As layers of pure metals or alloys are used to enhance certain features of a product, it is important to precisely and accurately determine coating thickness. Quality control of metal coatings requires non-destructive, elemental analysis as well as detailed characterization of physical properties. X-ray fluorescence (XRF), X-ray diffraction (XRD) and particle shape analysis are non-destructive, non-contact analytical techniques that require little or no sample preparation, making them ideal for this application. 

Typical applications include:

  • Steel pre-treatment processes 
  • TiN for machining iron-based materials
  • CrC with high temperature oxidation resistance used in die casting
  • Tungsten carbide/carbon (WC/C) for coating and protecting highly-loaded precision components, gears and drives, engine components, hydraulic pumps and compressors
  • Conductive coatings such as metalized plastic used in food packaging 

Morphologi 시리즈

Morphologi 시리즈

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

자세한 내용은
측정 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기
입도 범위 0.5µm - 1000µm
기술 유형 이미지 분석
분산 유형 습식, 건식

Empyrean

Empyrean

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

자세한 내용은
측정 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD)

Zetium의 Metals 에디션

Zetium의 Metals 에디션

금속 내 새로운 원소

자세한 내용은
측정 박막 계측학, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
샘플 처리량 160per 8h day - 240per 8h day
전원 2,4-4 kW
기술 유형 Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 3X range

Epsilon 3X range

For every analytical problem there is a tailored solution

자세한 내용은
측정 3D structure / imaging
원소 범위 C-Am
해상도(Mg-Ka) 145eV
LLD 1 ppm - 100%
샘플 처리량 80per 8h day - 160per 8h day
기술 유형 X-ray Fluorescence (XRF)

Morphologi 시리즈

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Empyrean

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각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

Zetium의 Metals 에디션

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금속 내 새로운 원소

Epsilon 3X range

Epsilon 3X range

For every analytical problem there is a tailored solution

자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은
측정 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis 박막 계측학, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification 3D structure / imaging
입도 범위 0.5µm - 1000µm      
고니오미터 구성   Vertical goniometer, Θ-Θ    
샘플 처리량     160per 8h day - 240per 8h day 80per 8h day - 160per 8h day
전원     2,4-4 kW  
원소 범위       C-Am
해상도(Mg-Ka)       145eV
LLD       1 ppm - 100%
기술 유형 이미지 분석 X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF)
분산 유형 습식, 건식      

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Epsilon 시리즈

Morphologi 시리즈 Empyrean Zetium의 Metals 에디션 Epsilon 시리즈

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

금속 내 새로운 원소

신속하고 정확한 앳라인 및 온라인 원소 분석

자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은
기술 유형
이미지 분석
X-ray Diffraction (XRD)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
X-ray Fluorescence (XRF)