SDCOM

Medição de orientação de cristal de superfície superior ultrarrápida em um pacote compacto

  • Analise diâmetros de cristal de 2 mm a 300 mm
  • Usa método de varredura azimutal para análise em segundos
  • Adapta-se facilmente a muitos processos de wafer e lingote

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Visão geral

A medição rápida e precisa da orientação de cristal nunca foi tão acessível: conheça o SDCOM, seu XRD compacto e fácil de usar. O método de projeção azimutal permite medições ultrarrápidas, com resultados retornados em menos de dez segundos. 

Oferecendo o mais alto nível de precisão de até 0,01°, suportando uma ampla variedade de acessórios, o SDCOM é a solução ideal para muitas aplicações no processamento e pesquisa de wafer.

Capaz de medir qualquer cristal único com um diâmetro entre 2 mm e 300 mm, o SDCOM usa o método de projeção azimutal para determinar precisamente a orientação completa da rede de cristais únicos em apenas uma rotação de medição — levando apenas alguns segundos. 

Adequado para pesquisa, produção e controle de qualidade, o versátil e acessível SDCOM se encaixa facilmente em várias etapas de processo de wafer e lingote, enquanto tem custos operacionais mínimos, pois elimina a necessidade de arrefecimento de água.

Rápido e preciso: método de leitura azimutal

O método de projeção Azimutal requer apenas uma rotação de medição para reunir todos os dados necessários para determinar totalmente a orientação, entregando os resultados em 10 segundos, sem comprometer a precisão.

A amostra é girada 360°, com a fonte de raios X e o detector posicionados para atingir um determinado número de reflexões por volta. 

Essas reflexões permitem que a orientação da rede cristalina seja medida em relação ao eixo de rotação com uma alta precisão de até 0,01°.

Compacto e versátil

Sua forma leve e compacta garante fácil integração do SDCOM em processos de pesquisa ou indústria. O software XRD Suite é poderoso e intuitivo, tornando-o prático e fácil de operar para uma variedade de usuários.

A flexibilidade é fundamental para o SDCOM, que é especialmente claro na variedade de materiais que pode medir. Ele é capaz de medir cristais com diâmetros entre 2 mm e 300 mm

Para maior flexibilidade, o SDCOM também aceita Theta-scan. Com isso, você pode cobrir uma gama ainda maior de materiais e off-cuts.

Há também uma variedade de suportes de amostra e dispositivos de transferência que podem expandir ainda mais as possibilidades das aplicações do seu SDCOM, garantindo a compatibilidade com o seu fluxo de trabalho. Também estão disponíveis estágios manuais e motorizados de mapeamento de wafer.

Materiais mensuráveis

Exemplos de materiais mensuráveis incluem (método de projeção azimutal):

  • Orientação cúbica e arbitrária desconhecida: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
  • Orientação cúbica e especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
  • Tetragonal: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
  • Hexagonal e trigonal: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (quartzo), Al2O3 (safira), GaPO4, La3Ga5SiO14
  • Ortorrômbico: Mg2SiO4, NdGaO
  • Qualquer outro material cristalino único

Econômica

O tubo de raios X da SDCOM é resfriado a ar, eliminando a necessidade de um resfriador ou de um circuito arrefecedor de água. 

Graças à eficiência e ao pequeno impacto do SDCOM, seu consumo de energia é reduzido ao mínimo, além dos seus custos operacionais. 

Principais aplicações

Marcação e medição das direções no plano

O SDCOM oferece medições de orientação de cristal ultrarrápidas e altamente precisas, ideais para uma variedade de aplicações na produção e processamento de wafers, incluindo a marcação e medição de direções no plano. Leve e portátil, ele pode ser implantado onde quer que você precise dele em seu processo. 

Capaz de medir pequenos cristais de até 1 mm com alta precisão e uma ampla variedade de materiais, o SDCOM está bem posicionado para oferecer suporte às necessidades complexas e em constante mudança da indústria de semicondutores.

Controle de qualidade da produção

O controle de processos de rotina exige velocidade, precisão e repetibilidade, e o SDCOM oferece tudo isso. Sua velocidade de medição ultraelevada dará um impulso à sua produtividade sem causar um grande impacto nos seus custos de funcionamento, graças ao formato desktop e à ampola de raios X refrigerada a ar.

Pesquisa de materiais

Capaz de medir uma versátil variedade de tipos de cristal com um pequeno impacto no laboratório, o SDCOM é ideal para fluxos de trabalho de pesquisa padrão. Os custos de funcionamento são reduzidos graças ao consumo de energia minimizado e a uma ampola de raios X refrigerada a ar, sem necessidade de resfriamento a água. 

O SDCOM também é acessível e fácil de operar com manuseio manual, tornando-se uma solução prática para laboratórios de pesquisa com muitos usuários diferentes.

Especificação

Técnico

X-ray generator
Ampola de raios X refrigerada a ar de 30 W, ânodo de Cu
Detector
Tecnologia de contador de cintilação
Sample holders
Mesa giratória precisa, precisão de ajuste de 0,01 °, suportes de amostra personalizados e dispositivos de transferência
Tamanho da amostra
Até 2 mm ø, até 200 mm
Faixa de temperatura ambiente
≤ 30° C

Em geral

Computador
Windows 10 ou mais recente. Atualização do .NET Framework, 2 portas Ethernet
Potência
De 100 a 230 V, monofásica, 500 W
Dimensões
600 mm (L) x 600 mm (W) x 840 mm (H)
Peso
cerca de 100 kg
Certificação
Fabricado de acordo com as diretrizes ISO 9001, em conformidade com a CE

Acessórios

Aprimore seu fluxo de trabalho

Suportes de amostra

Uma variedade de suportes de amostra estão disponíveis para o SDCOM, permitindo que você processe amostras menores, maiores ou irregulares facilmente. 

Suportes de amostra

Dispositivos de transferência

Integre totalmente seu SDCOM ao seu processo adicionando acessórios de transferência dedicados, incluindo opções para a serra de fio, moagem e muito mais.

Dispositivos de transferência

Pacote de alinhamento para lingotes/bocha de 150-200 mm

Meça suas amostras, sem cometer erros de alinhamento com a fixação de entalhes e rolhas planas.

Pacote de alinhamento para lingotes/bocha de 150-200 mm

Estágio de amostra para wafers/lingotes de até 300 mm

Capaz de medir wafers de 300 mm, o padrão da indústria para fabricação de semicondutores de alto desempenho e alto rendimento.

Estágio de amostra para wafers/lingotes de até 300 mm

Manuais do usuário

Downloads de software

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Suporte

Serviços de suporte 

  • Suporte remoto e por telefone
  • Manutenção preventiva e verificações
  • Contrato de atendimento flexível ao cliente
  • Certificados de desempenho
  • Upgrades de hardware e software
  • Suporte local e global

Conhecimento

  • Soluções prontas para metrologia de semicondutores elementares e estruturais
  • Automação e consultoria
  • Treinamento e formação
Medições ultrarrápidas de orientação de cristal facilitadas

Medições ultrarrápidas de orientação de cristal facilitadas

Difração de raios X versátil, precisa e rápida em um formato compacto prático. Economia sem comprometer a qualidade.

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