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X 光繞射儀 (XRD)

获取高质量的衍射数据

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X 光繞射儀 (XRD)

马尔文帕纳科 X 射线衍射仪用于获取高质量的衍射数据，它结合了易用性与快速切换到其他应用的灵活性。

X射線衍射解決方案

我们的衍射仪被应用于大学、研究机构和工业流程控制实验室。根据您的 X 射线衍射 (XRD) 应用需求，我们能提供合适的仪器并且通过我们的全球销售和服务机构提供支持。

我们的多用途衍射仪均配备了 PreFIX（预校准快速可切换 X 射线）模块，允许用户轻松更改光路。 因此，我们在单一衍射仪平台上提供了数量较多的应用。在我们的知识中心阅读更多内容，了解您可以通过我们的设备实现的 XRD 应用。

Aeris

準備好對我們高精度、快速的 XRD 系統感到驚訝。不到五分鐘即可得出精確結果。
Aeris

Empyrean 系列

我們新設計的多核心光學元件可以實現最廣泛的測量，無需任何手動幹預。
Empyrean 系列

X'Pert³

新一代 X'Pert³ 延續了我們材料研究衍射儀悠久而成功的歷史。
X'Pert³

晶體取向解決方案

晶體方向系列

晶體方向系列

我們的晶體取向解決方案在設計時考慮了晶錠、晶錠、圓盤和晶圓應用。

我們的晶體取向解決方案系列在設計時考慮了晶錠、晶圓和晶體應用。使用我們的儀器，可以在各種環境中輕鬆確定晶體取向 - 從線上分析到桌面研究，我們都能滿足您的要求。

我們的產品如何比較

  • Aeris

    緊湊型桌上式 X 射線繞射儀

    Aeris

    技術類型

    • X光繞射(XRD)

    量測類型

    • 顆粒形狀
    • 顆粒尺寸
    • 晶體結構測定
    • 相鑑定
    • 相定量
    • 汙染物偵測和分析
    • 磊晶分析
    • 界面粗糙度
    • 3D結構/影像
    • 薄膜測量
    • 殘餘應力
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
    更多細節 索取報價

  • Empyrean 系列

    多用途 X 射線繞射儀

    Empyrean 系列

    技術類型

    • X光繞射(XRD)

    量測類型

    • 顆粒形狀
    • 顆粒尺寸
    • 晶體結構測定
    • 相鑑定
    • 相定量
    • 汙染物偵測和分析
    • 磊晶分析
    • 界面粗糙度
    • 3D結構/影像
    • 薄膜測量
    • 殘餘應力
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
    更多細節 索取報價

  • X'Pert³

    多功能研發用 XRD 系統

    X'Pert³

    技術類型

    • X光繞射(XRD)

    量測類型

    • 顆粒形狀
    • 顆粒尺寸
    • 晶體結構測定
    • 相鑑定
    • 相定量
    • 汙染物偵測和分析
    • 磊晶分析
    • 界面粗糙度
    • 3D結構/影像
    • 薄膜測量
    • 殘餘應力
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
    更多細節 索取報價

  • 晶體方向系列

    快速精確的晶體取向

    晶體方向系列

    技術類型

    • X光繞射(XRD)

    量測類型

    • 顆粒形狀
    • 顆粒尺寸
    • 晶體結構測定
    • 相鑑定
    • 相定量
    • 汙染物偵測和分析
    • 磊晶分析
    • 界面粗糙度
    • 3D結構/影像
    • 薄膜測量
    • 殘餘應力
    • Crystal orientation
    • Cleanroom ISO 4
    • SECS/GEM
    更多細節 索取報價