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연료에 함유된 황 분석용 Epsilon 1

연료에 함유된 황 분석을 위한 가장 간편한 방법

연료에 함유된 황에 대해 관련 요건을 준수하는 분석을 위한 간편하고 경제적인 방법이 필요한 경우 

Epsilon 1은 이상적인 분석 솔루션입니다. 이 시스템은 출고 전에 미리 보정이 완료되며 ASTM D4294, ISO 20847, ISO 8754, IP496, IP336 및 JIS K2541-4 요건 준수로 성능을 보장하는 새로운 방식의 솔루션입니다. 

이들 방법은 XRF를 통한 석유 및 연료와 같은 석유 제품에 함유된 황 성분의 테스트에 관해 설명합니다.

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개요

Epsilon 1은 ASTM D4294, ISO 20847 ISO 8754, IP496, IP336 및 JIS K2541-4와 같은 최신의 국제적 표준 테스트 방법을 따라 황 성분 분석을 위해 사전 보정됩니다.

Periodic Table FUELS MP style.jpg

Epsilon 1은 ASTM D4294, ISO 20847 ISO 8754, IP496, IP336 및 JIS K2541-4와 같은 최신의 국제적 표준 테스트 방법에 따라 연료에 함유된 황 성분 분석을 위해 최고의 성능을 제공하는 벤치톱 XRF 기기입니다. 황 성분에 대한 반복성 테스트 결과는 가장 까다로운 방법인 ASTM D4294에서 설정한 한도 내에서 잘 유지됩니다.

Epsilon1SulfurFuels7.jpg

특징

최대 감도

Malvern Panalytical에서 설계하고 제조한 얇은 창 Ag 양극 X선 선관은 높은 품질과 감도를 보장합니다. Ag를 양극용 소재로 선택하여 XRF 스펙트럼에서 잠재적인 라인 겹침으로 인한 간섭 없이 황 성분에 대한 정확한 정량화가 가능하며 이를 통해 결과의 신뢰성을 높여 줍니다.
최대 감도

독립형 시스템

Microsoft Windows 7으로 작동하고 강력한 CPU와 120GB 하드 드라이브를 장착한 내장형 컴퓨터는 수천 개의 결과를 저장하고 처리하기 위한 유연성을 제공합니다. 고해상도의 10.4” LCD 터치스크린은 간편하고 준비된 작동에 이상적입니다.
독립형 시스템

간편한 통신

USB 및 네트워크 연결을 통해 앉아서 작업하는 오퍼레이터에게 편리함을 제공하면서 사용의 확장성과 응용 분야 개발에 필요한 표준 컴퓨터 주변 장치 사용할 수 있습니다.
간편한 통신

외부 물질 침투로부터 보호

시스템의 정교한 심장부를 외부 물질 침투로부터 보호하기 위해 보호용 포일이 씌워져 있습니다. 외부 물질과 접촉이 일어난 경우 오퍼레이터가 쉽게 포일을 교체할 수 있습니다.
외부 물질 침투로부터 보호

ISO 13032

낮은 운영 비용의 규정 준수 분석을 찾고 계십니까?

Epsilon 1은 황 분석을 위한 고성능 벤치탑 XRF 장비로 ISO 13032를 준수합니다. 

이 장비는 공장에서 사전 보정되었으며 연료 내 낮은 유황 함량을 분석하기 위한 즉시 사용 가능한 솔루션으로 ISO 13032를 준수합니다. 옵션으로 이 장비는 원유의 염소를 미량 분석할 수 있도록 사전 보정됩니다.  

Epsilon 1은 헬륨을 사용할 필요 없이 최소한의 샘플 준비로 정확하고 정밀한 데이터를 제공합니다. 이렇게 하면 총 운영 비용이 최소한으로 유지됩니다.

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낮은 운영 비용의 규정 준수 분석을 찾고 계십니까?

사양

샘플 처리X선관검출기소프트웨어 특징
반복성이 우수한 샘플 위치 설정안정성이 높은 세라믹 측면 창일반적으로 135eV의 높은 분해능간편한 사용을 위해 큰 버튼을 사용하는 오퍼레이터 모드
일반적으로 5ml의 액체50 마이크로미터 두께의 창(Be)8 마이크로미터 두께의 창(Be)다양한 기능을 가진 고급 모드
액체의 침투로부터 보호황 분석에 이상적인 은 양극높은 계수율 용량
ASTM D4924 및 ISO 20847 요건을 준수하는 황 분석소프트웨어를 통해 조절되는 최대 전압 50kV

악세서리

표준(참조 물질)

RoHS

RoHS 제한 물질의 정확한 원소 분석
RoHS

TOXEL

XRF를 사용한 폴리머 및 플라스틱 내 독성 원소의 정확한 분석
TOXEL

CRM

Claisse는 항상 여러분의 필요를 충족시키기 위해 존재합니다!
CRM

소프트웨어

Epsilon 소프트웨어

Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 벤치톱 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다.

Epsilon 소프트웨어

Stratos

이 소프트웨어는 코팅, 표면층 및 다층 구조를 분석하는 빠르고 간단하며 비파괴적인 수단을 제공합니다.
Stratos

Omnian

Omnian 소프트웨어를 사용하면 전용 분석법이나 인증된 표준물질이 없더라도 가장 최적의 분석을 수행할 수 있습니다.

Omnian

FingerPrint

Epsilon EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 물질 테스트에 이상적입니다.

FingerPrint

지원팀

서비스

투자 수익 극대화를 위한 솔루션

장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.

지원팀

평생 서비스

  • 전화 및 원격 지원
  • 예방적 유지보수 및 점검
  • 유연한 고객 관리 계약
  • 성능 인증서
  • 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
  • 지역 및 글로벌 지원

전문 기술

공정에 가치 추가 

  • 샘플 준비 개발/최적화
  • 분석 방법 
  • XRD를 위한 턴키 솔루션 
  • IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실 간 연구를 통한 운영
  • 연구실 공정 자동화
  • 자문 서비스

훈련 및 교육

  • 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
  • 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정

분석 서비스 및 교정 물질

  • 전문가(XRF) 분석 서비스
  • 산화물 및 미량 분석
  • 맞춤형 교정 물질