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O Epsilon Xline combina nossa tecnologia avançada de energia dispersiva XRF (EDXRF) com funcionalidade em linha. Essa solução avançada permite o monitoramento de materiais em tempo real e o controle de processos em processos de revestimento rolo a rolo (R2R). A análise direta permite a otimização contínua da composição e o carregamento do material, ajudando a minimizar a produção fora da especificação e maximizar a eficiência de custos.
O Epsilon Xline adaptável pode fornecer controle de processo preciso e exato em uma ampla gama de superfícies e elementos.
Automação em linha completa: Aproveite a produção contínua de R2R graças aos recursos de integração perfeita do Epsilon Xline, adequados para uma variedade de aplicações de filme fino e revestimento.
Simples e seguro: O Epsilon Xline é totalmente seguro contra raios X e fácil de usar, ao contrário dos instrumentos portáteis ou antigos, e fornece dados analíticos altamente precisos.
Uma vida inteira de experiência: Com base nos mais de 70 anos de experiência da Malvern Panalytical em análise elementar , o Epsilon Xline foi desenvolvido em colaboração com os nossos parceiros do setor para atender às suas necessidades atuais e, ao mesmo tempo, olhar juntos para o futuro do setor.
Rendimento maximizado: Obtenha uma produção competitiva em termos de custo com monitoramento em tempo real e sem interrupções, oferecendo as percepções diretas e o controle de que você precisa para obter o máximo de suas operações.
Excelente eficiência dos materiais: Elimine inconsistências, evite o desperdício de materiais preciosos e garanta um produto de alta qualidade com nossa solução padrão do setor.
Precisão comprovada e patenteada: Desenvolvido e testado com os clientes, o Epsilon Xline apresenta uma tecnologia patenteada de correção de altura que garante uma análise estável para resultados precisos.
Com os catalisadores de platina responsáveis por mais de 20% dos seus custos totais de células de combustível, é essencial otimizar o revestimento do catalisador através de dispersão uniforme e camadas consistentes. E o monitoramento rápido e preciso do processo é a solução ideal! O Epsilon Xline facilita o controle operacional eficiente, ajudando você a:
A fluorescência de raios X (XRF) é uma tecnologia de análise elementar não destrutiva que permite o monitoramento em linha durante os processos de revestimento das membranas catalíticas, sem a necessidade de colher amostras e sem alterações químicas ou físicas.
A análise em linha em tempo real resultante permite a rápida otimização de muitos parâmetros de processo e propriedades do produto.
A tecnologia comprovada e robusta usada no Epsilon Xline e em toda a nossa série de instrumentos Epsilon é alimentada pelos mais recentes avanços em tecnologia de excitação e detecção.
Com um trajeto óptico bem concebido, uma vasta gama de recursos de excitação para elementos leves e pesados e um sistema de detector SDD de alta resolução rápido contribuem para o poder do Epsilon Xline. Essas inovações levam a resultados altamente repetíveis e precisos com baixa manutenção.
| Tipos de amostras | Linha de revestimento |
|---|---|
| Coating types | Contínuo, faixas, remendos |
| Line speed continuous coating | Máximo 30 m/min |
| Line speed patch coating | Máximo 11 m/min
|
| Type | Metal-cerâmica, janela lateral, 50 µm (Be) |
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | Controlado por software, tensões aplicáveis de 4 a 50 kV, máx. 3 mA, potência máxima do tubo 15 W |
| X-Ray filtering | Seis, selecionáveis por software (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; Ag 100 µm |
| Type | Detector de desvio de Si de alta resolução SDD10
Janela: 8 µm (Be) |
|---|---|
| Resolução | Menos de 145 eV a 5,9 keV/1000 cps
Normalmente 135 eV a 5,9 keV/1000 cps
|
| Radiation levels | Menos de 1 µSv/h a 10 cm da superfície exterior |
|---|
Integre o Epsilon Xline em suas linhas de produção sem problemas com a conectividade OPC integrada. O pacote de software dedicado incluído simplifica a configuração do Epsilon Xline para diferentes materiais e modos de medição. Ao inserir comandos diretamente no instrumento, ou por meio de um console remoto, a interface fácil de usar exibe uma visão geral dos dados completos de rastreamento.
Pacote de software analítico EDXRF para sistemas de bancada Epsilon
Determinação da composição e da espessura de revestimentos e multicamadas
Entre em contato com o suporte para obter os manuais do usuário mais recentes.
Por favor, entre em contato com o suporte para adquirir a última versão do software.
Para garantir que o instrumento permaneça em condição máxima e funcione no nível mais elevado, a Malvern Panalytical oferece uma grande variedade de serviços. Nosso conhecimento e nossos serviços de suporte garantem o funcionamento ideal do instrumento.
Manutenção para sempre
Agregando valor aos seus processos
O Epsilon Xline combina nossa tecnologia avançada de energia dispersiva XRF (EDXRF) com funcionalidade em linha. Essa solução avançada permite o monitoramento de materiais em tempo real e o controle de processos em processos de revestimento rolo a rolo (R2R). A análise direta permite a otimização contínua da composição e o carregamento do material, ajudando a minimizar a produção fora da especificação e maximizar a eficiência de custos.
O Epsilon Xline adaptável pode fornecer controle de processo preciso e exato em uma ampla gama de superfícies e elementos.
Automação em linha completa: Aproveite a produção contínua de R2R graças aos recursos de integração perfeita do Epsilon Xline, adequados para uma variedade de aplicações de filme fino e revestimento.
Simples e seguro: O Epsilon Xline é totalmente seguro contra raios X e fácil de usar, ao contrário dos instrumentos portáteis ou antigos, e fornece dados analíticos altamente precisos.
Uma vida inteira de experiência: Com base nos mais de 70 anos de experiência da Malvern Panalytical em análise elementar , o Epsilon Xline foi desenvolvido em colaboração com os nossos parceiros do setor para atender às suas necessidades atuais e, ao mesmo tempo, olhar juntos para o futuro do setor.
Rendimento maximizado: Obtenha uma produção competitiva em termos de custo com monitoramento em tempo real e sem interrupções, oferecendo as percepções diretas e o controle de que você precisa para obter o máximo de suas operações.
Excelente eficiência dos materiais: Elimine inconsistências, evite o desperdício de materiais preciosos e garanta um produto de alta qualidade com nossa solução padrão do setor.
Precisão comprovada e patenteada: Desenvolvido e testado com os clientes, o Epsilon Xline apresenta uma tecnologia patenteada de correção de altura que garante uma análise estável para resultados precisos.
Com os catalisadores de platina responsáveis por mais de 20% dos seus custos totais de células de combustível, é essencial otimizar o revestimento do catalisador através de dispersão uniforme e camadas consistentes. E o monitoramento rápido e preciso do processo é a solução ideal! O Epsilon Xline facilita o controle operacional eficiente, ajudando você a:
A fluorescência de raios X (XRF) é uma tecnologia de análise elementar não destrutiva que permite o monitoramento em linha durante os processos de revestimento das membranas catalíticas, sem a necessidade de colher amostras e sem alterações químicas ou físicas.
A análise em linha em tempo real resultante permite a rápida otimização de muitos parâmetros de processo e propriedades do produto.
A tecnologia comprovada e robusta usada no Epsilon Xline e em toda a nossa série de instrumentos Epsilon é alimentada pelos mais recentes avanços em tecnologia de excitação e detecção.
Com um trajeto óptico bem concebido, uma vasta gama de recursos de excitação para elementos leves e pesados e um sistema de detector SDD de alta resolução rápido contribuem para o poder do Epsilon Xline. Essas inovações levam a resultados altamente repetíveis e precisos com baixa manutenção.
| Tipos de amostras | Linha de revestimento |
|---|---|
| Coating types | Contínuo, faixas, remendos |
| Line speed continuous coating | Máximo 30 m/min |
| Line speed patch coating | Máximo 11 m/min
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| Type | Metal-cerâmica, janela lateral, 50 µm (Be) |
|---|---|
| Anode material | Ag |
| Tube setting | Controlado por software, tensões aplicáveis de 4 a 50 kV, máx. 3 mA, potência máxima do tubo 15 W |
| X-Ray filtering | Seis, selecionáveis por software (Cu 300 µm; Cu 500 µm; Al 50 µm; Al 200 µm; Ti 7 µm; Ag 100 µm |
| Type | Detector de desvio de Si de alta resolução SDD10
Janela: 8 µm (Be) |
|---|---|
| Resolução | Menos de 145 eV a 5,9 keV/1000 cps
Normalmente 135 eV a 5,9 keV/1000 cps
|
| Radiation levels | Menos de 1 µSv/h a 10 cm da superfície exterior |
|---|
Integre o Epsilon Xline em suas linhas de produção sem problemas com a conectividade OPC integrada. O pacote de software dedicado incluído simplifica a configuração do Epsilon Xline para diferentes materiais e modos de medição. Ao inserir comandos diretamente no instrumento, ou por meio de um console remoto, a interface fácil de usar exibe uma visão geral dos dados completos de rastreamento.
Pacote de software analítico EDXRF para sistemas de bancada Epsilon
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