개요
고객들은 생산 위치에 관계없이 고분자 성능의 뛰어난 일관성과 고객 안전을 요구합니다. 에너지 분산 X선 형광(EDXRF) 벤치톱 분광기인 Epsilon 4는 뛰어난 반복성과 정확도를 갖춘 원소 분석을 제공하여 고객의 일관성 요구를 만족시킵니다.
사용하기 쉬운 측정 절차와 제한된 유틸리티 요건을 통해 여러 생산 현장에 걸쳐 생산 라인 가까이에서 재현 가능한 분석이 가능합니다. Epsilon 4는 재보정할 필요 없이 몇 개월 동안 믿을 수 있는 결과를 전달합니다. 제품 품질을 보장하는 일은 결코 쉬운 일이 아니었습니다.
특징
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벤치톱 XRF의 장점: 최신 여기 및 검출 기술과 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 분광기의 성능에 근접합니다. 선택적 여기와 함께 X선 선관 출력과 검출기 시스템 용량 간 세밀한 매칭을 통해 탁월한 시스템 성능을 제공합니다.
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낮은 운용 비용: Epsilon 4는 ICP와 AAS에서는 필수적인 고가의 산성 물질, 가스 및 배기용 후드 사용이 불필요합니다. 주 전원과 일부의 경우 샘플 내 경원소의 감도를 높이기 위한 헬륨의 사용만 필요합니다. 또한 XRF 분광기의 개별 구성품은 마찰이나 열에 노출되는 일이 없기 때문에 수년간 높은 내구성을 유지합니다.
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비파괴 분석: Epsilon 4를 사용한 측정은 샘플 준비가 거의 또는 아예 필요 없이 완제품에서 직접 수행됩니다. XRF는 비파괴 기법을 사용하기 때문에 필요한 경우 계속해서 다른 분석 기법을 사용하여 샘플을 측정할 수도 있습니다.
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더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도: 더욱 높은 강도를 발생시키는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다. 검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000 cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.
제품 품질 및 일관성에 집중
Epsilon 4는 고분자, 플라스틱 및 페인트 생산자에게 가치를 직접 제공합니다. 생산 공정 전체에 걸쳐 가까이에서 신속한 직접 분석을 통해 빈틈없는 추적성을 가능하게 합니다.
입고 원료 물질의 품질을 검증하고 완제품에 첨가제, 촉매 잔류물 또는 독성 성분이 있는지 분석합니다.
Malvern Panalytical 고유의 보정 솔루션인 ADPOL, TOXEL 및 RoHS는 사용자를 지원하여 고객 안전 및 일관되고 높은 수준의 제품 품질과 성능을 실현합니다.
고유한 고분자 응용 분야 솔루션
올바른 보정 샘플에 액세스하는 것이 XRF의 핵심입니다.
플라스틱 및 고분자 산업을 위해 당사는 첨가제, 촉매 잔류물(ADPOL), 독성 성분(TOXEL)을 정확하게 분석하고 ASTM F2617 및 IEC 62321-3-1에 따라 RoHS 준수(RoHS)를 보장하기 위한 고유의 보정 솔루션을 개발했습니다.
주요 응용 분야
Epsilon 4 분광기는 무게가 밀리그램에서 대형 벌크 샘플에 이르는 다양한 샘플을 처리할 수 있습니다. 샘플을 다음 형태로 측정할 수 있습니다.
- 고체
- 압축 분말
- 가루 분말
- 액체
- 용융 비드
- 슬러리
- 과립
- 필터
- 필름 및 코팅
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
