인 Malvern Panalytical의 벤치톱 분광기 제품군의 하나로서 첨단 XRF 분석을 제공합니다. Epsilon 4의 탁월한 분석 성능은 스탠드형 XRF 기기와 비견되며 구입 및 유지 비용은 훨씬 저렴합니다.
XRF 분석의 가능성을 확인한 후 생산 라인과 가까운 곳에 XRF 분광기를 배치함으로써 피드백 시간을 시간 단위에서 분 단위로 줄일 수 있습니다.
벤치톱 XRF의 장점: 최신 여기 및 검출 기술과 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 분광기의 성능에 근접합니다. 선택적 여기와 함께 X선 선관 출력과 검출기 시스템 용량 간 세밀한 매칭을 통해 탁월한 시스템 성능을 제공합니다.
무인 작동: 10개 위치의 탈착식 샘플 교환기와 스피너의 결합을 통해 오퍼레이터가 상주할 필요 없이 샘플 배치의 자동 처리가 가능합니다. 측정 중 샘플이 계속 회전하기 때문에 개별 샘플 내 비균질성이나 표면 불규칙성에 의해 발생할 수 있는 오류를 최소화하여 더 정확한 결과를 제공합니다. 자동으로 데이터를 중앙 위치로 전송하여 최신 결과에 액세스할 수 있도록 합니다.
더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도: 더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다. 검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.
헬륨 소모량 감소: Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.
Malvern Panalytical에서 특별히 설계하고 제조한 고유한 고성능 금속-세라믹 X선 선관은 높은 품질의 데이터와 신뢰성 있는 결과를 보장합니다.
4.0 ~ 50kV 범위의 유연성 있는 전압 설정 및 3.0mA까지의 최대 전류 설정을 통해 전체 주기율표에서 성능을 최적화합니다.
X선 형광 분광법(XRF)은 시멘트 산업 분야에서 중요하면서 기반이 잘 확립된 분석 역할을 수행합니다. Eagon 2 완전
자동 융합 시스템과 결합하여 Epsilon 4는 단 10분 안에 최신 시멘트 테스트 방법인 ASTM C114-15 및 ISO 29581-2의 요건을 모두 만족합니다.
Epsilon 4 분광기는 무게가 밀리그램에서 대형 벌크 샘플에 이르는 다양한 샘플을 처리할 수 있습니다. 샘플을 다음 형태로 측정할 수 있습니다.
| 샘플 용량 | 10개 위치의 탈착식 샘플 교체기 |
|---|---|
| 샘플 크기 | 분광기에 최대 52mm(2인치) 직경의 샘플 수용 가능 |
| Features | 공기 필터 분석의 정확도를 높이기 위해 스피너 포함 |
| Features | 금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공
경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창 |
|---|---|
| Tube setting | P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관 |
| 검출기 유형 | 고분해능 실리콘 드리프트 검출기(SDD), 일반적으로 135eV @ Mn-Kα |
|---|---|
| Features | 최대 50% 불감 시간(dead time)에서 1,500,000회/s의 계수율
높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창 |
| 소프트웨어 |
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버전 번호: 4
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버전 번호: 3
버전 번호: 3
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버전 번호: 3
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