SciAps X-50

많은 응용 분야에 적합하며 더 큰 가치를 제공하는 클래식 모델

새롭게 설계된 SciAps X-50은 시중에서 가장 성능이 뛰어난 휴대용 X선 형광(XRF) 분석기로, 비용 효율적인 SDD 검출기가 탑재되었습니다. 

  • X선관: 40kV, Rh 양극(합금) 또는 50kV 양극(지구화학, 토양, 기타)
  • 검출기 속도: 7mm2 실리콘 드리프트 검출기(SDD)(활성 영역), 5.95Mn K 알파 라인에서 170eV 해상도 FWHM

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개요

SciAps X-50은 전이 금속 및 중금속에 대한 기본 분석에 적합합니다. 특히 Mg, Al, Si, S 또는 P를 측정할 필요가 없을 경우 완벽한 선택입니다. 

당사에서는 새로운 내부 회로 보드와 새로운 하우징 및 금속 구성 요소, 최신 소프트웨어 및 사용자 인터페이스, 전체 재보정을 통해 기존 검출기 기술을 새롭게 설계했습니다. 또한 샘플 확인용 내장형 고해상도 카메라와 사진 문서화 또는 2D/3D 바코드 판독 및 저장용 매크로 카메라 등 더 많은 기능을 탑재했습니다.

가격 대비 뛰어난 성능을 자랑하는 XRF는 SciAps의 보다 세련된 모델에 비하면 부피가 있지만 변함없이 동급 최고의 분석 성능과 속도를 검출기 플랫폼에 제공하며, 다른 브랜드보다 2배 이상 높은 속도로 작동합니다. 

강력한 소형 X선관과 한층 진보한 내장 지오메트리의 결합으로 빠르고 정밀한 결과를 얻을 수 있습니다.

표준 원소 패키지

아래 표에 X-50에 대한 표준 원소 패키지가 나와 있습니다. 

다른 원소가 필요하신가요? 언제든지 문의하십시오! 당사는 특정 응용 분야에 대해 자주 원소를 추가하거나 대체합니다.

응용 분야 빔 1(40kV) 빔 2(10kV) 빔 3(50kV)
광업 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ag, Sn, Sb S, K, Ca N/A
토양 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi, Ag, Cd, Sn, Sb N/A N/A
합금 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb N/A N/A
정밀금속 Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb N/A N/A

사양

무게 3.1lb, 배터리 포함
크기 9.38"(238mm) x 11.15"(283mm) x 3.34"(84mm)
전원
내장형 충전식 리튬 이온 배터리, 장치 내부 또는 외부 충전기로 충전 가능, AC 전원, 핫스왑 기능(최대 스왑 시간 60초)
디스플레이
3.5인치(88.9mm) 컬러 정전식 터치스크린 - 400MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3D 그래픽 가속기
Data Transfer
Wifi, Bluetooth, USB
SciAps Profile Builder PC 소프트웨어를 포함한 대부분의 장치에 연결 가능
Excitation source
4W, 40kv Rh(합금), 50kv Au(기타 응용 분야).
검출기
7mm2 실리콘 드리프트 검출기(SDD)(활성 영역), 5.95Mn K 알파 라인에서 170eV 해상도 FWHM
X-Ray filtering
합금, 광업, 귀금속용 단일 프라이머리 빔
토양, RoHS, 자동차 촉매 및 기타 응용 분야용 다중 필터
Processing electronics and host processor
1.2GHz 쿼드 ARM Cortex A53 64/32비트
RAM: 2GB LP-DDR3
스토리지: 16GB eMMC(스토리지)
Pulse processor
80MSPS 디지털화 속도의 12비트 해상도, 8K 채널 MCA, 호스트 프로세서로의 고속 데이터 전송을 위한 USB 2.0
20nS~24uS 피크 타임의 고처리량 펄스 처리를 위한 FPGA 기반 디지털 필터링 구현
캘리브레이션의 타입
기본 매개변수
Calibration check
보정 검증 및 에너지 스케일 확인을 위한 외부 316 스테인리스 검사 표준
온도 범위
25% 듀티 사이클에서 10°F~130°F
Security
암호로 보호된 사용(사용자 수준) 및 내부 설정(관리자)
규제 시험
CE, RoHS, USFDA 등록, 캐나다 RED Act

악세서리

분석 능력 향상

OneBox

모든 Z 시리즈와 업계를 선도하는 당사의 XRF 장치를 연동하면 주기율표 상의 모든 원소와 모든 샘플 유형에서 최적의 분석 결과를 얻을 수 있습니다. 동일한 배터리, 케이블, 충전기 및 기타 액세서리.

  • LIBS: XRF에서 테스트할 수 없는 원소인 Li, Be, B, C, F, Na 등을 분석합니다. XRF에 비해 Mg, Ca, K에서 성능이 개선되었습니다. 100um 레이저 스팟 사이즈를 이용한 미세 분석.  
  • XRF: 전이 금속 및 중금속에 적합합니다. 특히 대량 샘플, 토양, 광석 유형의 재료에 사용하기 쉽습니다.
자세한 내용
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사용자 매뉴얼

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광범위한 분석을 위한 클래식 모델.

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