원소 불순물 검사에 대한 요구 사항과 관련된 최근 미국 약전(USP)에 대한 변화로 이 테스트를 수행하는 새로운 방법에 대한 관심이 생겼습니다. 이러한 새로운 요구 사항과 USP 장 <735> X선 형광 분광측정법1의 도입이 결합되어 제약 물질의 원소 불순물을 정량화하는 새로운 대체 방법이 가능해졌습니다.
이 연구에서는 X선 형광(XRF) 분광측정법은 미국과 유럽 약전에서 요구하는 많은 원소에 대해 높은 감도, 정밀도 및 정확도로 다양한 제약(액체, 분말 및 고체) 물질의 원소 분석을 수행할 수 있다는 것을 보여줍니다. 간단한 시료 제제, 비파괴 분석, 화학 폐기물 없음, 넓은 동적 농도 범위의 낮은 운전 비용, 좋음에서 우수함에 이르는 검출 한계 등은 이 기술의 장점 중 일부입니다.
