相關性截距——這是什麼，意味著什麼？
比較數據
我最近看到一場關於導出Zetasizer數據以進行進一步分析的討論。Zetasizer Nano 和 Zetasizer Pro/Ultra 軟件包包括一系列分析工具。我在想缺少了什麼？
當我們比較數據時，人們往往會誘惑地簡化數據以便於此過程。這引發了對導出數據的問題。用戶想要對其動態光散射（DLS）測量的自相關函數（ACF）數據進行歸一化。
我們從理論上知道，ACF應該從接近1開始並以零結束。所以將數據縮放到1似乎是合理的，對嗎？一些DLS儀器會自動執行此操作。但是，這樣做的話，我們可能會錯過數據質量拼圖中的一個重要部分。
截距告訴我們什麼？
例如，下面是兩組標準化後的聚苯乙烯乳膠樣品相關數據。它們顯示了“良好”的相關函數，但我們可以看到衰減上有差異。報告的流體力學尺寸值不同。它們一定是不同的尺寸，對嗎？
事實上，通過重新縮放數據我們錯過了一個關鍵點——相關性截距。這是自相關函數在短延遲時間的穩定值。理論上，相關性截距應為1，但實際上有一些噪聲效應影響了這個值。部分來自儀器（激光和探測光學），但也可能來自樣品。
如果我們查看兩個乳膠樣品的原始數據，可以看到它們的數據集有顯著差異。其中一個的截距遠低於另一個。
紅色數據的低截距是由“多次散射”引起的。這是指光被多個顆粒散射後才被檢測到。DLS 分析單理論適用於單次散射光，所以在這裡我們有一個不精確的測量。為了解決這個問題，可以減少樣品濃度。如果使用能夠回散射測量的Zetasizer，可以調整測量位置。在靠近池壁進行測量可以減少多次散射。我們將這種技術稱為非侵入性回散射。
截距值受什麼影響？
來自樣品的其他光學噪聲例子包括：
- 耀斑——來自比色皿的散射——通常是因為它髒了或刮傷了。
- 熒光——樣品發出自己的光，這會被額外地檢測到，添加到散射光中。
- 數量波動——激光束中的顆粒數量隨時間顯著變化。這意味著平均散射強度不穩定。
相關性截距幫助我們識別這些效應。來自耀斑、熒光或多次散射的額外光會導致截距降低。數量波動會導致截距提高，可能會大於1。
還不確定您測量的質量是否良好？
解釋DLS數據是復雜的，不僅僅是要看截距。我們還可以解釋相關基線和衰減，以及計數率和其他測量設置。我們的軟件具有提供關於數據質量的建議的功能。在Zetasizer Nano軟件中，查找專家建議報告。如果您使用新Zetasizer Pro或Ultra，請查看數據質量指導窗口。
數據質量指導功能使用人工智能來識別測量問題。它查看相關函數，並根據數千個其他示例的學習對數據進行分類。
算法顯示每條記錄如何使用的標籤。還會提供如何解決任何測量問題的建議。如果看到多個問題，將提供對最顯著問題的建議。這提供了一個穩健且引導的工作流程來改善樣品和測量條件。
更多信息
要了解更多可能影響DLS測量的一些工件，請查看此網絡研討會：何時顆粒不是顆粒？
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{{ product.product_name }}
{{ product.product_strapline }}
{{ product.product_lede }}
