As layers of pure metals or alloys are used to enhance certain features of a product, it is important to precisely and accurately determine coating thickness. Quality control of metal coatings requires non-destructive, elemental analysis as well as detailed characterization of physical properties. X-ray fluorescence (XRF), X-ray diffraction (XRD) and particle shape analysis are non-destructive, non-contact analytical techniques that require little or no sample preparation, making them ideal for this application. 

Typical applications include:

  • Steel pre-treatment processes 
  • TiN for machining iron-based materials
  • CrC with high temperature oxidation resistance used in die casting
  • Tungsten carbide/carbon (WC/C) for coating and protecting highly-loaded precision components, gears and drives, engine components, hydraulic pumps and compressors
  • Conductive coatings such as metalized plastic used in food packaging 

Gama do Morphologi

Gama do Morphologi

Imagens automatizadas para caracterização avançada de partículas

Mais detalhes
Medição Identificação química, Forma da partícula, Tamanho da partícula
Faixa de tamanho das partículas: 0.5µm - 1000µm
Tecnologia Análise de imagem
Tipo de dispersão Via úmida, A seco

Empyrean

Empyrean

O difratômetro inteligente

Mais detalhes
Medição Crystal structure determination, Identificação de fase, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Análise de textura, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
Configuração de Goniômetro Vertical goniometer, Θ-Θ
Faixa de tamanho das partículas: 1 - 100 nm
Tecnologia X-ray Diffraction (XRD)

The metals edition of Zetium

The metals edition of Zetium

The new element in metals

Mais detalhes
Medição 3D structure / imaging
Precisão 1% (sem condensação)
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF)

Epsilon 3X range

Epsilon 3X range

For every analytical problem there is a tailored solution

Mais detalhes
Medição 3D structure / imaging
Gama elementar C-Am
Resolução (Mg-Ka) 145eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra 80per 8h day - 160per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF)

Gama do Morphologi

Gama do Morphologi

Imagens automatizadas para caracterização avançada de partículas

Empyrean

Empyrean

O difratômetro inteligente

The metals edition of Zetium

The metals edition of Zetium

The new element in metals

Epsilon 3X range

Epsilon 3X range

For every analytical problem there is a tailored solution

Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes
Medição Identificação química, Forma da partícula, Tamanho da partícula Crystal structure determination, Identificação de fase, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Análise de textura, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis 3D structure / imaging 3D structure / imaging
Faixa de tamanho das partículas: 0.5µm - 1000µm 1 - 100 nm    
Configuração de Goniômetro   Vertical goniometer, Θ-Θ    
Precisão     1% (sem condensação)  
Gama elementar       C-Am
Resolução (Mg-Ka)       145eV
LLD       1 ppm - 100%
processamento de amostra       80per 8h day - 160per 8h day
Tecnologia Análise de imagem X-ray Diffraction (XRD) X-ray Fluorescence (XRF) X-ray Fluorescence (XRF)
Tipo de dispersão Via úmida, A seco      

Gama do Morphologi

Empyrean

The metals edition of Zetium

Série Epsilon

Gama do Morphologi Empyrean The metals edition of Zetium Série Epsilon

Imagens automatizadas para caracterização avançada de partículas

O difratômetro inteligente

The new element in metals

Rapidez e precisão na análise elementar e em linha

Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes
Tecnologia
Análise de imagem
X-ray Diffraction (XRD)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
X-ray Fluorescence (XRF)