Orientação cristalina rápida e precisa
Cristal é um padrão de repetição de átomos, ou seja, o que vemos do ponto de vista de um elétron/fóton entrando neste cristal dependerá do ângulo pelo qual olhamos esse cristal. A visão pode ser um canal que aponta todo o caminho através do cristal ou apenas as três camadas superiores do material, portanto, as propriedades do material podem ser muito diferentes dependendo do ângulo. Um bom controle das propriedades do material requer um bom controle da orientação do cristal.
É um processo importante na implantação iônica, litografia, epitaxia, mas também, por exemplo, ao fazer um laser ou componentes óticos.
A gama Orientação de cristal é baseada na projeção Azimutal, uma técnica de medição geométrica inteligente para orientar o cristal. Isso significa que podemos encontrar não apenas a inclinação do eixo principal, mas também todas as direções in-plain com a rapidez de 10 segundos. Os instrumentos podem medir praticamente qualquer forma, desde que seja um único cristal, como wafers, lingotes, massas fundidas, discos etc.
Bem projetado para aplicações industriais, como fabricantes de cristal único ou wafer, fins de pesquisa, mas também para controle de qualidade de wafers e outros dispositivos,
Nossos sistemas de orientação de cristal altamente precisos oferecem medições simples e rápidas de orientação de cristal, garantindo que as propriedades desejadas estejam presentes para as próximas etapas de processamento.
Ultra-fast, bottom surface measuring crystal orientation in a compact package
Os recursos incluem
Ultra-fast, flexible, top surface measuring crystal orientation in a compact package
Os recursos incluem
Fully automated vertical three-axis X-ray diffractometer for ultra-fast crystal orientation
Os recursos incluem
Fast, precise and fully equipped solution for wafer orientation and sorting
Os recursos incluem
Integratable wafer orientation solution
Os recursos incluem
Fully automated in-line orientation and handling of ingots, boules, and pucks
Os recursos incluem
Ultrarrápido, orientação de cristal de medição de superfície inferior em um pacote compacto
Medição de orientação de cristal de superfície superior ultrarrápida em um pacote compacto
Difratômetro de raios X vertical de três eixos totalmente automatizado para orientação ultrarrápida do cristal
Solução rápida, precisa e totalmente equipada para orientação e classificação da bolacha
Sua solução integrável da orientação do wafer
Orientação em linha totalmente automatizada e manuseio de lingotes, bocais e discos
