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In modern semiconductor production, where precision is critical, inconsistencies in measurement reproducibility can jeopardize process control, yield, and performance. Wavelength dispersive X-ray fluorescence (WD-XRF) is an important metrology technique that has been proven to meet strict criteria when it comes to reproducible results on an individual spectrometer. But measurement reproducibility is not always enough – […]
X-ray fluorescence (XRF) analysis is a key component of wafer metrology, a critical process for ensuring the performance and reliability of semiconductor devices. As the challenges faced by the semiconductor industry evolve, XRF wafer metrology must keep up. Here, we will explore the latest innovations in XRF wafer metrology, focusing on how the industry is […]
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