Wafer XRD 200

방위각 스캔을 기반으로 하는 Wafer XRD 200은 웨이퍼 계측을 위한 초고속 고정밀 솔루션으로, 다양한 추가 옵션을 제공합니다.

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{{ row.title }}	{{ row.softwareVersion }}	{{ row.date }}	{{ product }}	다운로드

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