Micromeritics TriStar II Plus
高通量BET比表面積分析儀
BET (Brunauer、Emmett 和 Teller) 表面積分析是目前使用範圍最廣泛的技術,用於在分子尺度上測定固態樣品的暴露比表面積。此方法是根據單層容量 (即在表面形成單層的氣體分子或原子的數量) 計算表面積。
通常會使用氮氣 (N2) 作為吸附物,因為它對固體表面具有很強的親和力。通常會在低溫下進行分析,在低壓下引入氣體,並測量吸附量以使用 BET 方法測定表面積。對於表面積較低的材料,通常會使用氪氣 (Kr) 作為替代吸附物。相較於 77.3 K 下的 N2 (760 mmHg),Kr 的蒸氣壓較低 (2.5 mmHg),因此可以測定吸附過程中更靈敏的壓力變化,進而提高準確性。
現在,Malvern Panalytical 提供領先業界的 Micromeritics 分析儀,讓研究人員和製造商得以仰賴其優異的準確性、效率和可靠性,優化材料特性和產品開發作業。
高通量BET比表面積分析儀
加速測量表面積及孔隙率
表面積與孔隙系統
快速、精確的表面積分析
高效能氣體吸附
BET (Brunauer、Emmett 和 Teller) 表面積分析是目前最普遍使用的技術,用於測量多孔和粉末材料的比表面積。它是許多產業中的關鍵技術。
高通量BET比表面積分析儀
加速測量表面積及孔隙率
高效能氣體吸附
表面積與孔隙系統
表面積與孔隙系統
快速、精確的表面積分析