SediGraph 是 Micromeritics 的一項技術，至今仍被全球許多實驗室用於粒徑分析。無論是在惡劣的生產環境，或受控的實驗室環境中，SediGraph 都能以優越的可靠性持續提供準確的結果。
採用沉降法測量粒徑分佈。顆粒質量是透過 X 光吸收技術直接進行測量。
SediGraph 可以透過測量顆粒在重力作用下穿過具有斯托克斯定律描述之已知特性的液體的速率，測定 0.1 至 300 µm 範圍內顆粒的等效球體直徑。
新一代 SediGraph III Plus 將這種經證實的技術與新技術相結合，提供可重複且高度準確的粒徑資訊，幾分鐘內就能完成大多數分析。
粒徑範圍和每一種粒徑等級的質量分佈，都會強烈影響陶瓷粉末的燒結能力及其成型特性，以及成品中的孔徑分佈。粒徑分佈資訊有助於確定固化與黏合程序、控制孔隙結構、確保足夠的生坯強度，並且生產具有所需強度、紋理、外觀和密度的成品。
透過測量產品密度，來監測和控制 API 和賦形劑的成分。透過密度測量可以檢測產品的多晶型、水合型和非晶型型態以及純度的差異。
晶粒大小會影響土壤的保水能力、排水速率，和土壤保持養分的能力。晶粒大小與沉積物的輸送具有直接關係。
基礎粉末 (例如滑石粉) 和用於著色之顏料的粒徑分佈都會對化妝品的外觀、應用和包裝造成影響。
光是粒徑就能影響顏色的著色強度。當著色強度提高，產生預期色彩濃度所需的顏料量也會隨之變少。粒徑會影響塗料的遮蓋力。此外，粒徑分佈也會影響光澤、紋理、色彩飽和度和亮度。
粒徑會影響金屬對結構敏感型催化反應的催化活性。
水泥的粒徑會影響成品混凝土和水泥的凝固時間和強度特性。
材料的反應性取決於暴露的表面積，以及粒徑分佈。
無論材料是用於漿料、乾式噴砂或黏合研磨料工具，研磨料顆粒和粉末的適當平衡尺寸分佈都是基本考量因素。均勻的粒徑不僅可確保流過噴砂機的流速精確無誤，同時也是回收研磨料時的媒介管理關鍵測定因素。
| 粒子大小 | 0.1 至 300 µm 等效球體直徑 |
|---|---|
| 防潮材质 | 不鏽鋼、Teflon® 浸漬陽極氧化鋁、鍍鎳鋁、尼龍、聚丙烯、聚苯乙烯、Tygon® 和 Pharmed® 管材、碳化鎢、Ertalyte®、Viton®、丁腈橡膠和環氧樹脂 |
| 样品尺寸 | 50 mL 的分散樣品 – 無需精密濃度 |
| Suspending liquids | 任何與樣品槽材料相容，且對 X 光吸收率不高的液體 (典型液體有水、乙二醇、礦物油、SediSperse® 和酒精) |
| 电源 | 85 至 264 VAC、47/63 Hz、450 VA |
| 温度（可控） | 環境溫度：作業時 +10 至 40°C；儲存或運輸時 -10 至 55 °C |
| 濕度 | 20 至 80% (無冷凝) |
| 尺寸： | 高度：52 cm (20.5 in.)
寬度：50.5 cm (20 in.)
深度：58 cm (23 in.)
重量：43 kg (95 lbs) |
Micromeritics SediGraph 可根據直接質量濃度檢測法，確定粒徑分佈和統計資料，例如 D10、D50 和 D90。只需輕觸按鈕，即可取得基本和進階報告。SediGraph III Plus 可以和選配的 MasterTech 自動取樣器搭配使用，以持續監控生產過程，並將資料推送到網路或雲端以利於遠端存取。
完全粒子可計量性能確保所有引入的樣品都會被計入，包括小於 0.1 µm 的超細粒子
能夠將資料與其他粒徑測量法的資料合併，進而將報告資料的範圍擴大到 125,000 µm (125 mm)，是地質應用領域最理想的選擇
可從底部到頂部掃描沉澱槽，準確清點快速沉澱的顆粒，同時將解析細小顆粒分離所需的時間縮到最短
全自動作業可提高樣品處理量，減少操作人員的參與，進而減少發生人為錯誤的機率
溫控分析可確保液體特性在整個分析過程中保持不變，讓您能確信結果必然準確且可重複
統計製程控制 (SPC) 報告可用於追蹤您的製程效能，進而能立即對波動做出回應
Micromeritics SediGraph III Plus 配備多用途、操作簡單的使用者介面，可提供您想要從 Windows 程式取得的所有便利功能。這些功能包括點擊選單、附上實驗室標誌圖形的可自訂報告、可編輯圖表、剪貼圖形和表格、資料匯出功能等。
自訂規程有助於規劃、啟動和控制分析，確保後續分析都以相同的方式進行，而且不受操作人員技能的影響。您可收集、整理、封存和減少原始資料，並儲存標準化樣品資訊和分析條件，以便於後續應用期間輕鬆存取。完成的報告可以生成到螢幕、紙張，或以多種格式傳輸到儲存裝置。
SediGraph III Plus 可自動提供 300 至 0.1 µm 範圍內顆粒的詳細分析資料。從其他 125,000 至 300 µm 範圍的粒徑分析中所收集到的資料，可以與 SediGraph 資料相結合，進而能有效報告 125,000 至 0.1 µm 範圍內的顆粒。
除了表狀資料外，還有不同的圖形式分析圖類型可供使用，包括：
可以疊加圖表來比較不同樣品的結果，或比較同一樣品的不同圖表類型。這可讓您將分析結果與標準值做比較。您可以重新縮放圖表大小，以便仔細檢視圖形化資料。表格中新增了一欄，並加入到圖中的 x 軸選項，該圖是以 Phi 單位報告尺寸，其中 Ф = -log2 (粒徑以 mm 為單位)。此外，表格中也提供沉降速度 (cm/s) 的欄選項。圖表的 x 軸可用粒徑或沉降速度顯現尺度比例。
