Epsilon Xline은 첨단 에너지 분산 XRF(EDXRF) 기술과 인라인 기능을 결합합니다. 이 첨단 솔루션은 R2R(Roll-to-Roll) 코팅 공정에서 실시간 재료 모니터링 및 프로세스 제어를 가능하게 합니다.
직접 분석을 통해 재료 조성 및 적재를 지속적으로 최적화하여 규격 외 생산을 최소화하고 비용 효율성을 극대화할 수 있습니다. 적응형 Epsilon Xline은 다양한 표면과 원소에서 정밀하고 정확한 프로세스 제어를 제공합니다.
완전 인라인 자동화: 다양한 박막 및 코팅 응용 분야에 적합한 Epsilon Xline의 원활한 통합 기능으로 지속적인 R2R 생산이 가능합니다.
편의성 및 안전성: Epsilon Xline은 휴대용 기기나 기존 기기와 달리 X선에 완벽하게 안전하고 사용하기 쉬우며 매우 정확한 분석 데이터를 제공합니다.
전문가의 노하우: Malvern Panalytical의 원소 분석 분야에서 70년 이상의 경험을 바탕으로 Epsilon Xline은 업계 파트너와 협력하여 오늘날의 요구를 충족하는 동시에 업계의 미래를 함께 모색하기 위해 개발되었습니다.
수율 극대화: 운영 중단 없이 실시간 모니터링을 통해 비용 경쟁력 있는 생산을 달성하여 운영을 최대한 활용하는 데 필요한 직접적인 통찰력과 제어를 제공합니다.
최적의 재료 효율: 업계 표준 솔루션으로 불일치를 제거하고 귀중한 재료를 낭비하지 않으며 고품질 제품을 보장합니다.
특허받은 입증된 정확성: 고객과 함께 개발하고 테스트한 Epsilon Xline은 정확한 결과를 위해 안정적인 분석을 보장하는 특허 받은 높이 보정 기술을 갖추고 있습니다.
백금 촉매가 전체 연료 전지 비용의 20% 이상을 차지하므로 균일한 분산과 일관된 레이어링을 통해 촉매 코팅을 최적화하는 것이 필수적입니다. 빠르고 정확한 공정 모니터링이 이상적인 솔루션입니다! Epsilon Xline은 효율적인 작동 제어를 용이하게 하여 다음과 같은 이점을 제공합니다.
X선 형광(XRF)은 촉매막 코팅 공정 중 시료 채취나 화학적 또는 물리적 변화없이 인라인 모니터링을 가능하게 하는 비파괴 원소 분석 기술입니다.
실시간 인라인 분석을 통해 다수의 공정 매개변수와 제품 특성을 신속하게 최적화할 수 있습니다.
Epsilon Xline과 Epsilon 기기 시리즈 전체에서 사용되는 입증되고 견고한 기술은 여기(excitation) 및 검출(detection) 기술의 최신 발전을 기반으로 합니다.
잘 설계된 광학 경로, 경원소와 중원소에 대한 광범위한 여기 기능 및 빠르고 해상도가 높은 SDD 검출기 시스템을 통해 Epsilon Xline의 성능을 강화했습니다. 이러한 혁신의 결과로 유지보수에 필요한 비용은 줄어들고, 반복성과 정확성 높은 결과를 얻을 수 있습니다.
| 샘플 유형 | 코팅 라인
|
|---|---|
| Coating types | 연속, 레인, 패치
|
| Line speed continuous coating | 최대 30m/분
|
| Line speed patch coating | 최대 11m/분
|
| Type | 금속 세라믹 사이드 창 50µm(Be)
|
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | 소프트웨어 제어, 적용 가능한 전압 4~50kV, 최대 3mA, 최대 관 전력 15W
|
| X-Ray filtering | 6개, 소프트웨어 선택 가능(Cu 300µm, Cu 500µm, Al 50µm, Al 200µm, Ti 7µm, AG 100µm
|
| Type | 고해상도 Si 드리프트 검출기 SDD10
창문: 8µm(Be) |
|---|---|
| 해상도 | < 145eV @ 5.9keV/1,000cps
일반적으로 135eV @ 5.9keV/1,000cps
|
| Radiation levels | 외부 표면의 10cm 지점에서 < 1µSv/h
|
|---|
내장된 OPC 연결을 통해 Epsilon Xline을 생산 라인에 원활하게 통합할 수 있습니다. 포함된 전용 소프트웨어 패키지로 다양한 재료 및 측정 모드에 맞게 Epsilon Xline을 간단하게 설정할 수 있습니다. 명령을 기기에 직접 입력하거나 원격 콘솔을 통해 간편하게 사용할 수 있는 인터페이스가 전체 추적 데이터의 개요를 표시합니다.
Epsilon 벤치탑 시스템용 Analytical EDXRF 소프트웨어 패키지
코팅 및 다층의 조성과 두께 측정
최신 사용자 매뉴얼은 지원팀에 문의하세요.
최신 소프트웨어 버전에 대한 지원을 문의 하십시오
장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
평생 서비스
공정에 가치 추가
Epsilon Xline은 첨단 에너지 분산 XRF(EDXRF) 기술과 인라인 기능을 결합합니다. 이 첨단 솔루션은 R2R(Roll-to-Roll) 코팅 공정에서 실시간 재료 모니터링 및 프로세스 제어를 가능하게 합니다.
직접 분석을 통해 재료 조성 및 적재를 지속적으로 최적화하여 규격 외 생산을 최소화하고 비용 효율성을 극대화할 수 있습니다. 적응형 Epsilon Xline은 다양한 표면과 원소에서 정밀하고 정확한 프로세스 제어를 제공합니다.
완전 인라인 자동화: 다양한 박막 및 코팅 응용 분야에 적합한 Epsilon Xline의 원활한 통합 기능으로 지속적인 R2R 생산이 가능합니다.
편의성 및 안전성: Epsilon Xline은 휴대용 기기나 기존 기기와 달리 X선에 완벽하게 안전하고 사용하기 쉬우며 매우 정확한 분석 데이터를 제공합니다.
전문가의 노하우: Malvern Panalytical의 원소 분석 분야에서 70년 이상의 경험을 바탕으로 Epsilon Xline은 업계 파트너와 협력하여 오늘날의 요구를 충족하는 동시에 업계의 미래를 함께 모색하기 위해 개발되었습니다.
수율 극대화: 운영 중단 없이 실시간 모니터링을 통해 비용 경쟁력 있는 생산을 달성하여 운영을 최대한 활용하는 데 필요한 직접적인 통찰력과 제어를 제공합니다.
최적의 재료 효율: 업계 표준 솔루션으로 불일치를 제거하고 귀중한 재료를 낭비하지 않으며 고품질 제품을 보장합니다.
특허받은 입증된 정확성: 고객과 함께 개발하고 테스트한 Epsilon Xline은 정확한 결과를 위해 안정적인 분석을 보장하는 특허 받은 높이 보정 기술을 갖추고 있습니다.
백금 촉매가 전체 연료 전지 비용의 20% 이상을 차지하므로 균일한 분산과 일관된 레이어링을 통해 촉매 코팅을 최적화하는 것이 필수적입니다. 빠르고 정확한 공정 모니터링이 이상적인 솔루션입니다! Epsilon Xline은 효율적인 작동 제어를 용이하게 하여 다음과 같은 이점을 제공합니다.
X선 형광(XRF)은 촉매막 코팅 공정 중 시료 채취나 화학적 또는 물리적 변화없이 인라인 모니터링을 가능하게 하는 비파괴 원소 분석 기술입니다.
실시간 인라인 분석을 통해 다수의 공정 매개변수와 제품 특성을 신속하게 최적화할 수 있습니다.
Epsilon Xline과 Epsilon 기기 시리즈 전체에서 사용되는 입증되고 견고한 기술은 여기(excitation) 및 검출(detection) 기술의 최신 발전을 기반으로 합니다.
잘 설계된 광학 경로, 경원소와 중원소에 대한 광범위한 여기 기능 및 빠르고 해상도가 높은 SDD 검출기 시스템을 통해 Epsilon Xline의 성능을 강화했습니다. 이러한 혁신의 결과로 유지보수에 필요한 비용은 줄어들고, 반복성과 정확성 높은 결과를 얻을 수 있습니다.
| 샘플 유형 | 코팅 라인
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|---|---|
| Coating types | 연속, 레인, 패치
|
| Line speed continuous coating | 최대 30m/분
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| Line speed patch coating | 최대 11m/분
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| Type | 금속 세라믹 사이드 창 50µm(Be)
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|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | 소프트웨어 제어, 적용 가능한 전압 4~50kV, 최대 3mA, 최대 관 전력 15W
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| X-Ray filtering | 6개, 소프트웨어 선택 가능(Cu 300µm, Cu 500µm, Al 50µm, Al 200µm, Ti 7µm, AG 100µm
|
| Type | 고해상도 Si 드리프트 검출기 SDD10
창문: 8µm(Be) |
|---|---|
| 해상도 | < 145eV @ 5.9keV/1,000cps
일반적으로 135eV @ 5.9keV/1,000cps
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| Radiation levels | 외부 표면의 10cm 지점에서 < 1µSv/h
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내장된 OPC 연결을 통해 Epsilon Xline을 생산 라인에 원활하게 통합할 수 있습니다. 포함된 전용 소프트웨어 패키지로 다양한 재료 및 측정 모드에 맞게 Epsilon Xline을 간단하게 설정할 수 있습니다. 명령을 기기에 직접 입력하거나 원격 콘솔을 통해 간편하게 사용할 수 있는 인터페이스가 전체 추적 데이터의 개요를 표시합니다.
Epsilon 벤치탑 시스템용 Analytical EDXRF 소프트웨어 패키지
코팅 및 다층의 조성과 두께 측정
최신 사용자 매뉴얼은 지원팀에 문의하세요.
최신 소프트웨어 버전에 대한 지원을 문의 하십시오
장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
평생 서비스
공정에 가치 추가
