Introdução 

A espectrometria de fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica não-destrutiva utilizada para obter informações elementares a partir de diferentes tipos de materiais. É empregada em diversos setores e aplicações, como: produção de cimento, produção de vidro, mineração, beneficiamento mineral, ferro, aço e metais não-ferrosos, petróleo e petroquímicas, polímeros e setores relacionados, produtos farmacêuticos, produtos de saúde e meio ambiente. Os sistemas de espectrômetros são geralmente divididos em dois grupos principais: sistemas de dispersão de comprimento de onda (WDXRF) e sistemas de energia dispersiva (EDXRF). A diferença entre os dois está no sistema de detecção. 

O que é WDXRF e como funciona?​

O conceito básico de todos os espectrômetros é uma fonte de radiação, uma amostra e um sistema de detecção. Em espectrômetros WDXRF, a ampola de raios X que atua como fonte irradia uma amostra diretamente, e a fluorescência proveniente da amostra é medida com um sistema de detecção dispersiva por comprimento de onda. A radiação característica vinda de cada elemento individual pode ser identificada com a análise de cristais que separam os raios X com base em seu comprimento de onda, ou, ao contrário, suas energias. Esse tipo de análise pode ser feito tanto pela medição da intensidade dos raios X em diferentes comprimentos de onda um após o outro (sequencial) ou em posições fixas, medindo as intensidades de raios X em diferentes comprimentos de onda todos ao mesmo tempo (simultâneo). ​

Vantagens da espectrometria por WDXRF

  • Alta resolução, especialmente para elementos leves
  • Baixos limites de detecção, especialmente para elementos leves
  • Análise robusta
  • Alta produtividade