DDCOM

Ultrarrápido, orientação de cristal de medição de superfície inferior em um pacote compacto

  • Orientação precisa do cristal completo em segundos
  • Baixo consumo de energia e custos operacionais
  • Alta precisão até 0,01°

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Visão geral

Determine a orientação completa do cristal precisamente em segundos usando nosso método eficiente e preciso. Com baixo consumo de energia e custos operacionais, o DDCOM é ideal para aplicações de pesquisa e indústria.

Orientação de cristal ultrarrápida e precisa (até (1/100)o na ponta dos seus dedos. O DDCOM gera resultados confiáveis mais de 100 vezes mais rápido do que os métodos tradicionais com economia de tempo adicional devido à geometria de medição de baixo para cima. Este instrumento altamente versátil utiliza um tubo de raios X resfriado a ar e design portátil para garantir menores custos de operação e máxima conveniência.

Recursos

  • Formato compacto e fácil de usar

    O design compacto do DDCOM permite que o sistema se encaixe em qualquer configuração. O software é poderoso e intuitivo, tornando-o prático e fácil de operar para uma variedade de usuários.

  • Rápido e preciso

    Este método requer apenas uma rotação de digitalização para reunir todos os dados necessários para a determinação da orientação do cristal. A medição relativa ao eixo de rotação aumenta a taxa de transferência, proporcionando resultados precisos em apenas alguns segundos.

  • Versátil e econômico

    O DDCOM está bem equipado para ambientes de pesquisa e produção em que uma variedade de tipos de amostra precisa ser analisada. Os custos operacionais são baixos para o DDCOM, graças ao seu baixo consumo de energia e à ampola de raios X refrigerada a ar. Não é necessário resfriamento a água.

  • Controle preciso e eficiente

    Mantenha o controle dos processos de corte, moagem e lapidação com alta precisão de até 1/100o. O DDCOM oferece orientação completa de treliça de cristais únicos. Ativado pelos parâmetros de cristal pré-programados, ele também determina orientação desconhecida arbitrária de várias estruturas. O recurso de configuração Azimutal, juntamente com a marcação da orientação de cristal, ajuda a refinar o fluxo de trabalho para maior eficiência.

Materiais mensuráveis

O instrumento pode medir diversos materiais diferentes com estruturas variadas, oferecendo flexibilidade a qualquer laboratório. Alguns exemplos de materiais mensuráveis incluem:

  • Orientação cúbica e arbitrária desconhecida: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
  • Orientação cúbica e especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
  • Tetragonal: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
  • Hexagonal e trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (quartzo), Al2O3 (safira), GaPO4, La3Ga5SiO14
  • Ortorrômbico: Mg2SiO4, NdGaO

Principais aplicações

Controle de orientação de cristal para corte, moagem e lapidação
Devido à sua pequeno impacto, capacidades de automação e alta velocidade de medição, o DDCOM XRD oferece uma maneira prática e fácil de medir a orientação do cristal, permitindo o controle preciso e eficiente dos processos de corte, moagem e lapidação.
Definição e marcação da orientação do cristal
O DDCOM é equipado para a configuração azimutal e a marcação da orientação do cristal. A marcação do wafer depende da precisão excelente e da monitoração rápida, e o DDCOM fornece a velocidade e a precisão que seu processo necessita. Leve e portátil, é facilmente integrado na sua configuração existente ou como parte de um novo processo.
Controle de qualidade
A velocidade de medição e o tempo de produção são cruciais para o controle de qualidade da produção, mas para medições de rotina, também é importante manter os custos operacionais baixos. O DDCOM não é apenas eficiente em capacidade de processamento e produtividade devido à geometria de medição de cima para baixo, mas também no uso de energia, mantendo seus custos mais baixos e seus processos funcionando de forma ideal, sem comprometer a qualidade.
Pesquisa de materiais
Capaz de medir uma versátil variedade de tipos de cristal com um pequeno impacto no laboratório, o DDCOM é ideal para fluxos de trabalho de pesquisa padrão. Os custos de funcionamento são reduzidos graças ao consumo de energia minimizado e a uma ampola de raios X refrigerada a ar, sem necessidade de resfriamento a água. O DDCOM também é acessível e fácil de operar para uma variedade de níveis de experiência, tornando-se uma solução prática para laboratórios de pesquisa.

Especificação

Especificação técnica

X-ray generator
Ampola de raios X refrigerada a ar de 30 W, ânodo de Cu
Detector
Dois contadores de cintilação
Sample holders
Mesa giratória precisa, precisão de ajuste de 0,01°, ferramentas para posicionamento e marcação de amostras definidas

Especificação física

Dimensões
600 mm × 600 mm × 850 mm
Peso
80 kg
Potência
100-230 V, 500 W, monofásica
Faixa de temperatura ambiente
≤ 30° C

Opções de configuração

Opções
Dispositivo para mapeamento de wafers (diâmetro máximo 225 mm)
Dispositivo para carregamento automático a partir de cassetes

Exemplos de materiais mensuráveis

Materiais
Orientação cúbica/arbitrária desconhecida: Si, Ge, GaAs, GaP, AlAs, AlP, InP, NaCl, AgCl, CaF 2
Orientação cúbica/especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC 3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl 2 O 4 , SrTiO 3 , LaTiO 3
Tetragonal: MgF 2 , TiO 2 , SrLaAlO 4
Hexagonal/Trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO 3 , SiO 2 (quartzo), Al 2 O 3 (safira), GaPO 4 , La 3 Ga 5 SiO 14
Ortorrômbico: Mg 2 SiO 4 , NdGaO 3
Materiais adicionais de acordo com as demandas dos clientes

Acessórios

Aprimore seu fluxo de trabalho

Dispositivo para mapeamento de wafer

Complemento opcional para explorar e mapear a orientação do cristal ou distorções de superfície.

Carregamento automático a partir do cassete

Uma ferramenta extra para permitir o carregamento automático de amostras a partir de um cassete, melhorando o tempo de produção e a eficiência do fluxo de trabalho.

Manuais do usuário

Downloads de software

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Suporte

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Conhecimento

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