Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

  • Analisador XRF multifuncional de bancada 
  • Análise elementar de flúor (F) a amerício (Am) em áreas de R
  • Edições e software sob medida para o setor

Procurando mais informações?

Para solicitar um orçamento, mais informações ou baixar um folheto selecione uma opção abaixo.


Visão geral

Com base na experiência e no sucesso da linha testada e comprovada Epsilon 3 de espectrômetros de FRX, o Epsilon 4 é um analisador de FRX de bancada multifuncional para qualquer segmento da indústria que precise de análise elementar, desde o flúor (F) até o amerício (Am) em áreas de pesquisa e desenvolvimento até o controle de processos. 

Aliando as mais recentes tecnologias de excitação e detecção a softwares maduros e design inteligente, o desempenho analítico do Epsilon 4 se aproxima ao dos mais potentes espectrômetros de FRX de chão.

Edições industriais

Características

  • Configurações flexíveis: O Epsilon 4 é um instrumento analítico altamente flexível, disponível na versão de 10 watts, para análise elementar (F - Am) em áreas de pesquisa e desenvolvimento até controle de processos. Para aumentar ainda mais a produtividade de amostras ou ampliar os recursos de elementos leves estendido e em ambientes mais desafiadores, há uma versão 15 watts, que pode analisar carbono, nitrogênio e oxigênio.

  • Avanços recentes: Os instrumentos Epsilon 4 combinam as tecnologias mais recentes de excitação e detecção com um software de análise de última geração. A ampola de raios X de 15 watts, em conjunto com o mais recente detector de desvio de silício de alta corrente (3 mA) SDD30, aliado ao design compacto do trajeto óptico, proporciona um desempenho de análise ainda melhor que o do EDXRF de 50 watts de potência e até mesmo que o de sistemas WDXRF de bancada - com o bônus adicional de eficiência energética.

  • Rápido e sensível: A rapidez nas medições é obtida com a mais recente tecnologia de detectores de desvio de silício que produz intensidades significativamente maiores. Os exclusivos componentes eletrônicos do detector proporcionam uma capacidade de contagem linear superior a 1.500.000 cps (com 50% de tempo morto) e uma resolução independente de contagem geralmente melhor que 135 eV para melhorar a separação das linhas analíticas no espectro. Isso permite que o espectrômetro Epsilon 4 opere em potência total e, consequentemente, obtenha uma produtividade muito maior de amostras, em comparação com os tradicionais instrumentos de bancada de EDXRF.

  • Redução no consumo de hélio: O alto desempenho do Epsilon 4 permite operar várias aplicações em ambiente ao ar livre, sem tempos de sobrecarga prolongados e os custos envolvidos no consumo de hélio ou na manutenção do sistema de vácuo. Ao fazer medições no ar, os fótons de raios X de baixa energia, característicos do sódio, magnésio e alumínio, são sensíveis a variações na pressão e na temperatura do ar. Sensores de temperatura e de pressão atmosférica incorporados compensam essas variações ambientais, garantindo excelentes resultados independentemente das condições climáticas.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Especificação

Trocador de amostras

Capacidade de amostras Trocador de amostras removível de 10 posições
Tamanho da amostra O espectrômetro pode acomodar amostras de até 52 mm (2 pol) de diâmetro
Features O spinner é incluído para melhorar a precisão da análise dos filtros de ar
Modo para grandes amostras para análise de amostras maiores de até 10 cm de altura

Tubo de raios X

Features Janela lateral de cerâmica e metal, com estabilidade máxima
Janela de berílio fina, de 50 micrômetros, para alta sensibilidade de elementos leves (Na, Mg, Al, Si)
Tube setting Ampola de raios X com ânodo de Ag para melhorar o desempenho das análises de P, S e Cl

Detector

Tipo de detector Detector de desvio de silício (SDD) de alta resolução, normalmente 135 eV a Mn-Kα
Features Contagem máxima de 1.500.000 contagens/s com 50% de tempo morto
Detector com janela de entrada fina para alta sensibilidade

Software

Software
  • Triagem elementar com a solução de análise sem padrões Omnian
  • Análise de APROVAÇÃO/REPROVAÇÃO com a solução FingerPrint
  • Segurança de Dados Aprimorada para ambientes regulamentados
  • Stratos para amostras multicamadas
  • Uma única calibração flexível para metais de desgaste em óleos lubrificantes virgens e usados com base em Oil-Trace

Acessórios

Software

Software Epsilon

Pacote de software analítico EDXRF para sistemas de bancada Epsilon

O software Epsilon é a plataforma de software para análises de FRX utilizada nos sistemas de EDXRF de bancada Epsilon 1 e Epsilon 4 da PANalytical. O software oferece todas as funções necessárias para configurar e operar um sistema de bancada Epsilon. O conjunto de programas analíticos é extremamente facilitado pelo alto grau de inteligência incorporado ao software, permitindo que os usuários se beneficiem de meio século de experiência em aplicações. A análise diária de FRX é uma tarefa de rotina que pode ser executada prontamente por pessoal inexperiente após receber um mínimo de instruções. Muitos recursos estão presentes para melhorar a usabilidade do software.

Stratos

Determinação da composição e da espessura de revestimentos e multicamadas

O módulo de software Stratos apresenta um algoritmo que permite a caracterização simultânea da composição química e da espessura de materiais em camadas a partir de medições feitas. O software proporciona rapidez, simplicidade e meios não destrutivos analisando revestimentos, camadas superficiais e estruturas multicamadas. O Virtual Analyst fornece inteligência durante a configuração de programas de medição para pilhas complicadas. 


Disponível para espectrômetros Epsilon 4 EDXRF e Zetium XRF, o Stratos oferece resultados rápidos e confiáveis, independentemente do tipo de amostra ou matriz.

Omnian

Análise sem padrões de todos os tipos de amostras

O Omnian permite aos usuários obter a melhor análise possível quando métodos ou padrões certificados especiais não existem. Um pacote de análise sem padrão que estabelece tendências, o Omnian incorpora software de última geração e amostras de configuração que transcendem tecnologias. Disponível para espectrômetros Epsilon 1, Epsilon 4 e Zetium, Omnian oferece resultados rápidos e confiáveis, independentemente do tipo de amostra ou matriz.

Oil-Trace

Análise precisa do elemento traço

O Oil-Trace é um pacote de software que consiste em um conjunto de padrões que permite aos usuários executar análises elementares precisas e confiáveis de líquidos usando WDXRF e EDXRF. O Oil-Trace resolve dois problemas ao analisar líquidos:

1) Correção adequada de matriz na presença de uma mistura desconhecida de elementos CHON

2) Correção de erros devido a variações no volume da amostra que está sendo analisada

Ao lidar efetivamente com esses problemas, o Oil-Trace traz benefícios significativos para a análise do petróleo.

FingerPrint

Identificação instantânea de material

O módulo do software FingerPrint, aliado ao sistema Epsilon EDXRF é ideal para testes de materiais quando a rapidez da análise é importante, mas a composição real não é de interesse. O FingerPrinting geralmente envolve pouca ou nenhuma preparação da amostra e não é destrutivo.

Segurança de dados aprimorada

Protegendo seus dados e satisfazendo os auditores.

O módulo EDS (Enhanced Data Security) é uma opção de software que fornece confiança aprimorada nos resultados para usuários do espectrômetro Zetium XRF (por meio do software SuperQ) e do espectrômetro Epsilon XRF. Com recursos que incluem gerenciamento avançado de usuários, registro de ações, proteção de dados e atribuição de status de aplicações, a EDS ajuda você a fortalecer sua trilha de auditoria, minimizar o risco de erros e provar que seu instrumento de FRX está funcionando como esperado.

Padrões (materiais de referência)

ADPOL

Precisão na análise elementar por FRX de aditivos e polímeros funcionais.

Composição elementar XRF precisa e confiável de seus polímeros, compostos e plásticos, obtida em minutos.

Mais informações

WROXI

Precisão na análise de minerais de óxidos de grande variação

WROXI CRM é um kit sintético de materiais de referência certificados de alta qualidade que cobre uma ampla gama de materiais óxidos, como minérios, rochas e materiais geológicos.

Mais informações

LAS

Análise de baixa liga de aço com espectrômetros XRF da Malvern Panalytical

O pacote de aço de baixa liga (LAS) para os espectrômetros XRF sequenciais e simultâneos Zetium e Axios FAST é baseado em >90 CRMs cobrindo até 21 elementos e 4 amostras de monitor para correção de desvio e preparação de amostras.

Mais informações

RoHS

Análise precisa de elementos de materiais restritos pelo RoHS

O módulo de calibração RoHS ajuda fabricantes e laboratórios de pesquisa a cumprir os requisitos da legislação RoHS 2. A análise elementar precisa usando os padrões de calibração RoHS pode economizar dinheiro e apoiar a conformidade com regulamentações internacionais como o REACH.

Mais informações

TOXEL

Precisão na análise por FRX de elementos tóxicos em polímeros e plásticos

O módulo TOXEL permite análise elementar fácil e precisa de elementos tóxicos em poliolefinas, incluindo muitos tipos de PP e PE.

Mais informações

Materiais de referência certificados

Materiais de referência certificados, incluindo módulos de calibração XRF e materiais de referência

Mais informações

Preparação de amostra

Claisse LeNeo

Saia na frente com a expertise do Claisse nas fusões.

O instrumento de fusão Claisse LeNeo prepara discos de vidro para XRF, além de soluções com borato e peróxido para análises AA e ICP. É um instrumento elétrico de única posição.

Mais informações
Claisse LeNeo

Por que Épsilon 4?

Epsilon 4 em qualquer lugar

Graças às poucas exigências em termos de infraestrutura, o Epsilon 4 ser colocado próximo à linha de produção, em qualquer lugar dos processos. 

O alto desempenho permite operar a maioria das aplicações em condições ambientes, o que reduz os custos do gás hélio ou para manutenção do vácuo.

Valor muito além das análises

Espectrômetro de fluorescência de raios X por energia dispersiva para o intervalo de análises elementares desde o carbono (C) ao amerício (Am) e faixa de concentração desde sub-ppm até 100% em peso. 

Use o Omnian, para análises sem padrões, o FingerPrint, para testes de materiais quando a velocidade de análise for importante, ou o Stratos, para uma análise rápida, simples e não destrutiva de revestimentos, camadas de superfície e estruturas multicamadas. 

É possível também usar Segurança de Dados Aprimorada, que atende os regulamentos de conformidade como a FDA 21 CFR Parte 11, ou usar o Oil-Trace para quantificar misturas de combustível-biocombustível em óleos lubrificantes virgens e usados.

Pronto para qualquer tipo de amostra

O Epsilon 4 lida com uma variedade de tipos de amostra, inclusive sólidos, pós prensados e soltos, líquidos e filtros. Ele executa a análise quantitativa não destrutiva de elementos desde o carbono (C) e o flúor até o amerício (Am), em concentrações de 100% até níveis de sub-ppm, em amostras com peso que varia desde alguns miligramas até quilogramas.

O Epsilon 4 é uma alternativa robusta e confiável aos sistemas convencionais para uma grande variedade de setores e aplicações, mesmo quando a análise de elemento leves é de suma importância, incluindo: produção de cimento, mineração, beneficiamento mineral, ferro, aço, metais não ferrosos, triagem e quantificação RoHS, petróleo e petroquímicos, polímeros e setores afins, produção de vidro, criminologia, produtos farmacêuticos, produtos para a saúde, meio ambiente, alimentos e cosméticos.

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak

Manuais do usuário

Downloads de software

Por favor, entre em contato com o suporte para adquirir a última versão do software.

Suporte

Serviços

Soluções para maximizar o retorno do seu investimento

Para garantir que o instrumento permaneça em condição máxima e funcione no nível mais elevado, a Malvern Panalytical oferece uma grande variedade de serviços. Nosso conhecimento e nossos serviços de suporte garantem o funcionamento ideal do instrumento.

Suporte

Manutenção para sempre

  • Suporte remoto e por telefone
  • Manutenção preventiva e verificações
  • Contrato de atendimento flexível ao cliente
  • Certificados de desempenho
  • Upgrades de hardware e software
  • Suporte local e global

Conhecimento

Agregando valor aos seus processos

  • Desenvolvimento/otimização na preparação da amostra
  • Metodologias de análise 
  • Soluções completas para XRD 
  • Operações através de IQ/OQ/PQ, garantia de qualidade (GLP, ISO17025), estudos interlaboratoriais
  • Serviços de consultoria

Treinamento e formação

  • Treinamento presencial ou em nossos centros de competência
  • Ampla variedade de cursos básicos e avançados sobre produtos, aplicativos e softwares
Análise elementar em linha poderosa.

Análise elementar em linha poderosa.

A mais recente tecnologia para análise XRF. Pré-calibrado para o seu setor. Pronto para quantificação rápida próximo à sua linha de produção.

Fale com Vendas Solicite um orçamento Solicite uma demonstração