Download the brochure - In-operando XRD battery research and quality control solutions. Download now
Download nowAtendendo à comunidade de difração de raios X por quase um século
Os difratômetros de raios X foram projetados para obter dados de difração de altíssima qualidade, em conjunto com a facilidade de uso e a flexibilidade para rapidamente alternar para diferentes aplicações.
Nossos difratômetros são usados em vários ambientes, desde universidades e institutos de pesquisa até laboratórios de controle de processos industriais. Seja qual for sua necessidade de difração de raios X (XRD), oferecemos o instrumento certo, com o suporte de nossa organização mundial de vendas e serviços.
Os nossos difratômetros multifuncionais (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD XL) estão todos equipados com módulos PreFIX (Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray), fazendo com que o usuário não tenha nenhum esforço em uma alteração no trajeto óptico. Por esse motivo, oferecemos a maioria das aplicações em uma única plataforma de difratômetro. Leia mais em nosso centro de conhecimento sobre as várias aplicações de XRD que você pode fazer com nossos equipamentos.
Prepare-se para se surpreender com nosso sistema XRD rápido e altamente preciso. Resultados precisos podem ficar prontos em menos de cinco minutos.
Nossa óptica MultiCore recém-projetada permite a maior variedade de medições sem qualquer intervenção manual.
A longa e bem-sucedida história de nossos difratômetros para pesquisa de materiais continua com uma nova geração de X'Pert³.
Nossas soluções de orientação de cristal são projetadas tendo em mente aplicações de boule, lingote, disco e wafer.
AerisCompact X-ray diffractometer |
Variedades do EmpyreanMultipurpose X-ray diffractometer |
X'Pert³Thin Film Analysis XRD Systems |
Crystal orientation rangeFast and accurate orientation of wafers and ingots |
|
|---|---|---|---|---|
| Tecnologia | ||||
| X-ray Diffraction (XRD) | ||||
| Tipo de medição | ||||
| Forma da partícula | ||||
| Tamanho da partícula | ||||
| Determinação de estrutura cristalina | ||||
| Identificação de fase | ||||
| Quantificação de fase | ||||
| Detecção e análise de contaminantes | ||||
| Análise de epitaxia | ||||
| Rugosidade da interface | ||||
| Estrutura/imagem 3D | ||||
| Metrologia de filme fino | ||||
| Tensão residual | ||||
| Crystal orientation | ||||
| Cleanroom ISO 4 | ||||
| SECS/GEM | ||||
