X'Pert³

Sistema XRD versátil para pesquisa e desenvolvimento

A bem-sucedida plataforma X'Pert é continuada pela linha X'Pert³ de sistemas de difração de raios X da Malvern Panalytical. Com os novos componentes eletrônicos de controle integrados, conformidade com as mais recentes e rigorosas normas de segurança de raios X e movimentos, avanços na sustentabilidade e confiabilidade, a plataforma X'Pert³ está pronta para o futuro.

• Vida útil mais longa dos componentes do feixe incidente com CRISP 
• Tempo de atividade máximo com obturadores pneumáticos e atenuadores de feixes 
• Extensão fácil para novas aplicações graças à tecnologia PreFIX de segunda geração 
• Troca rápida, confiável e sem ferramentas da posição de foco do tubo 
• Novo sistema eletrônico de controle integrado com conexão direta com a Internet 
• Conformidade com os mais rigorosos regulamentos de segurança

X'Pert³ MRD

Os sistemas X'Pert³ MRD oferecem soluções avançadas e inovadoras de difração de raios X, desde a pesquisa até o desenvolvimento e controle de processos.

Os recursos incluem

  • Bolacha máx. diâmetro: 100mm
  • SEC/GEM
  • Sala Limpa ISO 4
X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Uma plataforma de montagem PreFIX extra permite a montagem de um espelho de raios X e um monocromador de alta resolução em linha, aumentando significativamente a intensidade do feixe incidente.

Os recursos incluem

  • Bolacha máx. diâmetro: 300mm
  • SEC/GEM
  • Sala Limpa ISO 4
X'Pert³ MRD XL

Como nossos produtos se comparam

  • X'Pert³ MRD

    Versátil sistema XRD de pesquisa e desenvolvimento

    X'Pert³ MRD

    Tecnologia

    • X-ray Diffraction (XRD)

    Tipo de medição

    • Identificação de fase
    • Quantificação de fase
    • Metrologia de filme fino
    • Tensão residual
    • Rugosidade da interface
    • Análise de epitaxia
    • Análise de textura
    • Análise de espaço recíproco

    Wafer max. diameter

    • 100 mm
    • SECS/GEM
    • Cleanroom ISO 4
  • X'Pert³ MRD XL

    Versátil sistema XRD de pesquisa, desenvolvimento e controle de qualidade

    X'Pert³ MRD XL

    Tecnologia

    • X-ray Diffraction (XRD)

    Tipo de medição

    • Identificação de fase
    • Quantificação de fase
    • Metrologia de filme fino
    • Tensão residual
    • Rugosidade da interface
    • Análise de epitaxia
    • Análise de textura
    • Análise de espaço recíproco

    Wafer max. diameter

    • 300 mm
    • SECS/GEM
    • Cleanroom ISO 4