SciAps X-555

업계 최고의 검출 한계

  • Ag, Cd, Sn, Sb, Ba와 같은 주요 원소에 대한 매우 낮은 검출 한계
  • 최대 3개의 자동 빔 설정이 가능한 강력한 55kV X선관
  • 시장에서 가장 진보한 휴대용 XRF 기술

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진보한 휴대용 XRF 기술

프리미엄 성능은 가장 진보된 휴대용 XRF 기술에서 시작됩니다. SciAps X-555 X선 형광(XRF) 분석기는 55kV X선관을 탑재하여 Ag, Cd, Sn, Sb, Ba와 같은 주요 원소에 대해 매우 낮은 검출 한계를 제공합니다. 

최대 3개의 자동 빔 설정을 통해 Mg에서 U까지 주기율표 전체에 걸쳐 최적의 성능을 제공합니다. 최첨단 소프트웨어와 뛰어난 열 방출 기능을 갖춘 견고한 기기에 기능이 통합되어 있습니다.

업계 최고의 검출 한계

55kV X선관을 선택해야 하는 이유 경원소 희토류(REE)의 배출을 효과적으로 자극하기 위해 필요한 X선 에너지는 40~48 keV 범위입니다. 휴대용 장치의 일반적인 X선관은 최대 50kV까지만 작동하므로, 희토류(REE) 여기에 유용한 X선 에너지는 극히 일부에 불과합니다.

X선관을 최대 55kV까지 작동시키면, 경원소 희토류(REE)와 첫 두 개의 중원소 REE인 가돌리늄과 유로퓸에서 방출되는 X선 에너지를 약 10배 더 확보할 수 있습니다. 휴대용 XRF는 모든 중원소 희토류(REE)를 유의미하게 측정할 만큼 높은 전압으로 작동할 수 없지만, X-555는 희토류 중원소의 일반적인 경로 지표인 이트륨을 매우 민감하게 분석할 수 있습니다.

탁월한 차폐 기능과 4mm 직경 빔 콜리메이션을 갖춘 X-555는 암석 표면 및 코어에 직접 사용할 수 있습니다. 컵형 또는 봉지에 담긴 샘플을 안전하게 분석할 수 있도록 인터락 테스트 스탠드를 장착할 수도 있습니다.

간섭이 없는(SiO2) 샘플과 여러 간섭 원소가 포함된 난이도 높은 OREAS 희토류(REE) 광석에 대한 값입니다. LOD는 배경보다 높은 3시그마 수준에서 계산되며 테스트 시간은 120초입니다.

원소 LOD 간섭 없는(SiO2) 샘플 OREAS "실제 환경" 샘플의 LOD
La 13 15
Ce 15 19
Pr 18 34
Nd 27 33
Sm 30 35
Eu 60 120*
Gd 90 180*
* Eu와 Gd의 "실제 환경" LOD는 추정치이며, OREAS 샘플에서 도출된 값이 아닙니다

전 세계에서 사용하는 제품: X-555 응용 분야

SciAps XRF 분석기는 배터리 장착 시 무게가 1.36kg(3lbs) 미만으로 역대 가장 가벼운 제품입니다. 내구성 있는 항공우주 등급 알루미늄 프레임은 Oops 테스트 및 10미터 낙하 테스트를 통과했습니다.

열 방출이 개선된 재설계된 하우징은 고객이 요구하는 높은 처리량 테스트를 지원합니다.

좁고 가느다란 폼 팩터를 채택하여 가장 험난한 검사 지점에도 접근할 수 있으며, 2.7인치(68.6mm) 디스플레이를 통해 후방에서 등급 및 화학 검사를 수행할 수 있습니다.

Mg, Al, Si, P, S 등 최소 검출 한계가 중요한 경원소에서 업계 최고 수준의 성능을 제공하며, 동시에 Ag, Sn, Sb 등 중원소 및 희토류 원소에서도 놀라운 정밀도를 실현하기에 충분한 기능을 갖췄습니다.

X-555는 감도를 최적화하기 위해 적절한 필터링을 갖추고 있으며, 다른 XRF보다 카드뮴 검출에 대해 2배 더 우수한 분석 성능을 제공합니다!

업계에서 가장 강력한 X선관을 탑재하여 특히 카드뮴, 은, 주석, 안티몬, 바륨에 대해 우수한 검출 한계를 제공합니다.

신형 Z-901 Beryllium과 결합하면 13가지 EPA 우선 오염 금속도를 분석할 수 있습니다. 작업자는 Z-901 Lithium을 리튬, 붕소, 탄소, 질소, 플루오린, 나트륨 등도 테스트에 포함하도록 업그레이드할 수 있습니다.

X-555 GeChem 사양을 다운로드하세요.

차세대 연결, 테스트 데이터 관리 및 보고 기능을 통해 RoHS, 할로겐 프리, CPSIA, 어린이 놀이터 내 납 페인트 등 모든 범위의 규정 준수 테스트 응용 분야에서 X-555의 핵심 기능을 사용할 수 있습니다.

최첨단 데이터 관리 기능을 유연한 Android 시스템에 통합하여 최고의 사용자 지정 및 데이터 관리 기능을 제공합니다. 

업계 표준 50kV가 아닌 55kV의 작동을 제공하는 X-555는 중요한 '경원소' 희토류(REE) 및 일부 '중원소' REE에 대해 더 우수한 성능을 발휘하므로 전 세계적으로 REE 분석에 있어 탁월한 선택입니다.

금속 분석

금속 분석 및 합금 제조를 위한 분석 솔루션
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토양 분석

규제 기준 내에서 토양의 질을 모니터링하고 제어합니다.
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채광용 솔루션

탐사에서 광물 처리까지 회수율 및 공정 효율성 향상
채광용 솔루션

사양

무게
2.98lb (1.35kg), 배터리 포함
크기
8.5 x 9.5 x 2.4인치
디스플레이
2.7인치 고휘도 컬러 정전식 터치스크린, 400MHz Qualcomm Adreno 306 2D/3D 그래픽 가속기. 어떤 조건에서도 결과를 쉽게 확인하고 읽을 수 있는 후면 디스플레이.
전원
내장형 충전식 리튬 이온 배터리, 장치 내부 또는 외부 충전기로 충전 가능, AC 전원. 핫 스왑 기능(최대 스왑 시간 60초).
Data Transfer
PC나 태블릿용 SciAps Profile Builder 소프트웨어를 포함하여 대부분 기기에 WiFi, Bluetooth, USB로 연결
Security
구성 가능한 액세스를 포함하여 암호로 보호되는 다중 사용자 지원.
Excitation source
5W X선관 최대 55kV, 200uA Au 양극.
검출기
50mm2 실리콘 드리프트 검출기(활성 영역), 5.95Mn K 알파 라인에서 <140eV 해상도 FWHM
프로세서
1.2GHz ARM Cortex-A53 쿼드 코어, 64/32비트
RAM: 2GB LPDDR3
스토리지: 16GB eMMC
Pulse processor
80MSPS 디지털화 속도의 12비트 해상도, 8K 채널 MCA, 호스트 프로세서로의 고속 데이터 전송을 위한 USB 2.0
20nS~24uS 피크 타임의 고처리량 펄스 처리를 위한 FPGA 기반 디지털 필터링 구현
온도 범위
25% 듀티 사이클에서 10F~130F(-12C~54C)
규제 시험
CE, RoHS, USFDA 등록. 캐나다 RED Act
응용 분야
희토류 원소용 토양 및 광산 탐사
X-Ray filtering
빔 최적화를 위한 6단 필터 휠
Calibration check
보정 검증 및 파장 스케일 확인을 위한 내부 316 스테인리스 검사 표준
Quantified elements
2개 원소 표준, 특정 원소는 앱에 따라 다릅니다. 사용자 요청 시 추가 원소를 추가할 수 있습니다
캘리브레이션의 타입
기본 매개변수. 지구화학 및 환경 토양 응용 분야의 경우 "컴프턴 정규화" 방법을 선택하거나 실증적으로 도출된 보정도 사용 가능
Calibration check
보정 검증 및 에너지 스케일 확인을 위한 외부 316 스테인리스 검사 표준

악세서리

분석 능력 향상

OneBox

모든 Z 시리즈와 업계를 선도하는 당사의 XRF 장치를 연동하면 주기율표 상의 모든 원소와 모든 샘플 유형에서 최적의 분석 결과를 얻을 수 있습니다. 동일한 배터리, 케이블, 충전기 및 기타 액세서리.

  • LIBS: XRF에서 테스트할 수 없는 원소인 Li, Be, B, C, F, Na 등을 분석합니다. XRF에 비해 Mg, Ca, K에서 성능이 개선되었습니다. 100um 레이저 스팟 사이즈를 이용한 미세 분석.  
  • XRF: 전이 금속 및 중금속에 적합합니다. 특히 대량 샘플, 토양, 광석 유형의 재료에 사용하기 쉽습니다.
자세한 내용
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강력하고 콤팩트한 원소 분석.

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