As an essential part of numerous chemical processes, many catalysts contain valuable materials such as precious metals and nanomaterials. Catalyst dosing and activity tuning are essential for achieving the best product quality using minimum reaction time and process energy. XRD, XRF and NIR are essential tools for monitoring and controlling the fabrication and use of catalytic materials.

Typical applications include

  • In situ catalytic activity measurements
  • Phase analysis of heterogeneous catalysts
  • Nanoparticle size and shape analyses
  • Elemental composition of the catalysts during production and usage
  • Trace element analysis of doped catalysts
  • Catalyst poisoning
  • Fines and attrition determination

Characterization of catalysts and nanomaterials

Malvern Panalytical’s Empyrean XRD platform can be equipped with an Anton Paar high-pressure chamber for in situ activity measurements of catalysts, allowing catalyst optimization under the widest range of process conditions saving you time and money. Along with small-angle X-ray scattering (SAXS), this combination of platforms is perfectly suited for analyzing nanoparticle sizes and shapes. The pre-aligned fast interchangeable PreFIX modules can modify a typical XRD setup to a SAXS setup for nanomaterials analyses in approximately 5 minutes.

Zetium XRF systems provide accurate elemental analysis of both hetero- and homogenous catalysts. For example the determination of heavy metal concentrations by Zetium provides a cost-effective and efficient alternative to fire assay determination of precious metals. 

Rango de equipos Mastersizer

Rango de equipos Mastersizer

Los analizadores de tamaño de partículas más usados en el mundo.

Más detalles
Medición Tamaño de partícula
Rango de tamaño de partículas 0.01µm - 3500µm
Tecnología Difracción láser
Tipo de dispersión Wet, Dry, Wet and Dry

Gama Empyrean

Gama Empyrean

La solución polifuncional para sus necesidades analíticas

Más detalles
Medición Forma de partícula, Tamaño de partícula, Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
Configuración del goniómetro Vertical goniometer, Θ-Θ
Tecnología X-ray Diffraction (XRD)

Zetium

Zetium

Excelencia elemental

Más detalles
Medición Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rango primario Be-U
Resolución (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day
Tecnología Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

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Medición Tamaño de partícula Forma de partícula, Tamaño de partícula, Crystal structure determination, Phase identification, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rango de tamaño de partículas 0.01µm - 3500µm    
Configuración del goniómetro   Vertical goniometer, Θ-Θ  
Rango primario     Be-U
Resolución (Mg-Ka)     35eV
LLD     0.1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra     160per 8h day - 240per 8h day
Tecnología Difracción láser X-ray Diffraction (XRD) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Tipo de dispersión Wet, Dry, Wet and Dry    

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Tecnología
Difracción láser
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X-ray Fluorescence (XRF)
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