Analyse de Wafer WD XRF

Solution pour l’analyse des performances des dispositifs semi-conducteurs

Dans le monde technologique en rapide évolution, les tendances vont et viennent. Les cassettes vidéo, disques compacts, téléphones de voiture, et Walkman étaient autrefois des « percées » qui ont beaucoup servi la société mais ont été remplacées par un ingénierie plus sophistiquée.

Néanmoins, il y a une tendance technologique qui ne change pas avec le temps : la taille. Même en 2022, l’adage « plus petit c’est mieux » reste valable, comme chaque année.

Défis de l’industrie des semi-conducteurs

Mais devenir plus petit signifie aussi devenir plus complexe. On doit intégrer de plus en plus de performance technique dans des dispositifs et composants de plus en plus petits. C’est une tendance évidente sur le marché actuel des semi-conducteurs. Pour répondre aux besoins changeants du secteur de l’automobile, de l’informatique et du stockage de données, les fabricants sont pressés de créer des dispositifs à la fois plus compacts et plus complexes.

Technologie plus petite, exigences plus grandes

Avec le consistent amincissement et la complexité croissante des couches de semi-conducteurs, les technologies de mesure comme le métrologie par rayons X sont devenues plus complexes. L’amélioration de la précision est devenue essentielle et nécessite des solutions innovantes pour produire des résultats fiables de manière constante.

L’industrie des semi-conducteurs fait face à plusieurs défis dans la mesure des wafers par XRF. Cela inclut la variabilité des résultats entre divers substrats, équipements et fabriques, ainsi que des couches de plus en plus minces, y compris les matériaux 2D. La cohérence des outils de métrologie des semi-conducteurs, la surveillance automatique de la qualité, et la sensibilité sont des facteurs cruciaux à considérer. Alors comment surmonter ces défis et préparer les fabriques pour l’avenir de l’industrie ?

Analyseur de Wafer 2830 ZT

L’analyseur de wafer 2830 ZT est un spectromètre à fluorescence X dispersif en longueur d’onde (WDXRF) qui constitue la solution idéale pour mesurer l’épaisseur et la composition des films, répondant à tous ces défis industriels.

Il propose une analyse XRF pour une gamme de 0,2 nm à 10 μm et peut traiter des substrats plats d’un diamètre allant jusqu’à 300mm. Le 2830 ZT est entièrement automatisé et conforme à la salle blanche, représentant la solution la plus stable pour les fabriques.

Efforts pour une optimisation continue

Malvern Panalytical est prêt à soutenir ceux qui travaillent dans l’industrie des semi-conducteurs. Nous nous engageons à améliorer constamment nos équipements et à développer des technologies innovantes. Peu importe combien de temps la pénurie de micro-puces persistera, nous préparerons les dernières solutions pour une industrie qui ne peut pas se permettre d’attendre.

Liens supplémentaires à voir

Vidéo de présentation des solutions pour semi-conducteurs

Malvern Panalytical Future Days : Focus sur les semi-conducteurs