无论生产地点在哪里，您的客户都会要求聚合物性能优越的一致性。 Epsilon 4 是一款能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 台式光谱仪，用于提供了优越的重复性和准确性元素分析，可满足您的客户的一致性要求。
易于使用的测量程序，有限的公用设施要求和独特的校准解决方案，可在生产线附近和多个生产现场进行可再现的分析。 Epsilon 4 可提供长达数月的可靠结果，同时无需重新校准， 轻松保证产品质量。
原材料检验：来料的质量控制和ROHS符合性，如回收聚合物，添加剂，纤维。
过程控制：对钛、硅、钙、磷等元素进行快速和微量分析，以提高产品的一致性
最终质量控制：Epsilon 4可用于最终检测，以确保质量和成分，不同形状和厚度的产品在大样本模式下进行分析。
台式 XRF 的优势: Epsilon 4 将激发和检测技术与智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪。 选择性激发和 X 射线管输出与探测系统功能的优化配置为实现系统高性能打下了基础。
低运行成本: Epsilon 4 不需要使用昂贵的酸、气体和通风柜，如在 ICP 和 AAS 中。 唯一要求是电源供电，在某些情况下使用氦气提升样品中轻元素的灵敏度。 同样，XRF 光谱仪中的各种成分不会暴露在摩擦或高温下，因此可以存留很多年。
非破坏性分析: 使用 Epsilon 4 进行测量是直接在疏松粉末或最终产品上进行的，几乎不需要进行样品制备。 由于 XRF 是一项无损技术，因此也可根据需要随后采用其他分析技术测量样品。
迅速、敏感: 硅漂移检测器技术可产生明显更高的射线强度，从而实现快速测量。 独特的检测模块可以处理超过 1,500,000 cps 的线性计数率（50% 的死时间，非线性度<1%），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV（@300 kcps），可更好地对邻近谱线进行分离。强有力的探测性能使得 Epsilon 4 能谱仪超越了传统台式仪器，实现了更快的测试响应和更低的检出限。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。
Epsilon 4 直接为聚合物、塑料和油漆生产商带来不菲价值。 通过对整个生产过程以及生产相邻过程进行快速直接的分析，实现可追溯性。
验证所用原材料的质量，并分析最终产品中是否存在添加剂、催化剂残留物和有毒元素。 马尔文帕纳科提供校准解决方案 ADPOL、TOXEL 和 RoHS，支持其用户确保消费者安全、提供始终如一的高端产品质量和性能。
获取正确的校准样品是进行 XRF 分析的关键。
对于塑料和聚合物行业，我们开发了独特的校准解决方案，用于准确分析添加剂和催化剂残留物 (ADPOL)、有毒元素 (TOXEL)，依据 ASTM F2617 和 IEC 62321-3-1 确保符合 RoHS 标准 (RoHS)。
Epsilon 4 光谱仪可以处理类型广泛的样品，重量从几毫克到更大的块状样品不等。可以测量下列类型的样品：
Great tool. Quick analysis, easy-to-use repeatable. Very helpful and competent assistance.
Omar Scaccabarozzi — Analyst
| 样品容量 | 具备 10 个位置的可移动样品交换器 |
|---|---|
| 样品尺寸 | 光谱仪最多可容纳直径 52 mm 的样品（疏松粉末、液体、浆料和固体） |
| Features | 包含自旋器，以提高液体、浆料和粉末结果的准确性 |
| Tube setting | Ag 阳极 X 射线光管，获得 P、S 和 Cl 分析的高性能 |
|---|---|
| Features | 稳定性高的金属陶瓷侧窗
50 微米薄铍窗，对轻元素高度敏感（Na、Mg、Al、Si） |
| 偵測器類型 | 高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，通常为 135 eV @ Mn-Kα |
|---|---|
| Features | 最大值(M) 计数率 1,500,000 c/s（在 50% 的死时间下）
薄入探测器射窗，高灵敏度 |
| 软件 |
|
|---|
Epsilon 軟體是 XRF 分析軟體平台，與帕納科的 Epsilon 1 和 Epsilon 4 桌上型 EDXRF 系統系列搭配使用。該軟體提供設定和操作 Epsilon 桌上型系統所需的所有功能。軟體內建的高度智慧極大地促進了分析程序的組裝，使用戶能夠從半個世紀的應用專業知識中受益。每日 XRF 分析是一項常規任務，沒有經驗的人員只需經過最少的指導即可輕鬆完成。許多功能都可以增強軟體的可用性。
当不存在专用方法或同类型标准样品时，Omnian 可帮助用户实现尽可能好的分析。 作为引领潮流的无标分析软件包，Omnian 融合了先进的软件和超越技术限制的设置样品。 Omnian 可用于 Epsilon 1、Epsilon 4 和 Zetium 光谱仪，无论是什么样品类型或基体，均可提供快速可靠的分析结果。
Stratos 軟體模組具有演算法，可根據測量結果同時確定層狀材料的化學成分和厚度。該軟體提供了一種快速、簡單且非破壞性的分析塗層、表面層和多層結構的方法。虛擬分析師在為複雜堆疊設定測量程序期間提供智慧。
Stratos 可用於 Epsilon 4 EDXRF 和 Zetium XRF 光譜儀，無論樣品類型或基質如何，都能提供快速可靠的結果。
增強資料安全 (EDS) 模組是一個軟體選項，可為 Zetium XRF 光譜儀（透過 SuperQ 軟體）和 Epsilon XRF 光譜儀的使用者提供增強的結果信任。憑藉高級用戶管理、操作記錄、資料保護和應用程式狀態分配等功能，EDS 可以幫助您加強審核追蹤、最大限度地降低錯誤風險，並證明您的 XRF 儀器按預期工作。
當分析速度很重要但實際成分並不重要時，FingerPrint 軟體模組與 Epsilon 4 EDXRF 系統結合，是材料測試的理想選擇。指紋辨識通常幾乎不需要樣品製備，且是非破壞性的。
請聯絡支援人員以取得最新的使用手冊。
請聯絡支援人員以取得最新軟體版本。
Malvern Panalytical 提供多項產品服務，以確保您的儀器保持在最佳狀態，發揮一流的性能。我們的應用專家和技術支援服務能確保您的儀器在最佳狀態下運作。
完整維修
為您的作業流程增加更多價值
