Epsilon 4

快速準確的線下 (at-line) 元素分析

以 Epsilon 3 系列 XRF 光譜儀的成功經驗為基礎打造而成的 Epsilon 4,是一款多功能的桌上型 XRF 分析儀,從研發到製程控制,需要分析從氟 (F) 到鋂 (Am) 元素的各個工業領域都適用。結合了最先進的 X 光偵測器科技,再加上成熟的軟體和智慧型的設計,Epsilon 4 的分析效能足以媲美更強大的立地型 XRF 光譜儀。

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工業版本

Epsilon 4 油品與燃料

符合 EPA TIER 3 及 ISO 13032 規範,適用於精準分析燃料與油品中的硫元素。
Epsilon 4 油品與燃料

Epsilon 4 藥品與化妝品

符合 ICH Q3D、USP <232>、<233> 及 <735> 規範,且適用於賦形劑及 API 中雜質的元素分析。
Epsilon 4 藥品與化妝品

Epsilon 4 食品與環境

符合 EPA IO-3.3 規範,可適用於空氣過濾器,並符合 ISO 18227、ISO 15309 及 ASTM C1255 規範,可適用於土壤分析。
Epsilon 4 食品與環境

Epsilon 4 建材

符合 ASTM C114-15 規範,且可透過將 Epsilon 4 置放於生產線旁,進而能縮短回饋時間。
Epsilon 4 建材

Epsilon 4 塑膠聚合物與油漆

添加劑及催化劑殘留物 (ADPOL)、有毒元素 (TOXEL) 及可用於確保符合 RoHS 規範的精確分析工具
Epsilon 4 塑膠聚合物與油漆

概覽

Epsilon 4 隨處可用

由於 Epsilon 4 無須特殊基礎設施的搭配,所以可直接放在生產線旁,也可置於您製程中的任何地方。其高效能設計能在一般環境中進行大多數的量測應用,從而降低氦氣或使用真空的成本。

Epsilon 4 隨處可用

提供您分析之外的更多價值

能量分散式 X 光螢光光譜儀適用於從碳 (C) 到鋂 (Am) 的元素分析及從低至 ppm 到 100 wt% 的濃度範圍。 

使用 Omnian 以進行無標樣分析,當您需要更快的分析速度時可使用 FingerPrint 以進行材料比對分析,或使用 Stratos 以進行塗層、表面層及多層結構的簡單非破壞性分析。搭配強化資料安全性 (Enhanced Data Security) 配件,便可支援如 FDA 21 CFR Part 11 等的法規規範,也可使用 Oil-Trace 以對新啟用或使用過的潤滑油進行燃料-生質燃料混合物的定量。

提供您分析之外的更多價值

對所有的樣品類型做好準備

Epsilon 4 能處理各式各樣的樣品類型,包括固體、壓餅、粉體、液體及過濾物。它能執行從碳 (C) 到鋂 (Am) 的非破壞性元素定量分析,分析濃度從 100% 到低至 ppm 等級,樣品量從數毫克到整塊的樣品都可進行分析處理。

Epsilon 4 是傳統系統可靠的替代方案,可適用於各式各樣的產業及應用,即使是具有極高重要性的輕元素分析應用也能勝任,包括:黏合劑生產、採礦、礦物提煉、鐵、鋼及非鐵礦物、RoHS 篩檢及定量、油品及石化、聚合物及相關產業、氣體生產、鑑識科學、製藥、保健產品、環境、食品及化妝品。

對所有的樣品類型做好準備

產品特色

彈性的配置選擇

Epsilon 4 是高度相容性的分析工具,提供用於元素分析 (F – Am) 的 10 W 版本,從研發到製程控制等各種領域皆可適用。如果需要更快速的樣品分析或是更多的輕元素資訊以及在更具挑戰性的環境中使用,也有提供相應的 15 W 版本,甚至能夠進行碳、氮及氧的分析。

彈性的配置選擇

最先進的科技

Epsilon 4 結合了最新的 X 光激發及偵測技術,並搭配完備的分析軟體。15 W 功率 X 光管搭配高電流 (3 mA) 以及最新的矽漂移偵測器 SDD30,再加上精巧的光路設計,讓 Epsilon 4 不只能提供優於 50 W 功率 EDXRF 甚至桌上型 WDXRF 系統的分析效能,而且還具有用電效率這項額外的效益。

最先進的科技

快速而敏銳

使用最新 silicon drift 偵測器技術可以達成快速測量結果,並獲得更高的強度。

獨特的偵測器電子裝置可提供 1,500,000 cps 以上的線性計數率 (at 50% dead time),及在不受計數率影響下的能量解析度可小於 135 eV,可提供您更佳的光譜解析度。可讓 Epsilon 4 X光螢光光譜儀在全功率之下進行量測,進而相較於傳統 EDXRF 可實現更快速的樣品分析速度。

快速而敏銳

減少氦氣的使用

Epsilon 4 的高效能可讓使用者在大氣環境下完成許多量測分析,減少了氦氣或真空系統維護所需的額外時間與成本。在大氣環境下測量時,鈉、鎂和鋁所產生了的低能量 X 光螢光訊號對氣壓與溫度的變化十分敏感。設備內建溫度與氣壓感測器會自動補償這些環境變化,無論天候如何變化,都能確保獲得最佳結果。

減少氦氣的使用

強化資料安全性

Epsilon 系統軟體的強化資料安全性 (Enhanced Data Security) 選配功能可幫助您強化追蹤稽核,將錯誤風險降至最低,並證明您的 XRF 儀器正在如預期運作。其功能包括進階的使用者管理、動作記錄及資料保護。

規格

樣品處理X 光管偵測器軟體
具備 10 個位置的可移動樣品交換器可提供最高穩定性的金屬陶瓷側窗高解析度矽漂移偵測器 (SDD),在 Mn-Kα 下一般為 135 eV透過 Omnian 無標樣分析解決方案,進行元素篩選
光譜儀可容納最大 52 mm (2 吋) 直徑的樣品50 微米細型鈹窗可對輕元素 (Na、Mg、Al、Si) 提供高靈敏度在 50% 空檔時間下可達最高計數率為 1,500,000 counts/s採用 FingerPrint 解決方案,進行合格/不合格分析
包含旋轉器,以獲得更佳的空氣過濾器分析精確度Ag 陽極 X 光管,可帶來最佳的 P、S 與 Cl 分析效能細型入口的偵測器窗,可提供高靈敏度在受管制環境下,提高數據安全性
大樣品模式可用於分析高達 10 cm 高度的較大樣品

適用於多層樣品的 Stratos



使用 Oil-Trace,在新潤滑油與已使用的潤滑油中,對磨損金屬進行靈活地校準。

配件

標準品 (參考物質)

ADPOL

適用於精確分析機能性聚合物添加劑的標準品
ADPOL

WROXI

精確分析礦物氧化物的 XRF 標準品
WROXI

LAS

精確分析低合金鋼的 XRF 標準品
LAS

RoHS

精確分析 RoHS 限制性物質元素的 XRF 標準品
RoHS

TOXEL

精確分析聚合物及塑膠中有毒元素的 XRF 標準品
TOXEL

CRMs

Claisse 滿足您的所有需求!
CRMs

CEMOXI

精確分析水泥材料中氧化物的 XRF 標準品
CEMOXI

應用軟體

Epsilon 應用軟體

Epsilon 軟體是 XRF 分析軟體平台,能與 PANalytical 的 Epsilon 1 與 Epsilon 4 系列桌上型 EDXRF 系統搭配使用。

Epsilon 應用軟體

Stratos

軟體提供快速、簡單及非破壞性的方式,分析塗層、表面層及多層結構。
Stratos

Omnian

當標準品不易或無法取得時,Omnian 軟體能提供給您最好的分析結果。

Omnian

Oil-Trace

Oil-Trace 是內含一組標準品的軟體套件,能讓使用者使用 WDXRF 與 EDXRF 執行精確可考的液體元素分析。
Oil-Trace

FingerPrint

FingerPrint 軟體模組搭配 Epsilon EDXRF 系統,非常適合進行快速材料比對測試。

FingerPrint

樣品製備

Claisse LeNeo

透過 Claisse 的專業讓您在熔融技術中保持領先
Claisse LeNeo

技術支援

產品服務

效益最大化的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務,以確保您的儀器保持在最佳狀態,發揮一流的性能。我們的應用專家和技術支援服務能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

技術支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析方法 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP,ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 實驗室程序自動化
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程

分析服務與校準用材料

  • 專家 (XRF) 分析服務
  • 氧化物與痕量分析
  • 客製化的校準用材料

Universal and reliable device.

Jakub Nowak — ComerLab Dorota Nowak