Aeris Guía de usuario
Número da versão: 8
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A combinação de usabilidade e desempenho eleva o trabalho do laboratório a um novo patamar.
Fornecendo informações melhores e insights mais profundos, para que você possa obter as respostas de forma mais eficaz, refinar seus materiais, aumentar o seu conhecimento e avançar nessa fronteira científica.
Independentemente do projeto no qual você esteja trabalhando, a aquisição rápida das informações sobre a fase da amostra em questão pode ser crucial para a pesquisa.
Basta coletar dados da difração de raios X com o Aeris Research e empregar na sequência o pacote HighScore para obter uma infinidade de informações cristalográficas.
Com configurações de medição que incluem reflexão, transmissão e difração de raios X de incidência rasante (GIXRD), você tem tudo o que precisa para obter os melhores dados para qualquer tipo de material policristalino.
O difratômetro de raios X mais intuitivo: o Aeris é um difratômetro de raios X para bancada fácil de operar. Com sua operação intuitiva, o Aeris torna a difração de raios X tão simples que qualquer um pode usar.
A interface do usuário com tela exclusiva sensível ao toque exclusiva permite avançar tranquilamente pelo processo de medição das amostras. Você sempre obtém seus resultados com apenas alguns toques:
Superando as expectativas
O Aeris é sua principal força de trabalho para identificação rápida e confiável de fase e análise por Rietveld de amostras de pó.
Graças à incorporação de tecnologias que já comprovaram seus benefícios nos sistemas de ponta da Malvern Panalytical, a edição Research do Aeris oferece qualidade de dados até então só possível com um sistema de grande porte completo.
Com o detector 2D opcional, você pode ensinar os princípios da difração de pó de forma visual.
O Aeris é muito flexível e oferece possibilidades para todos os tipos de medições de difração de pó.
O instrumento pode acomodar vários tipos de suportes de amostra em combinação com um alimentador automático de amostras e pode ser equipado com um Estágio de aquecimento em bancada BTS 500.
Sem água de refrigeração, sem trocador de calor, sem ar comprimido.
A única coisa de que você precisa é de uma tomada monofásica.
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| Carregamento de amostra | Carregamento externo de amostras |
|---|---|
| Sample holders | Variedade de suportes de amostra de tamanho normal capazes de atender a todos os requisitos |
| Troca de amostra | Escolha entre uma plataforma de carregamento manual, um trocador de amostras de 6 posições ou um trocador de amostras de alta capacidade com 67 posições
|
| Automação | Compatível com integração de automação |
| Comprimento de onda | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Opções de 300 W a 600 W em configuração de 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Design patenteado com tecnologia de trajeto inteligente do feixe incidente resistente à corrosão (CRISP)
A tecnologia CRISP evita a corrosão no trajeto do feixe incidente causada pelo ar ionizado induzido por raios X. Patente n° US 8437451 B2
|
| Base configuration | Goniômetro vertical, acoplado e desacoplado θ-θ, amostras sempre horizontais |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142° (com detector de varredura e comprimento ativo total) |
| Angle positioning | Direct Optical Position Sensing (DOPS3) com precisão de posicionamento vitalícia |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolução | < 0,04° 2θ sobre LaB6 (com fendas Soller com 0,01 rad) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Escolha de estágios do spinner |
|---|---|
| Non-ambient | Opção de estágio de aquecimento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Troca de estágios PreFIX sem alinhamento |
| Special stages | Mediante solicitação (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Escolha entre os detectores PIXcel1D, PIXcel3D e 1Der |
| Dimensões | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema fechado com carregamento externo de amostras |
| External cooling water supply | Não é necessário |
| Compressed air supply | Não é necessário |
| Alimentação elétrica | 100 – 240 V, monofásica |
| Computador | PC do instrumento interno |
| Operação | Interface de usuário intuitiva com tela sensível ao toque de 10,4" |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número da versão: 8
Número da versão: 8
Número da versão: 6
Número da versão: 7
Número da versão: 8
Número da versão: 8
Número da versão: 8
Número da versão: 2
Número da versão: 4
Número da versão: 3
Número da versão: 2
Número da versão: 4
Número da versão: 2
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Para garantir que o instrumento permaneça em condição máxima e funcione no nível mais elevado, a Malvern Panalytical oferece uma grande variedade de serviços. Nosso conhecimento e nossos serviços de suporte garantem o funcionamento ideal do instrumento.
Manutenção para sempre
Agregando valor aos seus processos
A combinação de usabilidade e desempenho eleva o trabalho do laboratório a um novo patamar.
Fornecendo informações melhores e insights mais profundos, para que você possa obter as respostas de forma mais eficaz, refinar seus materiais, aumentar o seu conhecimento e avançar nessa fronteira científica.
Independentemente do projeto no qual você esteja trabalhando, a aquisição rápida das informações sobre a fase da amostra em questão pode ser crucial para a pesquisa.
Basta coletar dados da difração de raios X com o Aeris Research e empregar na sequência o pacote HighScore para obter uma infinidade de informações cristalográficas.
Com configurações de medição que incluem reflexão, transmissão e difração de raios X de incidência rasante (GIXRD), você tem tudo o que precisa para obter os melhores dados para qualquer tipo de material policristalino.
O difratômetro de raios X mais intuitivo: o Aeris é um difratômetro de raios X para bancada fácil de operar. Com sua operação intuitiva, o Aeris torna a difração de raios X tão simples que qualquer um pode usar.
A interface do usuário com tela exclusiva sensível ao toque exclusiva permite avançar tranquilamente pelo processo de medição das amostras. Você sempre obtém seus resultados com apenas alguns toques:
Superando as expectativas
O Aeris é sua principal força de trabalho para identificação rápida e confiável de fase e análise por Rietveld de amostras de pó.
Graças à incorporação de tecnologias que já comprovaram seus benefícios nos sistemas de ponta da Malvern Panalytical, a edição Research do Aeris oferece qualidade de dados até então só possível com um sistema de grande porte completo.
Com o detector 2D opcional, você pode ensinar os princípios da difração de pó de forma visual.
O Aeris é muito flexível e oferece possibilidades para todos os tipos de medições de difração de pó.
O instrumento pode acomodar vários tipos de suportes de amostra em combinação com um alimentador automático de amostras e pode ser equipado com um Estágio de aquecimento em bancada BTS 500.
Sem água de refrigeração, sem trocador de calor, sem ar comprimido.
A única coisa de que você precisa é de uma tomada monofásica.
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
| Carregamento de amostra | Carregamento externo de amostras |
|---|---|
| Sample holders | Variedade de suportes de amostra de tamanho normal capazes de atender a todos os requisitos |
| Troca de amostra | Escolha entre uma plataforma de carregamento manual, um trocador de amostras de 6 posições ou um trocador de amostras de alta capacidade com 67 posições
|
| Automação | Compatível com integração de automação |
| Comprimento de onda | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | Opções de 300 W a 600 W em configuração de 30 kV ou 40 kV |
| Tube housing | Design patenteado com tecnologia de trajeto inteligente do feixe incidente resistente à corrosão (CRISP)
A tecnologia CRISP evita a corrosão no trajeto do feixe incidente causada pelo ar ionizado induzido por raios X. Patente n° US 8437451 B2
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| Base configuration | Goniômetro vertical, acoplado e desacoplado θ-θ, amostras sempre horizontais |
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano, transmissão, incidência rasante |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142° (com detector de varredura e comprimento ativo total) |
| Angle positioning | Direct Optical Position Sensing (DOPS3) com precisão de posicionamento vitalícia |
| Scan Speed | Máx. 2,17°/s |
| Resolução | < 0,04° 2θ sobre LaB6 (com fendas Soller com 0,01 rad) |
| 2θ linearity | < 0,04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0,001 ° |
| Spinning | Escolha de estágios do spinner |
|---|---|
| Non-ambient | Opção de estágio de aquecimento (BTS-500, BTS-150) |
| Exchange of stages | Troca de estágios PreFIX sem alinhamento |
| Special stages | Mediante solicitação (manual, MPSS, in situ) |
| Detector | Escolha entre os detectores PIXcel1D, PIXcel3D e 1Der |
| Dimensões | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | Sistema fechado com carregamento externo de amostras |
| External cooling water supply | Não é necessário |
| Compressed air supply | Não é necessário |
| Alimentação elétrica | 100 – 240 V, monofásica |
| Computador | PC do instrumento interno |
| Operação | Interface de usuário intuitiva com tela sensível ao toque de 10,4" |
| Interface | LAN, USB, HDMI |
Número da versão: 8
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Número da versão: 6
Número da versão: 7
Número da versão: 8
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Número da versão: 2
Número da versão: 4
Número da versão: 3
Número da versão: 2
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More information can be found in the Release and Installation Notes.
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