Malvern Panalytical의 X선 회절분석기는 최고 품질의 회절 데이터를 얻을 수 있으며 편이성 및 유연성이 우수하여 다른 응용 분야로 신속하게 전환할 수 있습니다.
Aeris
매우 정확하고 빠른 XRD 시스템에 놀라실 준비를 하세요. 5분 이내에 정확한 결과를 얻을 수 있습니다.
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Download now거의 한 세기 동안 X선 회절 공동체에서 활동
Malvern Panalytical의 X선 회절분석기는 최고 품질의 회절 데이터를 얻을 수 있으며 편이성 및 유연성이 우수하여 다른 응용 분야로 신속하게 전환할 수 있습니다.
PANalytical의 회절분석기는 대학교와 연구 기관, 산업용 공정 제어 연구실에 이르는 다양한 환경에서 사용할 수 있습니다. 필요한 X선 회절(XRD)이 무엇이든 관계없이 적합한 기구를 제공하며 전 세계 영업 및 서비스 조직에서 지원합니다.
PreFIX(사전 정렬되고 빠르게 교체할 수 있는 X선) 모듈이 다목적 회절분석기에 모두 장착되어 있으므로 사용자가 쉽게 광학 경로를 변경할 수 있습니다. 이러한 이유로 PANalytical은 한대의 시스템에서 대부분의 응용 분야를 수행할 수 있습니다. 당사 장비를 활용할 수 있는 여러 XRD 응용 분야에 대한 자세한 내용은 지식 센터에서 확인하십시오.
매우 정확하고 빠른 XRD 시스템에 놀라실 준비를 하세요. 5분 이내에 정확한 결과를 얻을 수 있습니다.
새롭게 설계된 MultiCore Optics는 수동 개입 없이도 가장 다양한 측정을 가능하게 합니다.
재료 연구 회절계의 길고 성공적인 역사는 X'Pert³의 차세대 제품에서도 이어집니다.
당사의 Crystal Orientation 솔루션은 부울, 잉곳, 퍽 및 웨이퍼 애플리케이션을 염두에 두고 설계되었습니다.
AerisCompact X-ray diffractometer |
Empyrean 범위Multipurpose X-ray diffractometer |
X'Pert³Thin Film Analysis XRD Systems |
Crystal orientation rangeFast and accurate orientation of wafers and ingots |
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|---|---|---|---|---|
| 기술 유형 | ||||
| X-ray Diffraction (XRD) | ||||
| 측정 유형 | ||||
| 입자 형상 | ||||
| 입자 크기 | ||||
| 결정 구조 결정 | ||||
| 상 식별 | ||||
| 상 정량화 | ||||
| 오염물 검출 및 분석 | ||||
| 에피택시 분석 | ||||
| 계면 거칠기 | ||||
| 3D 구조/영상 처리 | ||||
| 박막 계측학 | ||||
| 잔류 응력 | ||||
| Crystal orientation | ||||
| Cleanroom ISO 4 | ||||
| SECS/GEM | ||||