
초저황(ULS)용 Epsilon 1
낮은 운영 비용으로 규정 준수 분석
See our new edition | Epsilon for Ultra Low Sulfur. Find out more
Find out more연료에 함유된 황에 대해 관련 요건을 준수하는 분석을 위한 간편하고 경제적인 방법이 필요한 경우
Epsilon 1은 이상적인 분석 솔루션입니다. 이 시스템은 출고 전에 미리 보정이 완료되며 ASTM D4294, ISO 20847, ISO 8754, IP496, IP336 및 JIS K2541-4 요건 준수로 성능을 보장하는 새로운 방식의 솔루션입니다.
이들 방법은 XRF를 통한 석유 및 연료와 같은 석유 제품에 함유된 황 성분의 테스트에 관해 설명합니다.
최대 감도: Malvern Panalytical에서 설계하고 제조한 얇은 창 Ag 양극 X선 선관은 높은 품질과 감도를 보장합니다. Ag를 양극용 소재로 선택하여 XRF 스펙트럼에서 잠재적인 라인 겹침으로 인한 간섭 없이 인과 황 성분에 대한 정확한 정량화가 가능하며 이를 통해 결과의 신뢰성을 높여 줍니다. 50kV X선 선관과 제너레이터는 아연과 같이 더 높은 에너지 수준의 원소를 여기시키는 데 이상적이며 더 빠른 분석 시간을 제공합니다.
독립형 시스템: Microsoft Windows 7으로 작동하고 강력한 CPU와 120GB 하드 드라이브를 장착한 내장형 컴퓨터는 수천 개의 결과를 저장하고 처리하기 위한 유연성을 제공합니다. 고해상도의 10.4” LCD 터치스크린은 간편하고 준비된 작동에 이상적입니다.
간편한 통신: 표준 컴퓨터 주변 장치용 USB 및 네트워크 연결을 통해 사용의 확장성, 응용 프로그램 개발 및 앉아서 작업하는 오퍼레이터를 지원합니다.
외부 물질 침투로부터 보호: 외부 물질 침투 보호용 포일이 정교한 시스템 핵심부를 보호합니다. 외부 물질과 접촉이 일어난 경우 오퍼레이터가 쉽게 포일을 교체할 수 있습니다.
Epsilon 1은 최신 국제 테스트 방법에 따라 황 분석을 위해 사전 보정되어 있습니다. ASTM D4294, ISO 20847, ISO 8754, IP496, IP336 및 JIS K2541-4.
Epsilon 1은 최신 테스트 방법에 따라 연료에 포함된 황 분석을 위한 고성능 탁상용 XRF 기기입니다. ASTM D4294, ISO 20847, ISO 8754, IP496, IP336 및 JIS K2541-4.
황 성분에 대한 반복성 테스트 결과는 가장 까다로운 방법인 ASTM D4294에서 설정한 한도 내에서 잘 유지됩니다.
낮은 운영 비용으로 규정 준수 분석
낮은 운영 비용의 규정 준수 분석을 찾고 계십니까?
초저황(ULS) 분석용 Epsilon 1은 연료에 포함된 최소 5ppm 황 분석을 위한 고성능 탁상용 XRF 기기입니다.
공장에서 미리 보정한 Epsilon 1 ULS는 ISO 13032, TIER 3 및 ASTM 4294를 포함한 많은 관련 테스트 방법에 따라 자동차 연료의 초저황을 분석하기 위해 즉시 사용 가능한 솔루션입니다. 이 기기는 원유의 염소를 미량 분석할 수 있도록 사전 보정됩니다(옵션).
Epsilon 1은 헬륨을 사용할 필요 없이 최소한의 샘플 준비로 정확하고 정밀한 데이터를 제공하므로 총 운영 비용이 최소한으로 유지됩니다.
Very easy to use. Reproducible analysis. Very user-friendly.
Ivan Boninsegna — Aquafil S.p.a.
샘플 로딩 | 반복성이 우수한 샘플 위치 설정 |
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샘플 크기 | 일반적으로 5ml의 액체 |
Safety | 액체의 침투로부터 보호 |
규제 시험 | ASTM D4924 및 ISO 20847 요건을 준수하는 황 분석 |
Features | 안정성이 높은 세라믹 측면 창
50 마이크로미터 두께의 창(Be) 황 분석에 이상적인 은 양극 |
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전원 | 소프트웨어를 통해 조절되는 최대 전압 50kV |
해상도 | 일반적으로 135eV의 높은 분해능 |
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Features | 8 마이크로미터 두께의 창(Be)
높은 계수율 용량 |
인터페이스 | 간편한 사용을 위해 큰 버튼을 사용하는 오퍼레이터 모드
다양한 기능을 가진 고급 모드
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Claisse는 전 세계의 고객에게 경쟁력 있는 가격으로 CRM(인증 표준 물질) 및 RM(표준 물질)을 제공합니다. Claisse는 XRF, AA 및 ICP 분광 분석을 위한 완벽한 솔루션을 얻는 데 필요한 모든 서비스를 제공하기 위해 노력하고 있습니다.
Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 벤치톱 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다. Epsilon 소프트웨어는 Epsilon 벤치탑 시스템을 설정하고 운용하는 데 필요한 모든 기능을 제공합니다. 분석 프로그램 어셈블리가 소프트웨어에 내장된 높은 수준의 인텔리전스를 통해 활용되므로 사용자는 반세기에 이르는 작업 전문 지식을 활용할 수 있습니다. 이제 경험이 없는 직원도 최소한의 교육만 받으면 매일 반복되는 XRF 분석 작업을 일상적인 작업으로 편리하게 수행할 수 있습니다. 소프트웨어의 유용성을 향상시키기 위해 많은 기능이 제공됩니다.
Stratos 소프트웨어 모듈은 측정에서 획득한 층상 재료의 화학적 조성과 두께를 동시에 확인할 수 있는 알고리즘을 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어는 코팅, 표면층 및 다층 구조를 분석하는 빠르고 간단하며 비파괴적인 수단을 제공합니다. Virtual Analyst는 복잡한 스택에 대한 측정 프로그램을 설정하는 동안 인텔리전스를 제공합니다.
Epsilon 4 EDXRF 및 Zetium XRF 분광계에 사용할 수 있는 Stratos는 샘플 유형 또는 매트릭스에 관계없이 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다.
Omnian을 사용하면 전용 기법이나 인증된 표준물질이 존재하지 않는 상황에서도 가능한 최고의 분석을 수행할 수 있습니다. 트렌드세팅 비표준 분석 패키지인 Omnian은 기술을 초월한 첨단 소프트웨어와 설정 시료를 통합합니다. Epsilon 1, Epsilon 4 및 Zetium 분석기에 사용할 수 있는 Omnian은 시료 유형 또는 매트릭스에 관계없이 빠르고 안정적인 결과를 제공합니다.
Epsilon 4 EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 재료 테스트에 이상적입니다. FingerPrinting은 일반적으로 샘플 전처리가 거의 또는 전혀 필요하지 않으며 비파괴적입니다.
EDS(Enhanced Data Security) 모듈은 Zetium XRF 분광계(SuperQ 소프트웨어를 통해) 및 Epsilon XRF 분광계 사용자에게 결과의 신뢰성을 높여 주는 소프트웨어 옵션입니다. EDS는 고급 사용자 관리, 액션 로깅, 데이터 보호, 작업 프로그램 상태 지정 등의 기능을 통해 감사 추적을 강화하고 오류 위험을 최소화하며 XRF 장비가 예상대로 작동하고 있음을 입증할 수 있도록 지원합니다.
Epsilon 1을 올바르게 설치하면 신뢰할 수 있는 분석 결과를 얻을 수 있습니다. Epsilon 1은 간단하게 설치할 수 있습니다. 시스템의 포장을 풀고 플러그를 꽂은 다음, 안내 지침을 따르십시오. 마지막으로 간단한 방사선 검사를 통해 설치를 완료하고 시스템이 안전하게 작동하는지 확인합니다. Epsilon 1을 사용하는 것은 정말 쉽습니다. 그리고 더 중요한 것은 시스템에 필요한 안전 인증이 제공된다는 점입니다.
예기치 않은 상황이나 원격 위치로 인해 엔지니어가 시설에 접근할 수 없는 경우에도 자체 설치를 통해 새 장비를 가동하고 실행할 수 있습니다. Epsilon 1의 경우 안내에 따른 자체 설치를 제공하여 시스템을 직접 설치하고 장비의 무결성과 안전 인증을 유지할 수 있습니다.
안내에 따른 자체 설치의 이점:
버전 번호: 1
버전 번호: 5
버전 번호: 5
최신 소프트웨어 버전에 대한 지원을 문의 하십시오
Epsilon 1에 대한 자세한 내용은 당사의 기본 지침 동영상 시리즈를 참조하십시오.
장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
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