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Gama Empyrean

Difractómetros de rayos X multipropósitos

Gama Empyrean

Con Empyrean, Malvern Panalytical establece un nuevo estándar en el análisis de rayos X. 

Esta plataforma modular multipropósito combina difracción de rayos X (XRD, del inglés “X-Ray Diffraction”), dispersión, imágenes y ahora espectroscopia de absorción de rayos X (XAS, del inglés “X-Ray Absorption Spectroscopy”) en un solo instrumento, lo que permite una mayor comprensión de los materiales sin depender únicamente de las instalaciones de sincrotrón.

Diseñado para las necesidades cambiantes de la investigación de materiales modernos, Empyrean se adapta a medida que crecen sus necesidades de aplicación, lo que proporciona la flexibilidad para responder los desafíos actuales y las preguntas del futuro.

Productos que tienen soporte

Empyrean

El difractómetro inteligente

Medición
Crystal structure determination
3D structure / imaging
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Texture analysis
Phase identification
Reciprocal space analysis
Phase quantification
Residual stress
Goniometer configuration
Vertical goniometer, Θ-Θ
Particle size range
1 - 100 nm
Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
Empyrean

Empyrean Alpha 1

Una inigualable calidad de datos proveniente de un sistema XRD de laboratorio

Medición
3D structure / imaging
Crystal structure determination
Phase identification
Phase quantification
Goniometer configuration
Vertical goniometer, Θ-Θ
Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
Empyrean Alpha 1

Empyrean edición Nano

Plataforma de dispersión de rayos X versátil

Medición
Molecular weight
Particle shape
Particle size
Phase identification
Phase quantification
Pore size distribution
Protein aggregation
Protein stability
Surface area
Goniometer configuration
Vertical goniometer, Θ-Θ
Particle size range
1 - 100 nm
Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
X-ray Scattering
Empyrean edición Nano

Empyrean XAS

Medición
Crystal structure determination
3D structure / imaging
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Texture analysis
Phase identification
Phase quantification
Reciprocal space analysis
Residual stress
Tecnología
X-ray Diffraction (XRD)
Empyrean XAS