分析从亚纳米到毫米的颗粒粒度分布范围。
粒度
目前为止,颗粒粒度是颗粒样品重要的物理特性。 粒度分布测量通常用于在多个行业,粒度常常是许多产品制造过程中的关键参数。
测量颗粒粒度并了解其对产品与工艺的影响是许多制造业成功的关键。 马尔文帕纳科为各种类型的颗粒粒度分析及表征提供专业仪器,量程范围自亚纳米至毫米级。
使用下表可帮助选择可满足您需求的技术和颗粒粒度仪器:
小角 X 射线散射 1nm - 100nm
动态光散射 <1nm - >1µm
纳米颗粒跟踪分析技术 10nm - 1µm
激光衍射 <100nm - >2mm
空間濾波器測速 <50µm - 6mm
自动成像 <1µm - >3mm
X射線沉降 0.1µm - 300 µm
透氣度 0.5µm - 75µm
*所有颗粒粒度都取决于样品
面面俱到的光散射技術
特點包括
世界最受歡迎的粒徑分析儀
為精密顆粒特性分析而生的自動成像系統
即時噴霧粒徑分析儀
以視覺方式追蹤奈米顆粒的大小與計數
線上工藝粒徑分析儀
全自動次篩分粒徑分析器
以 X 光沉降法測定無機粒徑分佈