什麼是光譜分析法？
光譜分析法是一種研究物質與輻射之間交互作用的分析方法。光譜分析法係使用光譜儀來進行，光譜儀可透過光的波長和頻率分析顆粒。
Malvern Panalytical 提供多種分析產品，協助您應對顆粒特性分析或材料識別的各種需求與挑戰。
近紅外光譜
ASD 系列
野外便携式全范围 UV/Vis/NIR/SWIR 光谱辐射仪和光谱仪
近紅外線光譜分析法為高度彈性的光譜分析解決方案，可用以進行材料測量與製程優化，且相當符合成本效益。
若需識別材料或分析與測量光能， ASD 系列產品中的可見光近紅外線光譜儀和光譜輻射計是絕佳解決方案。ASD 的完整攜帶式解決方案涵蓋了下列光譜分析法技術：
- 可見光近紅外線光譜分析法
- SWIR (短波紅外線) 光譜分析法
- 可見光近紅外線光譜輻射測量法
形態定向拉曼光譜 (MDRS)
Morphologi 4-ID
快速、自動的顆粒特性分析系統，整合了單一式平台，能分析顆粒形貌及特定化學組成，且包含一年 Wiley 的 KnowItAll® Raman Ident...
形貌導向拉曼光譜技術 (MDRS) 結合了自動顆粒成像和拉曼光譜技術。此技術可用以對多成分樣品中的單一成分進行快速、自動化的化學與形貌特性分析。
Morphologi 4-ID 以單一整合平台提供快速、自動化的顆粒特定特性分析。
X射線螢光光譜法
X 光螢光光譜分析法透過 X 光激發樣品，接著測量來自樣品的螢光 X 光，以識別樣品中的元素。透過判斷螢光 X 光的能量或波長，即可識別元素，而螢光 X 光強度則可用以計算濃度。
X 光光譜分析法有兩種技術：能量分散式光譜分析法和波長分散式光譜分析法。Malvern Panalytical 提供多種 X 光螢光光譜分析解決方案，可用於分析樣品的定性與定量資訊。
脈衝快熱中子活化 (PFTNA)
CNA 系列
有效控制多种工业流程的中子活化在线物料分析系统
PFTNA 使用光譜分析技術解讀元素濃度。此技術廣泛用於多種產業，實現高速線上製程控制。
CNA 系列產品中的交叉帶分析儀可提供具備高度代表性的元素分析，以實現安全、強大的即時製程中控制。
