턴테이블 위에 추가 X-Y 포지셔닝 단계를 사용하여 결정 방향 또는 표면 왜곡을 사용자가 정의한 그리드에 쉽게 매핑할 수 있습니다. 매핑 단계는 맞춤 구성이 가능한 표면 스캔을 통해 전체 샘플 표면을 포괄적으로 살펴볼 수 있습니다.
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