TriStar II Plus
全球最受信賴的高通量 BET 比表面積分析平台。
全自動三站式系統，提供快速且具研究等級精準度的 BET 比表面積分析。體驗真正的平行分析作業，大幅提升實驗室生產力。
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立即申請我們的學術資助計劃全球最受信賴的高通量 BET 比表面積分析平台。
全自動三站式系統，提供快速且具研究等級精準度的 BET 比表面積分析。體驗真正的平行分析作業，大幅提升實驗室生產力。
採用 Micromeritics 技術的 TriStar II Plus 3030，是全球領先實驗室信賴的高通量 BET 比表面積與孔隙結構分析儀，兼具研究級精準度與卓越的操作便利性。
TriStar II Plus 採用氣體吸附法，測量影響材料性能的表面積和孔隙結構特性。配備三個獨立分析站、自動化工作流程及靈活的資料分析功能，此儀器可協助研發與品管實驗室以嚴苛應用所需的速度、一致性與可信度，進而產生可靠的深入洞察。
三個分析埠均搭載專用壓力傳感器，能執行真正的平行量測，並支援高通量分析功能，可在 20 分鐘內提供結果。此外，您可透過單一電腦同時控制最多四台 TriStar 系統，進一步提升實驗室分析產能。
高通量了解快速、精準且自動化的 BET 比表面積分析，如何協助您做出更明智的決策並提升分析通量。
3L 低溫杜瓦瓶可支援長達 40 小時的穩定連續分析；結合孔隙結構與比表面積分析，單次量測即可獲得更完整的分析數據。
分析效率
TriStar II Plus 可為各類產業與材料提供可靠的 BET 比表面積分析，協助使用者優化製程並提升產品與材料性能。了解更多應用資訊，請參閱以下內容。
精準掌握電極的比表面積與孔隙結構，提升能源儲存容量與發電效率。
透過分析奈米管等候選材料的比表面積與孔隙結構，更可靠地預測並最佳化氫氣儲存容量。
比表面積、總孔體積與孔徑分布是工業吸附劑品質控制及分離製程開發的重要參數。比表面積與孔隙結構特性會影響吸附劑的選擇性。
量化催化劑的總表面積與孔隙結構，最佳化選擇性並提高目標產率。
精確分析比表面積與孔隙結構，確保活性碳在蒸氣回收、溶劑吸附及廢水污染控制等應用中維持最佳效能。
在製程與包裝各階段分析影響溶離速率、生體可用率、混合均勻性及保存期限等關鍵特性的比表面積與孔隙結構。
深入掌握地層孔隙率以估算流體儲存容量，並提供地下水與石油探勘的開採規劃資訊。
運用精確的比表面積與孔隙結構數據，最佳化生坯乾燥、產品強度及釉料特性，減少收縮、龜裂及縮釉等缺陷。
測量顏料的表面積來預測光澤、質地、顏色及薄膜附著力，並評估塗層孔隙率，以便更有效地控制膠印的吸墨性與起泡問題。
輕鬆測量材料的表面積及孔隙結構，從而瞭解粗糙表面或內部孔隙率如何影響顆粒反應性及燒結行為。
| 重量 | 37 kg (82 lbs) |
|---|---|
| 尺寸 （宽, 长, 高）： | 40 cm (16 in.) x 51 cm (20 in.) x 74 cm (29 in.) |
| 电源电压 | 100-240 V~ |
| 電功率 | 最大 150 VA |
| 频率范围 | 50/60 Hz |
| Overvoltage category | II |
| 温度 | 10 至 35 °C (50 至 95 °F)，作業溫度
0 至 50 °C (32 至 122 °F)，非作業溫度 |
| 濕度 | 相對濕度 20 至 80%，無凝結 |
| Environment | 僅限室內使用
高度：最大 2000 m
使用環境污染等級：2 |
| Specific Surface Area | 最低 0.01 m2/g (氮氣配置)
最低 0.001 m2/g (氪氣配置) |
|---|---|
| Total Surface Area | 最低 0.1 m2 (氮氣配置)
最低 0.01 m2 (氪氣配置) |
| Pore Volume | 最低 4 × 10-6 cm3/g |
| Dewar Duration | 最長 40 小時 |
| Gas Consumption | 每個分析埠最高 300 cm3 STP |
| Absolute pressure measurement | 範圍：0 至 950 mmHg
解析度：0.05 mmHg 以內
準確度：滿量程的 0.1% 以內
線性度：< ± 0.1% 量程 |
| Relative pressure measurement | P/P0 範圍：0 至 1.0 P/P0
解析度：< 10-4 |
| Manifold temperature | 準確度 ±0.25 °C
解析度≤ 0.1 °C |
| Nitrogen unit | 支援氣體：氮氣、氬氣、二氧化碳、丁烷、甲烷、其他輕質碳氫化合物及其他非腐蝕性氣體。
搭配適當的真空幫浦即可使用氧氣。 真空系統：需達到20 × 10-3 mmHg 或更佳真空度，可搭配油式或無油式真空幫浦。 |
|---|---|
| Krypton Unit | 支援氣體：與氮氣配置相同，並支援於較低壓力條件下進行氪氣比表面積分析。
真空系統：需達到 1 × 10-3 mmHg 真空度；須搭配無油式真空幫浦。 |
| 软件 | MicroActive 軟體：
透過一鍵式 QuickStart Analysis 簡化吸附等溫線數據收集流程。 支援表面能分析
互動式操作介面，可輕鬆設定計算範圍並自動執行品質檢查。 |
|---|---|
| 数据模型 | 進階 NLDFT 模型：
提供共 55 種 DFT/NLDFT 分析模型 相較於標準氮氣分析，可將孔徑分析範圍延伸至分子尺度孔隙。
可根據同一樣品的 CO2 與 N2 吸附等溫線計算碳材料的微孔孔徑分布。 |
| 21 CFR 第 11 部分 | Confirm 軟體支援符合 21 CFR Part 11 法規要求的應用環境 |
建議採用外部樣品前處理設備，以獲得最佳分析通量與量測品質。
最多可配置六個樣品前處理站，同時進行多個樣品的除氣作業，提升分析通量並減少前處理瓶頸。
樣品製備系統
樣品製備系統
配有用於填充分析杜瓦瓶的泵的 50 L 儲存杜瓦瓶
熱電冷卻技術，維持穩定恆溫環境
BET 與 Langmuir 比表面積模型的主要差異在於，Langmuir 模型著重於單層吸附，而 BET 模型則考慮多層吸附。
Brunauer-Emmett-Teller (BET) 表面積分析儀採用氣體吸附技術測量氣體分子 (吸附性) 在固體/多孔表面的物理吸附狀態。 此技術屬於非破壞性分析方法。
TriStar 不使用汞，而是透過氣體吸附法分析孔隙結構與孔徑分布。不同技術所能測量的孔徑範圍也各不相同，但有部分重疊。水銀測孔法可測量直徑 3 nm 至 500 µm 以上的孔徑。氣體吸附法則適用於量測 300 nm 以下的孔徑。
孔隙率分析著重於測定材料內部空隙的總體積，而孔徑大小則描述各個孔隙或通道的尺寸。孔隙率決定材料可儲存的流體量，而孔徑大小則影響流體傳輸能力及過濾效率。
請參閱孔分析頁面，以了解 TriStar 與其他儀器的功能比較。
氮氣、氬氣、二氧化碳、丁烷、甲烷、其他輕質碳氫化合物及其他非腐蝕性氣體。
搭配適當的真空幫浦即可使用氧氣。
可以。TriStar 軟體的 Confirm 版本支援符合 21 CFR Part 11 法規要求的應用環境，並可於安裝時依需求提供 IQ/OQ 驗證服務。
運用全球最受信賴的高通量 BET 比表面積分析儀，優化各項製程並提升分析效率。
