Tecnologias para análise da composição elementar de materiais
A análise elementar de materiais geralmente é um parâmetro importante na qualidade e segurança do produto. Por exemplo, a composição elementar correta da quantidade de matéria-prima para um forno de cimento é essencial para ter uma operação regular e a máxima eficiência. Igualmente importante, a presença de elementos potencialmente prejudiciais, como enxofre, sódio, potássio e mercúrio, deve ser cuidadosamente monitorada, pois esses elementos podem interferir no processo ou prejudicar o meio ambiente. A técnica mais adequada para realizar a análise elementar depende do material, sua localização e critérios específicos do setor.
A Malvern Panalytical tem uma gama de analisadores elementares que oferecem diversas técnicas analíticas elementares. Quando são necessárias análises precisas com o mínimo de preparação da amostra forem necessários, a fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica recomendada. Esse se tornou o "padrão ouro" para análise de composição elementar em muitos setores. A XRF é especialmente adequada durante a análise de sólidos, pós, pastas, filtros e óleos. Para análises de on-line de material transportado em correias transportadoras, a análise de ativação de nêutron térmica rápida pulsada (PFTNA) é uma técnica valiosa. Análises elementares em tempo real permitem avançar e retornar o controle que é fundamental em muitos processos.
![]() ZetiumExcelência elementar |
![]() Série EpsilonRapidez e precisão na análise elementar e em linha |
![]() Axios FASTAlta produtividade de amostras |
![]() 2830 ZTSolução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados |
![]() Linha CNAAnalisadores elementares on-line para controle eficaz de vários processos industriais |
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Mais detalhes | Mais detalhes | Mais detalhes | Mais detalhes | Mais detalhes | |
Tipo de medição | |||||
Metrologia de filme fino | |||||
Detecção e análise de contaminantes | |||||
Identificação química | |||||
Tecnologia | |||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
Ativação de nêutron térmica rápida pulsada | |||||
Gama elementar | Be-Am | F-Am | B-Am | B-Am | |
LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
Resolução (Mg-Ka) | 35eV | 145eV | 35eV | 35eV | |
processamento de amostra | 160per 8h day - 240per 8h day | Up to - 160per 8h day | 240per 8h day - 480per 8h day | up to 25 wafers per hour |