X 射线荧光光谱仪 (XRF) 在矿业和矿产业发挥着重要且成熟的分析作用。 广泛用于勘探、等级控制和工艺监控，确保废弃物组成符合环境标准和法规的范围内。
在采矿作业中利用 Epsilon 4 台式光谱仪，即使在偏远地区也可对矿石、矿物和岩石进行快速的元素分析。 将基础设施的低需求和高分析性能相结合，使得在公用设施有限的采矿地点能够快速确定操作策略。
通过将台式 XRF 光谱仪放置在矿场或加工厂旁边，探索 XRF 分析的可能性，并将您的反馈时间从几小时缩短到几分钟。
台式 XRF 的优势: Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。
无人值守式运行: 可自旋装置以及在 10位进样系统特性方便了自动化的成批样品处理，中间无需操作员的介入。 测量时，被测样品的自旋可以尽量避免单个样品内部质地不均，或者表面不规则而造成的错误，从而提供更准确的结果。将数据自动传送到中央位置，允许您访问结果。
快速而敏銳: 使用最新 silicon drift 偵測器技術可以達成快速測量結果，並獲得更高的強度。獨特的偵測器電子裝置可提供 1,500,000 cps 以上的線性計數率 (at 50% dead time)，及在不受計數率影響下的能量解析度可小於 135 eV，可提供您更佳的光譜解析度。可讓 Epsilon 4 X光螢光光譜儀在全功率之下進行量測，進而相較於傳統 EDXRF 可實現更快速的樣品分析速度。
減少氦氣的使用: Epsilon 4 的高效能可讓使用者在大氣環境下完成許多量測分析，減少了氦氣或真空系統維護所需的額外時間與成本。在大氣環境下測量時，鈉、鎂和鋁所產生了的低能量 X 光螢光訊號對氣壓與溫度的變化十分敏感。設備內建溫度與氣壓感測器會自動補償這些環境變化，無論天候如何變化，都能確保獲得最佳結果。
马尔文帕纳科已开发出一套 15 种合成的多元素宽范围氧化物 (WROXI) 标准。 Epsilon 4可与WROXI一同交付,分析各种氧化物祥品中的主要和次要元素井将其制备成熔片。利用 Epsilon 软件中马尔文帕纳科独特的FP算法,WROXI应用程序可以确定各种岩石、矿石和矿物中高达21种 常见氧化物的浓度。
WROX可以用作主要熔片校准,或者用于验证客户的粉末祥品应用的内部标准。
X 射线荧光光谱仪 (XRF) 是安全、具有经济效益且高度可靠的方法，在矿业和矿产业发挥着重要作用。
利用 Epsilon 4 进行线上矿物加工操作，可在选矿厂迅速、高效地操作。
Epsilon 4 光谱仪可以处理类型广泛的样品，重量从几毫克到更大的块状样品不等。可以测量下列类型的样品：
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| 样品容量 | 具备 10 个位置的可移动样品交换器 |
|---|---|
| 样品尺寸 | 光谱仪最多可容纳直径 52 毫米（2 英寸）的样品 |
| Features | 包含自旋器，以提高空气滤清器分析的准确性 |
| Features | 稳定性高的金属陶瓷侧窗
50 微米薄铍窗，对轻元素高度敏感（Na、Mg、Al、Si） |
|---|---|
| Tube setting | Ag 阳极 X 射线光管，获得 P、S 和 Cl 分析的高性能 |
| 偵測器類型 | 高分辨率，一般为 135 eV @ Mn-Kα |
|---|---|
| Features | 最大计数率 1,500,000 c/s（在 50% 的死时间下）
薄入探测器射窗，高灵敏度 |
| 软件 |
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|---|
Epsilon 軟體是 XRF 分析軟體平台，與帕納科的 Epsilon 1 和 Epsilon 4 桌上型 EDXRF 系統系列搭配使用。該軟體提供設定和操作 Epsilon 桌上型系統所需的所有功能。軟體內建的高度智慧極大地促進了分析程序的組裝，使用戶能夠從半個世紀的應用專業知識中受益。每日 XRF 分析是一項常規任務，沒有經驗的人員只需經過最少的指導即可輕鬆完成。許多功能都可以增強軟體的可用性。
Stratos 軟體模組具有演算法，可根據測量結果同時確定層狀材料的化學成分和厚度。該軟體提供了一種快速、簡單且非破壞性的分析塗層、表面層和多層結構的方法。虛擬分析師在為複雜堆疊設定測量程序期間提供智慧。
Stratos 可用於 Epsilon 4 EDXRF 和 Zetium XRF 光譜儀，無論樣品類型或基質如何，都能提供快速可靠的結果。
当不存在专用方法或同类型标准样品时，Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 作为引领潮流的无标分析软件包，Omnian 融合了先进的软件和超越技术限制的设置样品。 Omnian 可用于 Epsilon 1、Epsilon 4 和 Zetium 光谱仪，无论是什么样品类型或基体，均可提供快速可靠的分析结果。
Oil-Trace 是一個由一套標準組成的軟體包，使用戶能夠使用 WDXRF 和 EDXRF 對液體進行準確可靠的元素分析。 Oil-Trace 解決了分析液體時的兩個問題：
透過有效解決這些問題，Oil-Trace 為石油分析帶來了顯著的好處。
當分析速度很重要但實際成分並不重要時，FingerPrint 軟體模組與 Epsilon 4 EDXRF 系統結合，是材料測試的理想選擇。指紋辨識通常幾乎不需要樣品製備，且是非破壞性的。
增強資料安全 (EDS) 模組是一個軟體選項，可為 Zetium XRF 光譜儀（透過 SuperQ 軟體）和 Epsilon XRF 光譜儀的使用者提供增強的結果信任。憑藉高級用戶管理、操作記錄、資料保護和應用程式狀態分配等功能，EDS 可以幫助您加強審核追蹤、最大限度地降低錯誤風險，並證明您的 XRF 儀器按預期工作。
Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片，以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。
Claisse LeNeo 熔融仪器可制备用于 XRF 的玻璃熔片，以及用于 AA 和 ICP 分析的硼酸和过氧化物溶液。 这是一款单熔位电子仪器。
更多資訊
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 1
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