Análise elementar
Tecnologias para análise da composição elementar de materiais
Tecnologias para análise da composição elementar de materiais
A análise elementar de materiais geralmente é um parâmetro importante na qualidade e segurança do produto. Por exemplo, a composição elementar correta da quantidade de matéria-prima para um forno de cimento é essencial para ter uma operação regular e a máxima eficiência.
Igualmente importante, a presença de elementos potencialmente prejudiciais, como enxofre, sódio, potássio e mercúrio, deve ser cuidadosamente monitorada, pois esses elementos podem interferir no processo ou prejudicar o meio ambiente.
A técnica mais adequada para realizar a análise elementar depende do material, sua localização e critérios específicos do setor.
Existem muitas técnicas analíticas elementares que servem para entender a composição elementar das substâncias. Elas fornecem insights valiosos sobre a composição química dos materiais, ajudando pesquisadores e indústrias a tomar decisões bem fundamentadas. Seja para analisar a pureza de produtos farmacêuticos, identificar contaminantes em alimentos ou caracterizar amostras geológicas.
A fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica não destrutiva que se baseia na emissão de raios X característicos quando uma amostra é exposta à radiação de raios X.
Ela é amplamente utilizada para realizar análises elementares em diversas aplicações, incluindo identificação de ligas, exploração mineral e controle de qualidade na fabricação.
A Ativação de nêutron térmica rápida pulsada (PFTNA) é uma técnica especializada que utiliza nêutrons térmicos rápidos pulsados para ativar materiais.
Ela oferece vantagens exclusivas na análise de elementos traço e isótopos em várias amostras, incluindo materiais geológicos, ambientais e nucleares.
A espectroscopia de emissão óptica com plasma induzido por laser (Laser-Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS) é uma técnica rápida e minimamente destrutiva que analisa a composição elementar de materiais, concentrando um pulso de laser de alta energia na superfície de uma amostra. Isso cria um microplasma que emite luz característica dos elementos presentes.
A técnica LIBS portátil é especialmente valorizada por sua velocidade, portabilidade e capacidade de analisar elementos leves, como lítio, berílio e boro, muitas vezes desafiadores para outras técnicas. Sua versatilidade a torna ideal para aplicações em campo em metalurgia, fabricação de baterias, mineração e monitoramento ambiental.
O ICP é uma fonte de plasma de alta temperatura que excita átomos e íons em uma amostra, possibilitando a quantificação precisa dos elementos.
Essa é uma técnica versátil usada em análises ambientais, na geoquímica e na determinação de elementos traço em várias matrizes.
A AAS mede a absorção de luz por átomos livres em uma amostra. Ela é particularmente útil para quantificar traços de metais em amostras biológicas e ambientais, o que a torna indispensável na química analítica.
A NAA consiste em bombardear amostras com nêutrons para induzir reações nucleares. É um método sensível de identificar e quantificar elementos traço em uma ampla variedade de materiais, desde artefatos arqueológicos até amostras forenses.
A Malvern Panalytical tem uma gama de analisadores elementares que oferecem diversas técnicas analíticas elementares. Quando são necessárias análises precisas com o mínimo de preparação da amostra, a fluorescência de raios-X (X-ray fluorescence, XRF) é uma técnica recomendada. Esse se tornou o "padrão ouro" para análise de composição elementar em muitos setores.
A XRF é especialmente adequada durante a análise de sólidos, pós, pastas, filtros e óleos. Para análises online de material transportado em correias transportadoras, a análise da Ativação de nêutron térmica rápida pulsada (pulsed fast thermal neutron activation, PFTNA) é uma técnica valiosa. Análises elementares em tempo real permitem avançar e retornar o controle que é fundamental em muitos processos.
Nossa ampla linha de soluções elementares atende a um espectro diversificado de aplicações, garantindo resultados precisos e confiáveis. Explore nossa linha de instrumentação para análise elementar abaixo.
ZetiumExcelência elementar |
Série EpsilonRapidez e precisão na análise elementar e em linha |
Axios FASTXRF de escolha para maior rendimento ou menor tempo de medição |
2830 ZTSolução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados |
Linha CNAAnalisadores elementares on-line para controle eficaz de vários processos industriais |
SciAps Série ZAnálise sofisticada de concentrações elementares ultrabaixas |
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| Tipo de medição | ||||||
| Metrologia de filme fino | ||||||
| Detecção e análise de contaminantes | ||||||
| Identificação química | ||||||
| Tecnologia | ||||||
| X-ray Fluorescence (XRF) | ||||||
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||||
| Ativação de nêutron térmica rápida pulsada | ||||||
| Gama elementar | ||||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | ||
| Resolução (Mg-Ka) | ||||||
| processamento de amostra | ||||||
