X 光粉末繞射是一種強大技術，可對混合物中的結晶相進行定量測定。
典型應用包括用於石頭及礦石品位控制的礦物定量分析、建材產業的熟料及水泥相，以及煉鋁廠的浴比或「potflux」分析。
若每一相的偵測極限範圍為 0.1 至 1 wt.%，則 XRD 適合用於品質控制。舉例來說，製藥產業使用此方法來偵測並量化微量雜質，如樣品中不需要的同素異形體；而大學和研究機構使用此方法對合成物質的純度進行分類。
常用於物相定量分析方法
- RIR 方法
根據參考強度比 (RIR 值) 以及測定的相比例因數。除非 RIR 值已在研究的特定混合物確定，否則結果僅為「半定量」。
- 校準方法
根據強度或每一相的峰值面積。從先前透過一組已知成分的標準樣品所建立的校準線，可以取得濃度資料。非晶形化合物亦可使用此方法定量。
- 自動比例方法
根據先前針對所有混合物成分測量的個別強度分佈圖及 RIR 值進行的全譜定量分析。這種方法特別適合呈現不規則峰形的黏土，或是對多種非晶形相進行定量的情況。同時適合用來測定結晶程度。
- Rietveld 精算
此為一種無標樣方法，其所計算的每一相繞射圖都會變化，直到取得實驗模式的最佳擬合結果。從測定的比例因數可推論出相濃度。此方法需要所有相的原子晶體結構數據作為精算輸入資料。此方法對於呈現強烈峰值重疊的複雜相混合物特別有效。亦可量化非晶形物質的含量。
XRD 物相定量分析解決方案
Empyrean 多功能 XRD 平台很適合進行物相定量分析。Aeris compact XRD 是一款優異工具，可用於研究及產業環境的例行物相定量分析任務。
軟體解決方案
Quantify 和 Industry 軟體套件涵蓋了校準式方法。
HighScore 可使用 RIR 和自動比例方法，且 HighScore Plus 額外涵蓋了使用米勒指數 (Miller indices) 的 Rietveld 精算和晶格平面 (hkl) 擬合方法。
所有軟體套件也提供多種自動化與自訂報告選項。
