透過快速、可靠的 Aeris XRD 分析提高水泥品質和製程控制. 了解更多

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水泥分析

支援高效、高品質且永續的水泥生產

水泥分析

製造商若要提升水泥品質與一致性,同時支持永續發展及降低生產成本,則必須採用值得仰賴的材料分析解決方案。諸如 Malvern Panalytical 世界頂尖儀器的解決方案。無論是用於礦物組成分析的 X 光繞射 (XRD)、進行化學分析的 X 光螢光 (XRF) 或中子活化交叉帶分析儀 (CBA),或是適用粒徑分佈的雷射繞射 (LD),我們的水泥產品系列皆能提供一組單站式解決方案,以便用於生產過程中的每個部分。這些解決方案可完美整合至您現有的生產作業當中,而且無論您身在世界何處,皆能為您提供可仰賴的支援服務。

業界逐步邁向循環式的淨零模式,並開始採用其他燃料和熟料,因此高品質的水泥生產更需要穩定的元素與礦物分析。與此同時,如要最佳化研磨效率和最終的水泥特性,顆粒大小分析仍有不可或缺的地位。相較於過去,現代的水泥製造商更需要嚴密控管製程中的每一道步驟,從而實現最大的效率、成本效益及品質。

哪個儀器要用於水泥製程中的哪項運作環節?答案請見下圖。

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水泥分析方法

對於確保水泥在生產過程中的品質和成效,以及減少製造時的碳排放方面,水泥分析扮演著重要角色。 

X 光螢光 (XRF) 

XRF 可用於水泥、原料、輔助性膠結材料 (SCM) 和替代燃料的元素分析。它能透過測量樣品的特性 X 光發射,來辨識樣品的化學組成。 

可根據測量的準確度和獲取結果所需的時間,來考量不同的樣品製備方法:

樣品製備
  • 壓碎/粉末:材料經過壓碎而縮小粒徑,然後以粉末的形式進行分析。為確保樣品均質性、大幅降低粒徑效應並促成準確的元素分析,通常偏好使用壓實顆粒而非鬆散的粉末。
  • 熔融:為了獲得最佳準確度,樣品會被溶解成熔融玻璃而形成助熔劑,進而產生均質的玻璃盤。這能消除粒徑和基質效應
產品應用
  • 原料特性分析:評估原料組成 (例如石灰岩、黏土、石膏) 以獲得合適的熟料
  • SCM 添加物:根據 SCM 的化學組成,在熟料中添加適量的 SCM 以獲得合適的水泥
  • 品質控制:在生產期間監測元素組成

X 光繞射 (XRD)

XRD 不僅能夠辨識並量化孰料和水泥的結晶相,也能辨識並量化替代燃料和 SCM (煅燒黏土)。 

樣品製備雖然是獲得正確結果的關鍵,但通常也是最大的誤差來源。共有兩種方法可供使用:

樣品製備
  • 研磨:將材料研磨成細粉
  • 研磨後壓實:壓實顆粒可用於生產控制;這對大多數樣品而言,是最可靠且最推薦的樣品製備方法
產品應用
  • 物相定量分析測定水泥中每一相的含量 (例如孰料、石膏)
  • 脫碳XRD 透過量化各相 (孰料)、探索替代方案 (替代燃料和原料) 以及推動創新 (新的 SCM),讓水泥產業能夠轉型並改為採用更環保、更有效率的製程
  • 品質保證確保一致的相組成

雷射繞射  

瞭解水泥樣品中所存在的粒徑範圍,便能更完善地控管水泥特性和營運成本。此外,粒徑也在反應性中扮演著關鍵角色,因此更常運用在其他材料上 (黏土、混凝土細料等)。

雷射繞射的基礎為透過準直雷射光束來照射顆粒。各種角度下的散射光皆會受到測量。粒徑資訊係由繞射圖樣所得出。

樣品製備
  • 研磨:對水泥廠來說,在大多數情況下都會進行乾燥分析。這代表測量前會將材料磨細。如果是在進行即時測量,那麼確保使用均質且具代表性的樣品進行分析正是關鍵所在,而這可能需要採集體積更大且經適當調整的樣品
產品應用
  • 達成抗壓強度目標:表面積會隨著粒徑變小而增加。更細緻的顆粒可強化水泥強度。齡期 28 天的強度可能會受到過多細小顆粒 (< 2um) 影響,進而造成裂縫。過多粗糙顆粒會對強度產生負面影響。這就是要最佳化粒徑分佈 (PSD) 以使其介於 2 至 32 微米之間的關鍵原因
  • 養護特性:雷射繞射有助於預測並監測養護行為
  • 提高布萊恩值 (Blaine Number):除了布萊恩值外,PSD 也顯示出更多有關粗粒比例的細節和靈敏度

脈衝快速熱中子活化 (PFTNA) 

用於在水泥生產中進行即時元素分析的製程控制技術。 

PFTNA 可針對從採石場到窯爐的元素組成持續進行監測,甚至可加以運用,進而完美控制孰料中的 SCM 添加物,藉此製造低碳水泥。

方法
  • 無須樣品製備,即可直接針對輸送帶上的岩石進行全面分析 (大量分析)
產品應用

此技術對於高頻分析而言非常實用,不僅可供人工智慧和機器學習模型使用,還能進一步將具有正確特性和最低碳足跡的水泥生產最佳化。此技術常用於以下水泥生產的關鍵階段:

  • 混合前的庫存堆,確保原料的最佳均質性
  • 原料混合,獲得變化最少且合適的原料粗粉 (LSF 嚴密控管)
  • SCM 添加物:確保在孰料中準確進行添加,以獲得最佳反應性並降低孰料含量 (低碳水泥)

總的來說,這些都是每個水泥生產階段中不可或缺的方法:

  • 原料特性分析:XRF、PFTNA 和 XRD 可分析原料
  • 品質控制:XRF、XRD 和雷射繞射可監控生產過程
  • 最終產品品質:XRD 和雷射繞射可確保合適的相組成
  • 製程最佳化:即時分析儀正是製程的眼睛,而 PFTNA 和雷射繞射則能指引調整方向。自動 XRD 和 XRF 可提供絕佳支援

所有這些技術都能將水泥生產最佳化,同時降低製造成本。除了擁有多項優勢外,更能快速實現投資效益,擁有成本也相當低廉。歡迎與我們聯絡,瞭解更多有關我們的儀器如何協助您提高投資報酬率 (ROI) 的資訊。


您可獲得:

世界頂尖儀器

單站式分析解決方案

完美整合

全球服務與支援

原料萃取的樣品製備

製造商在選擇原料時,必須將成本降到最低,同時確保材料與水泥製程相容。特別是在使用替代原料時,這些原料可能會引入更多變化,此時可靠的分析便能協助監測此類變化,以達到所需的規格。除了材料成本外,還必須考量其對於製程效率及深具挑戰性的永續性目標 (2050 年淨零排放) 帶來的影響。為此,化學和礦物組成極為重要。

我們的解決方案提供高頻分析,特別是在自動化方面,尤其如果用於線上或線下時更是如此,不僅有助於將廢料降至最低,還能將原料的礦物和化學組成最佳化。它們可在採石場和生料混合配比時執行這項作業。這些儀器可快速提供結果,讓製造商減少採樣浪費,並確保窯爐在剩餘製程中 (預先混勻和配比) 能獲得穩定進料量,以利提高能源效率並降低 CO2 排放量。

解決方案

Zetium 水泥版

進行精準的元素 XRF 分析,以取得穩定製程的原料組成和最佳混合性
Zetium 水泥版

Epsilon 4

桌上型元素 XRF 分析可迅速提供礦坑回饋,混合廢料量極低,擁有成本亦低
Epsilon 4

Revontium

輕巧型 XRF 快速且高品質的分析可迅速提供礦坑回饋,混合廢料量極低,擁有成本亦低
Revontium

Aeris 水泥版

XRD 針對原料進行礦物分析,以利在水泥製程中達到最佳混合性
Aeris 水泥版

CNA Pentos

利用中子活化交叉帶分析儀,即時控制研磨機中的原料比例,進而達到穩定的生產過程 – 包括濕度測量
CNA Pentos

LeNeo

可靠的熔融儀器運用熔融玻璃片去除不同原料,以利進行精準的 XRF 分析
LeNeo

Eagon 2

安全、简单、高性能
Eagon 2

3Flex

高效能氣體吸附
3Flex

Gemini

快速、精確的表面積分析
Gemini

SAS II

全自動次篩分粒徑分析器
SAS II

生料混合物窯爐處理最佳化

在處理生料混合物方面,窯爐效率最大化是降低耗能、碳排放和維護需求的重要一環。將放入窯爐的材料最佳化,有助於達成此目標:這裡需要留意的兩項重點在於監控混合物化學特性正確且維持穩定,並適當研磨原料。 

生料混合物處理中的 X 光分析方法

穩定的原料粗粉組成,同樣是確保窯爐熱曲線維持一致的關鍵,在提供具有合適特性 (例如抗壓強度和凝結時間) 的優質成品上同樣重要。它也會影響耗能、是否使用研磨添加劑、耐火材料使用期限、添加劑消耗、燃料需求與其他製程因素。舉例來說,為了避免 Alite C3S 分解成 Belite C2S 和游離石灰,窯爐必須具備氧化條件。這項穩定性可透過使用 XRF 或線上元素分析 (例如中子活化交叉帶分析儀) 以控制化學成分,或者使用 XRD 控制礦物組成而達成。

最佳操作要求也適用於原料細粉 (避開特別粗的方解石和石英顆粒):生料混合物的顆粒必須夠細,才能確保均勻混合和研磨,而不會死燒。接下來,使用雷射繞射進行粒徑分析,有助於確保結果。 

水泥生料混合物粒徑

以原料細粉 (避開特別粗的方解石和石英顆粒) 進行操作時,也必須採納最佳操作要求。生料混合物的顆粒必須夠細,才能確保均勻混合和研磨,而不會死燒。接下來,使用雷射繞射進行粒徑分析,有助於確保結果。 

Mastersizer 會設置於實驗室中並用於品質控制,而 Insitec 或 Labsizer 則會用於製程控制。 

解決方案

Zetium 水泥版

快速又準確的元素 XRF 分析,可確保生料混合物的化學特性正確且穩定,進而降低耗能、碳排放和維護需求
Zetium 水泥版

Epsilon 4

針對生料混合物進行快速元素 XRF 分析,有助於以低擁有成本控制製程
Epsilon 4

Revontium

輕巧型 XRF 可針對生料混合物進行快速且高品質的分析,有助於以低擁有成本控制製程
Revontium

Aeris 水泥版

輕巧型 XRD 可控制生料混合物的礦物組成,確保製程達到最高效率並獲得優質熟料
Aeris 水泥版

Mastersizer 系列

超高速又可靠的雷射繞射,適用於原料粗粉的粒徑分佈分析,以確保原料獲得適當研磨
Mastersizer 系列

Insitec 系列

利用雷射繞射,即時進行原料粗粉的粒徑分佈分析,以確保妥善研磨原料與控制成本
Insitec 系列

3Flex

高效能氣體吸附
3Flex

Gemini

快速、精確的表面積分析
Gemini

SAS II

全自動次篩分粒徑分析器
SAS II

水泥分析的 XRF 認證參考物質

WROXI 是一種高品質的合成認證參考物質 (CRM) 套件,其涵蓋相當多種氧化物材料,例如礦石、岩石和地質材料。它具有雙重用途:可用於主要熔融玻璃盤校準,或是用於發展二次壓實粉體校準。

以玻璃片為基礎的 WROXI-CRM 基礎軟體套件,包含 15 種認證參考物質、應用範本和監測樣本。一旦完成 WROXI-CRM 水泥擴充套件 (新增 9 個 CRMS) 後,此模組便成為隨即可用的解決方案,可進行各種原料、原料粗粉、熟料及水泥樣本的主要及次要元素分析。

用於水泥生產的替代燃料元素分析

有越來越多的替代燃料正以生質、混合燃料或碳排係數較低的化石廢棄物等形式,取代資源密集型的化石燃料。藉由回收燃料廢棄物的熱值,這些添加劑燃料有助於減少製造水泥時的碳排放。 

不過,必須完整分析替代燃料的安全性、化學、熱和物理特性,才能評估其對於火焰溫度和熱交換等參數的影響。

我們的 XRF 元素分析儀 (Epsilon 4RevontiumZetium)、交叉帶元素分析儀 (CNA Pentos-Cement)、礦物用輕巧型 X 光繞射儀 (Aeris 水泥),以及自動熔融樣品製備機 (LeNeoEagon2FORJ) 將使這項作業更加便利。

解決方案

Epsilon 4

可針對替代燃料進行快速又準確的元素 XRF 分析,以避免違法排放及製程中出現的不必要變化
Epsilon 4

Revontium

輕巧型 XRF 可針對替代燃料進行快速且高品質的分析,能以低擁有成本預防違法排放,並避免製程中出現不必要的變化
Revontium

Eagon 2

內建兩個熔融位置的儀器,運用熔融玻璃片去除不同的替代燃料,以利進行精準的 XRF 分析 – 可提供自動化版本
Eagon 2

Aeris 水泥版

使用 XRD 進行替代燃料礦物分析,以避免違法排放及製程中出現的不必要變化
Aeris 水泥版

Zetium 水泥版

可針對替代燃料進行快速又準確的元素 XRF 分析,既能避免不需要的元素,亦能同時減少二氧化碳排放與採購需求
Zetium 水泥版

Omnian

免標準解決方案可快速可靠地分析未知樣本,或是進行替代燃料健全性檢查
Omnian

Pro-Trace

Reliable trace element analysis
Pro-Trace

3Flex

高效能氣體吸附
3Flex

Gemini

快速、精確的表面積分析
Gemini

SAS II

全自動次篩分粒徑分析器
SAS II

孰料製造分析方法

熟料是經由高溫處理而生成:預熱原料粗粉、進行煅燒而形成熟料、冷卻熟料及壓碎。如上所示,要達到合適的水泥特性,必須適當控制煅燒條件,然後迅速淬熄熟料。

接著要留意妥善控制煅燒 (游離石灰),避免不需要的元素,並將正礦物相最大化以實現水泥的目標特性。 

以 XRD 分析孰料的礦物組成

為確保妥善進行煅燒,並獲得合適的熟料礦物組成,X 光繞射正是分析這些條件的最佳技術:可量化影響強度發展的 C3S 含量和類型、影響新鮮特性的 C3A 含量和類型,以及不得高於目標限值的游離石灰和方鎂石數量。Malvern Panalytical 的分析解決方案,善用 Aeris XRD 輕巧繞射儀以支援這項監控作業。 

XRF 如何應用於孰料製造?

在孰料製造中,XRF 具有幾個重要用途:

  • 原料比例調整 :XRF 有助於將原料粗粉的原料混合 (例如石灰岩和黏土) 最佳化,以確保合適的孰料製造混合比例。
  • 製程控制 :在窯爐中形成孰料的過程中,XRF 會監測製程條件,以便透過頻繁評估元素含量來確保品質維持一致。除了典型元素 (鈣、鋁、鐵、矽) 之外,不需要的元素 (氧化鎂、鹼、硫、氯) 會在燃料和生料混合物的內部回收流中受到管控。
  • 孰料品質保證 :XRF 可量化孰料中的主要、次要和部分微量元素,這些元素會直接關係到水泥的成效特性。
  • 深入瞭解相組成: XRF 有助於辨識孰料相 (例如 C3S、C2S、C3A、C4AF) 的化學組成,以指引製程的調整方向並管控最終的水泥特性。

綜合上述內容,XRF (Epsilon 4RevontiumZetium) 不僅能提高孰料品質、提升製程效率,更能強化整體水泥生產作業。

製造孰料的永續方法

最後,如上所述,製造商運用永續方法的目標,不僅僅在於取得優質熟料,更希望節省能源和資源並降低排放量。 

高溫處理熟料需要在 1450°C 下進行煅燒,相關能源通常可透過在煅燒爐和窯爐主燃燒器燒煤而達成。為求節能減碳,使用廢棄物與生質作為替代燃料的情況與日俱增。替代原料也是使用選項。 

這類替代燃料或替代原料的用量,需要採取特定控制措施,以免對煅燒爐的反應性產生負面影響。我們的 X 光解決方案可讓您的熟料製造享有替代解決方案的優勢,同時無須擔心品質受到影響。

解決方案

Aeris 水泥版

輕巧型 XRD 用於熟料的礦物相識別和量化,可監測化學反應、偵測過度燃燒並降低 CO2 排放量
Aeris 水泥版

Zetium 水泥版

可針對熟料進行快速又準確的元素 XRF 分析,避免從燃料回收流或生料混合物取得不必要的元素 - 為高處理量做好萬全準備
Zetium 水泥版

Epsilon 4

輕巧型 XRF 可針對孰料快速進行元素分析,透過低廉成本即可避免從燃料回收流或生料混合物取得不必要的元素
Epsilon 4

Revontium

輕巧型 XRF 可針對替代燃料快速進行高品質分析,更能以低擁有成本預防違法排放,並避免製程中出現不必要的變化
Revontium

Eagon 2

內建兩個熔融位置的儀器,運用熔融玻璃片去除不同物質,以利進行精準的 XRF 分析 – 可提供自動化版本
Eagon 2

LeNeo

可靠的熔融儀器運用熔融玻璃片去除不同物質,以利進行精準的 XRF 分析
LeNeo

3Flex

高效能氣體吸附
3Flex

Gemini

快速、精確的表面積分析
Gemini

SAS II

全自動次篩分粒徑分析器
SAS II

永續的水泥分析方法

水泥的製造方式是將含有不同活性成分 (SCM) 的熟料研磨成細粉,進而實現所需的水泥性質。最常見的添加物是石膏與混合材料,例如飛灰、爐渣水泥、石灰岩、天然火山灰和煅燒黏土。這些材料經過研磨而具備所需細度,並以正確比例混合,進而生產所訂目標的結晶水泥相。 

為降低耗能,必須將過度研磨的情況降至最低。成品水泥的粒度會影響其水合反應率,以及所需的水量、阻燃劑和分散劑,因此是決定水泥強度的關鍵因素。我們的粒徑分析解決方案有助於達到最佳的水泥粒度。由於它們的分析快速且即時,包括在嚴苛的製程環境中進行,於是可讓製造商迅速因應任何異常狀況,同時監控深具企圖心的準確目標。如此一來,它們有助於節省龐大能源,並提供最佳短期和長期水泥強度。此外,還可以快速輕鬆地安裝,將干擾降到最低。

監測硫酸鹽含量和礦物組成類型 (攸關研磨期間脫水),對於達到正確的新鮮硬化水泥特性而言至關重要。關於混合水泥,必須密切控制組成 (含非晶形物質),以符合客戶的規格與二氧化碳排放目標。我們的 X 光螢光與 X 光繞射儀器對此助益良多。

解決方案

Insitec 系列

利用雷射繞射,即時進行水泥的粒徑分佈分析,以確保妥善研磨與控制成本
Insitec 系列

Mastersizer 系列

超高速又可靠的雷射繞射儀器,適用於粒徑分佈分析
Mastersizer 系列

Aeris 水泥版

輕巧 XRD 用於礦物相識別和量化,可控制熟料添加物,並確認裝運貨物品質
Aeris 水泥版

Zetium 水泥版

快速準確的元素 XRF 分析,可控制熟料添加物並確認裝運貨物品質
Zetium 水泥版

3Flex

高效能氣體吸附
3Flex

Gemini

快速、精確的表面積分析
Gemini

SAS II

全自動次篩分粒徑分析器
SAS II

混凝土:確認裝運貨物品質 – 準備回收

混凝土是由三項基本成分構成:水、團聚物 (岩石、沙或砂礫) 和水泥。水泥通常為粉狀,跟水和團聚物混合時,可充當黏著劑。這種化合物,或稱為混凝土混合物,經過傾倒且硬化後,便會成為眾所周知的耐用材料。

回收混凝土成為日益受到歡迎的方法,這是利用拆除結構體或道路後殘留的團聚物而來。在過去,這種碎石會棄置於垃圾掩埋場,但隨著環保問題逐漸獲得重視,回收混凝土可重複使用碎石,同時還能降低施工成本。

在這兩種情況下,主要留意的是混凝土是否符合允諾的可加工性,硬化後品質 (抗凍、水密性、抗磨損性、強度),以及使用價格 (水量)。

組成和材料大小同樣重要。我們的雷射或 X 光儀器可提供必要資訊,以便對此類特性進行高品質檢查。

解決方案

Epsilon 4

適用於當地元素分析的桌上型 XRF
Epsilon 4

Mastersizer 系列

超高速又可靠的雷射繞射儀器,適用於粒徑分佈分析
Mastersizer 系列

Aeris 水泥版

可用於所有水泥製造階段的礦物偵測功能
Aeris 水泥版

3Flex

高效能氣體吸附
3Flex

Gemini

快速、精確的表面積分析
Gemini

SAS II

全自動次篩分粒徑分析器
SAS II

延伸閱讀