Epsilon 4 食品与环境

信任您的产品质量

  • 多功能桌上型XRF分析儀
  • 專為食品和環境應用而定制
  • 快速、可靠的元素分析

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概述

随着人口数量的不断增长,人们对于更好地处理地球资源的需求也日益增加。 Epsilon 4 能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF) 光谱仪是一种强大的分析工具,可获得有用的元素信息,促进作物生长,确保产品和环境安全。

Epsilon 4 激发和检测技术的新进展为传统上由ICP和AAS执行的具有挑战性的应用提供了可能性。从ICP切换到EDXRF显著减少了耗材、公用事业和时间的使用。

特点

  • 可選的 EPA IO-3.3 工廠校準:為了輕鬆採用和實施 XRF 方法,Malvern Panalytical 為其 Epsilon 4 桌上型提供符合 EPA IO-3.3 法規的工廠校準。此光譜儀將用於分析從Na到U的46種元素。無需投資和購買昂貴且脆弱的標準品。

  • 台式 XRF 的优势: Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合,其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。

  • 快速而敏銳: 使用最新 silicon drift 偵測器技術可以達成快速測量結果,並獲得更高的強度。獨特的偵測器電子裝置可提供 1,500,000 cps 以上的線性計數率 (at 50% dead time),及在不受計數率影響下的能量解析度可小於 135 eV,可提供您更佳的光譜解析度。可讓 Epsilon 4 X光螢光光譜儀在全功率之下進行量測,進而相較於傳統 EDXRF 可實現更快速的樣品分析速度。

  • 減少氦氣的使用: Epsilon 4 的高效能可讓使用者在大氣環境下完成許多量測分析,減少了氦氣或真空系統維護所需的額外時間與成本。在大氣環境下測量時,鈉、鎂和鋁所產生了的低能量 X 光螢光訊號對氣壓與溫度的變化十分敏感。設備內建溫度與氣壓感測器會自動補償這些環境變化,無論天候如何變化,都能確保獲得最佳結果。

低运行成本

  • 不需要昂贵的酸
  • 不需要液氮
  • 不需要样品制备,直接将样品放到光谱仪中即可。
  • 分析完成后,昂贵的标准(如空气滤清器)不会损坏,可重复用作质量控制或验证样品。
  • 利用高质量 X-射线和硅漂移探测器,维护成本低

准确的结果

  • Epsilon 软件中的解谱算法十分强大,即使在 XRF 光谱中元素峰重叠,也可以确保结果准确
  • Epsilon 软件中的空白减法运算,在通过不同基底材料分析空气滤清器时,提供灵活度和准确性
  • 测量时,被测样品的自旋尽量避免质地不均而造成的误差,从而提供更准确的结果

超越合規性的價值

Epsilon 4 用于控制动物饲料中的养分营养素,以保持家畜健康并更大程度减少粪肥产生的温室气体。

其他应用包括监控环境空气中可吸入颗粒物的元素组成 (EPA IO3-3) 或食品产品中的养分和盐含量。 

根据 ISO 18227、ISO 15309 和 ASTM C1255 的规定,对土壤和肥料进行分析,改善生长条件,确保无有毒元素影响作物。

主要应用

Epsilon 4 光谱仪可以处理类型广泛的样品,重量从几毫克到更大的块状样品不等。可以测量下列类型的样品:

  • 固体
  • 粉末压片
  • 疏松粉末
  • 液体
  • 熔片
  • 浆料
  • 颗粒
  • 滤膜
  • 薄膜与涂层

規格

样品处理

样品容量 具备 10 个位置的可移动样品交换器
样品尺寸 光谱仪最多可容纳直径 52 mm 的样品(土壤、液体、固体和空气滤清器)
Features 包含自旋器,以提高液体和固体结果的准确性

X 射线管

Features 稳定性高的金属陶瓷侧窗
50 微米薄铍窗,对轻元素高度敏感(Na、Mg、Al、Si)
Tube setting Ag 阳极 X 射线光管,获得 P、S 和 Cl 分析的性能

检测器

偵測器類型 高分辨率硅漂移探测器 (SDD),通常为 135 eV @ Mn-Kα
Features 最大值(M) 计数率 1,500,000 c/s(在 50% 的死时间下)
薄入探测器射窗,高灵敏度

软件

软件
  • 通过 Omnian 无标分析解决方案,进行元素筛选
  • 通过 FingerPrint 解决方案,进行合格/不合格分析
  • 审计跟踪软件选项,以增强数据安全性,符合 FDA 21 CFR 第 11 部分

配件

软件

Epsilon software

適用於 Epsilon 桌上型系統的分析 EDXRF 軟體包

Epsilon 軟體是 XRF 分析軟體平台,與帕納科的 Epsilon 1 和 Epsilon 4 桌上型 EDXRF 系統系列搭配使用。該軟體提供設定和操作 Epsilon 桌上型系統所需的所有功能。軟體內建的高度智慧極大地促進了分析程序的組裝,使用戶能夠從半個世紀的應用專業知識中受益。每日 XRF 分析是一項常規任務,沒有經驗的人員只需經過最少的指導即可輕鬆完成。許多功能都可以增強軟體的可用性。

Omnian

对所有样品类型进行无标分析

当不存在专用方法或同类型标准样品时,Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 作为引领潮流的无标分析软件包,Omnian 融合了先进的软件和超越技术限制的设置样品。 Omnian 可用于 Epsilon 1、Epsilon 4 和 Zetium 光谱仪,无论是什么样品类型或基体,均可提供快速可靠的分析结果。

Enhanced Data Security

保護您的資料並滿足審核員的要求

增強資料安全 (EDS) 模組是一個軟體選項,可為 Zetium XRF 光譜儀(透過 SuperQ 軟體)和 Epsilon XRF 光譜儀的使用者提供增強的結果信任。憑藉高級用戶管理、操作記錄、資料保護和應用程式狀態分配等功能,EDS 可以幫助您加強審核追蹤、最大限度地降低錯誤風險,並證明您的 XRF 儀器按預期工作。

FingerPrint

即時材料識別

當分析速度很重要但實際成分並不重要時,FingerPrint 軟體模組與 Epsilon 4 EDXRF 系統結合,是材料測試的理想選擇。指紋辨識通常幾乎不需要樣品製備,且是非破壞性的。

标准(参考材料)

Omnian

Omnian 用于对各种材料进行无标元素分析。 更多資訊
Omnian

經過認證的參考材料

經過認證的標準物質,包括 XRF 校準模組和標準物質

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Malvern Panalytical 提供多項產品服務,以確保您的儀器保持在最佳狀態,發揮一流的性能。我們的應用專家和技術支援服務能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

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  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程
強大的線上元素分析。

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