채광 및 광물질 분석용 Epsilon 4

높은 공정 효율 및 회수율 제공

X선 형광 분광법(XRF)은 채광 및 광물 분석 분야에서 중요하면서 기반이 잘 확립된 분석 역할을 수행합니다. 이 분석법은 탐사, 등급 관리, 공정 모니터링에서뿐만 아니라 폐기물의 조성이 환경 규정과 지침에서 제한하는 범위 내에 유지됨을 보장하는 데 광범위하게 사용됩니다.

Epsilon 4 벤치톱 분광기는 원거리 채광 작업 현장에서 광석, 광물질 및 암석에 대한 신속한 원소 분석에 사용할 수 있습니다. 까다롭지 않은 기반 시설 요건과 높은 분석 성능의 결합을 통해 유틸리티 사용이 제한된 원거리 현장에서 채광 작업 전략을 신속하게 결정할 수 있습니다.
XRF 분석의 가능성을 확인한 후 채광 또는 공정 플랜트와 가까운 곳에 XRF 분광기를 배치함으로써 피드백 시간을 시간 단위에서 분 단위로 줄일 수 있습니다.

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개요

요건 준수 이상의 가치

X선 형광 분광법(XRF)은 채광 및 광물 산업에서 널리 인정받는 안전하고 비용 대비 효과적이며 신뢰성이 높은 방법입니다.
광물질 선광 플랜트의 앳라인 공정에서 Epsilon 4를 사용하여 신속하고 효율적인 광물 처리가 가능합니다.
아래 그림은 한 번의 적절한 비용 투자로 Epsilon 4를 통해 부가적으로 얻을 수 있는 가치를 보여줍니다.

The mining process.jpg

특징

벤치톱 XRF의 장점

최신 여기 및 검출 기술과 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 분광기의 성능에 근접합니다. 선택적 여기와 함께 X선 선관 출력과 검출기 시스템 용량 간 세밀한 매칭을 통해 탁월한 시스템 성능을 제공합니다.

벤치톱 XRF의 장점

눂은 유연성을 제공하는 광범위 산화물 솔루션(WROXI)

Malvern Panalytical은 고유한 15가지 합성 다원소 광범위 산화물(wide-range oxide(WROXI)) 표준 물질 세트를 개발했습니다. Epsilon 4와 함께 WROXI는 용융 비드에서 대량 및 소량 원소의 분석에 사용할 수 있습니다. Epsilon 소프트웨어의 FP 알고리즘을 통해 WROXI 애플리케이션은 다양한 암석, 광석 및 광물질에 흔하게 존재하는 최대 11가지의 산화물의 농도를 측정할 수 있습니다.

눂은 유연성을 제공하는 광범위 산화물 솔루션(WROXI)

무인 작동

10개 위치의 탈착식 샘플 교환기와 스피너의 결합을 통해 오퍼레이터가 상주할 필요 없이 샘플 배치의 자동 처리가 가능합니다. 측정 중 샘플이 계속 회전하기 때문에 개별 샘플 내 비균질성이나 표면 불규칙성에 의해 발생할 수 있는 오류를 최소화하여 더 정확한 결과를 제공합니다.
자동으로 데이터를 중앙 위치로 전송하여 최신 결과에 액세스할 수 있도록 합니다.
무인 작동

더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다.
검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.
더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도

헬륨 소모량 감소

Epsilon 4의 강력한 성능으로 인해 많은 응용 분야에서 대기 조건에서도 작동할 수 있기 때문에 헬륨 또는 진공 시스템 유지에 추가적인 시간과 비용이 소요되지 않습니다. 공기 중에서 측정 시 나트륨, 마그네슘 및 알루미늄의 저에너지 X선 광자 특성은 대기 압력과 온도 변화에 민감합니다. 내장형 온도 및 대기 압력 센서를 통해 이러한 환경 조건의 변화를 보상하여 날씨에 상관없이 탁월한 결과를 제공합니다.
헬륨 소모량 감소

사양

샘플 처리X선관검출기소프트웨어
10개 위치의 탈착식 샘플 교체기금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공일반적으로 135eV @ Mn-Kα의 높은 분해능Omnian 무표준 분석 솔루션을 사용한 원소 스크리닝
분광기에 최대 52mm(2인치) 직경의 샘플 수용 가능경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창50% 불감 시간(dead time)에서 최대 1,500,000회/s의 계수율FingerPrint 솔루션을 통한 통과/실패 분석
공기 필터 분석의 정확도를 높이기 위해 스피너 포함P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창미사용 및 기사용 윤활유에 함유된 마모 금속에 대해 Oil-Trace를 사용한 유연성 있는 한 번의 보정

악세서리

표준(참조 물질)

WROXI

광범위한 광물 산화물 정확한 분석
WROXI

LAS

Malvern Panalytical XRF 분광기를 이용한 저 합금강 분석
LAS

CRM

Claisse는 항상 여러분의 필요를 충족시키기 위해 존재합니다!
CRM

CEMOXI

XRF를 사용한 정확한 시멘트 산화물 분석
CEMOXI

소프트웨어

Epsilon 소프트웨어

Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 벤치톱 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다.

Epsilon 소프트웨어

Omnian

Omnian 소프트웨어를 사용하면 전용 분석법이나 인증된 표준물질이 없더라도 가장 최적의 분석을 수행할 수 있습니다.

Omnian

Stratos

이 소프트웨어는 코팅, 표면층 및 다층 구조를 분석하는 빠르고 간단하며 비파괴적인 수단을 제공합니다.
Stratos

Oil-Trace

Oil-Trace 소프트웨어 패키지는 사용자가 WDXRF 및 EDXRF를 사용하여 액체에 대한 정확하고 신뢰할 수 있는 원소 분석을 시행할 수 있도록 하는 표준 제품군으로 구성되어 있습니다.
Oil-Trace

FingerPrint

Epsilon EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 물질 테스트에 이상적입니다.

FingerPrint

지원팀

서비스

투자 수익 극대화를 위한 솔루션

장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

지원팀

평생 서비스

  • 전화 및 원격 지원
  • 예방적 유지보수 및 점검
  • 유연한 고객 관리 계약
  • 성능 인증서
  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
  • 지역 및 글로벌 지원

전문 기술

공정에 가치 추가 

  • 샘플 준비 개발/최적화
  • 분석 방법 
  • XRD를 위한 턴키 솔루션 
  • IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실 간 연구를 통한 운영
  • 연구실 공정 자동화
  • 자문 서비스

훈련 및 교육

  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정

분석 서비스 및 교정 물질

  • 전문가(XRF) 분석 서비스
  • 산화물 및 미량 분석
  • 맞춤형 교정 물질

주요 응용 분야

Epsilon 4 분광기는 무게가 밀리그램에서 대형 벌크 샘플에 이르는 다양한 샘플을 처리할 수 있습니다.

샘플을 다음 형태로 측정할 수 있습니다.

  • 고체
  • 압축 분말
  • 가루 분말
  • 액체
  • 용융 비드
  • 슬러리
  • 과립
  • 필터
  • 필름 및 코팅

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Omar Scaccabarozzi — Analyst