近紅外線 (NIR) 光譜法

近紅外線光譜法是一種高度彈性的分析形式,可以用於多種研究與工業製程應用

近紅外線 (NIR) 光譜法是一種高度彈性的分析形式,可以用於多種研究與工業製程應用。NIR 光譜法一直是遠端感測的標準技術,而在工業使用情境中可用以測量材料、最佳化製成以及管理成本,而且經濟實惠,在工業市場中廣受歡迎。

什麼是近紅外線及其工作原理?

NIR 光譜法是一種利用電磁譜近紅外線區 (從約 700 到 2500 奈米) 的測量方法。透過測量從樣本散射和穿過的  ,NIR 反射光譜可用已快速測定材料的性質,並且不會對樣本造成改變。

NIR 可將測得的數據轉換為可據以行動的資訊,有助於最佳化製程或改善研究。NIR 能夠輕鬆檢驗不規則表面,且操作方式與處理經過仔細製備的樣本無異,不僅不會破壞樣本,亦可大幅減少樣本製備的相關作業需求。它也可透過單次掃描分析多種成分。

近紅外光譜的優點

  • 高度彈性的分析形式 
  • 符合成本效益
  • 能夠檢驗不規則表面
  • 非破壞性
  • 僅需些微樣本製備或不需樣本製備
ASD FieldSpec 系列

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野外便携式光谱辐射仪

ASD LabSpec® 系列

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用于定性和定量材料分析的实验室仪器

ASD TerraSpec® 系列

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用于矿物勘探和矿石分析的便携式和手持式 NIR 分析仪

量測類型
遙測
分子結構
精确度 Spectral performance Spectral performance Spectral performance
技術類型
近紅外線光譜 (NIR)