Preço do Espectrômetro de XRF

Quanto custa um sistema de XRF?

Há uma ampla variedade de sistemas de XRF disponíveis no mercado, desde equipamentos portáteis e de bancada até sistemas maiores de chão. Todos esses sistemas variam em funcionalidade e desempenho, mas todos são desenvolvidos para resolver os desafios elementares dos usuários. Embora a percepção seja de que os sistemas portáteis são sempre as soluções mais econômicas, há sistemas de bancada que atendem a orçamentos semelhantes, normalmente na faixa de US$ 20 mil a US$ 50 mil, que no caso é o Espectrômetro de Fluorescência de Raios X por Dispersão de Energia Epsilon 1

XRF portátil versus XRF manual: qual me oferece valor real?

Se os dispositivos de bancada estiverem disponíveis por uma faixa de preço semelhante à de um dispositivo portátil, qual deve ser o fator decisivo? Você deve escolher a facilidade de uso com uma pistola de XRF para obter resultado? Ou há mais aspectos a considerar ao tomar a decisão certa? Os principais benefícios do Epsilon 1 portátil ou do SciAps PowerHouse X em relação a um dispositivo manual incluem:

  • Alteração fácil entre diferentes tipos de amostra e composições
  • Medição mais estável e precisa
  • Correção automática da temperatura ambiente e de flutuações de pressão
  • Redução dos custos, eliminando análises desnecessárias de acompanhamento
  • Proteção completa contra raios X, garantindo um funcionamento seguro

Aqui estão algumas vantagens de usar o PowerHouse X em vez de um manual:

  • Vantagem de operar em alta tensão: Opera a 80 kV, em comparação com os 50 a 55 kV típicos de dispositivos manuais, proporcionando um desempenho muito melhor
  • Detecção superior de REE: Essencial para testar metais de terras raras (REEs, rare earth elements), que são difíceis de detectar com precisão com dispositivos manuais
  • Acesso às linhas K: Permite acesso às linhas K de alta energia, que não sofrem sobreposição com elementos comuns, simplificando a análise
  • Limites de detecção inferiores: Alcança níveis de sensibilidade e detecção muito menores, ideais para medições em nível de ppm
  • Cobertura abrangente de elementos: Calibrado para aproximadamente 48 elementos na tabela periódica
  • Análise simplificada: As linhas de alta energia reduzem a interferência espectral, facilitando a interpretação dos resultados
  • Design totalmente blindado: Uma câmara de amostra fechada com uma tampa de travamento mantém os raios X contidos com segurança
  • Portátil e pronto para uso no campo: Vem com duas baterias para uso prolongado no campo e uma alça integrada para facilitar o transporte
  • Gerenciamento térmico: A ventoinha integrada mantém o sistema em temperaturas operacionais ideais
  • Aplicativo geoquímico poderoso: Inclui três feixes para cobertura abrangente, de REEs a metais básicos e elementos leves como Al, Si, P e S
  • Calibração avançada: Usa um híbrido de parâmetros fundamentais e calibrações empíricas para obter resultados altamente precisos
  • Aplicações versáteis: Ideal para exploração mineral, análise ambiental, controle de grau de minério e setores como o de veículos elétricos, eletrônicos e baterias
  • Tipos de amostras flexíveis: Acomoda amostras de mão, amostras em pó, lascas de rocha, peças de núcleo ou qualquer coisa que caiba na câmara de teste

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz
Epsilon 1

Benefícios da XRF manual

Embora os analisadores de XRF portáteis, como o Epsilon 1 e o PowerHouse X da SciAps ofereçam precisão com qualidade de laboratório em um formato compacto, há muitos cenários em que os analisadores de XRF manuais oferecem uma vantagem inigualável. Isso é especialmente válido com o poder e a inovação da linha SciAps Série X, agora parte do portfólio da Malvern Panalytical.

Os principais benefícios da XRF manual incluem:

  • Analisadores manuais de XRF, como a linha SciAps Série X, são projetados para condições reais, desde minas e ferros-velhos até chãos de fábrica e pesquisas ambientais ao ar livre. Analise as amostras in-situ sem precisar transportá-las para um laboratório.
  • Obtenha análises elementares em segundos. Seja verificando ligas metálicas, testando metais pesados no solo ou fazendo triagens de materiais classificados, as pistolas de XRF otimizam seu fluxo de trabalho e aceleram a tomada de decisões.
  • O SciAps X Series oferece detectores de alta resolução, ampla faixa de detecção de elementos (do magnésio ao urânio) e processadores potentes. Tudo isso em um dispositivo leve, ergonômico e que cabe na palma da mão.
  • Os analisadores de XRF manuais eliminam a necessidade de espaço de laboratório dedicado, tornando-os ideais para equipes remotas e operações descentralizadas.
  • Para setores como reciclagem de metais, exploração de mineração e testes ambientais, os XRFs manuais oferecem o desempenho de que você precisa.
  • O SciAps Série X inclui telas sensíveis ao toque intuitivas, conectividade em nuvem e fácil exportação de dados, projetadas para se integrar perfeitamente às suas operações.
  • Os XRFs manuais modernos vêm equipados com travas de segurança, proteção e conformidade com os padrões globais de segurança contra radiação.

Em resumo, quando a velocidade, a portabilidade e a facilidade de uso são as principais prioridades, um analisador de XRF manual, como o SciAps Série X, oferece uma alternativa poderosa, flexível e econômica.

Série X da SciAps

Os analisadores de XRF de alta precisão mais leves, menores e mais rápidos...
Série X da SciAps

Pagar por um sistema de XRF

Então, como faço para escolher a solução certa para o meu desafio analítico e qual orçamento devo reservar? Não se preocupe com essa pergunta, temos especialistas em todo o mundo disponíveis para discutir as suas amostras e desafios de análises elementares com você e informar quais espectrômetros de XRF são capazes de atender às suas necessidades. Para entrar em contato, clique em "Entrar em contato com o setor de vendas".

Revontium

Revontium

Brilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar
LLD 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka)
processamento de amostra
Format Compact
Zetium

Zetium

Excelência elementar

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar
LLD 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka)
processamento de amostra
Format Floorstanding WDXRF
Série Epsilon

Série Epsilon

Rapidez e precisão na análise elementar e em linha

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar
LLD 1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka)
processamento de amostra
Format Benchtop EDXRF
Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar
LLD 1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka)
processamento de amostra
Format Realtime
2830 ZT

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar
LLD 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka)
processamento de amostra
Format Semi
Axios FAST

Axios FAST

Alta produtividade de amostras

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar
LLD 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka)
processamento de amostra
Format Floorstanding WDXRF
Revontium

Revontium

Brilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas

Zetium

Zetium

Excelência elementar

Série Epsilon

Série Epsilon

Rapidez e precisão na análise elementar e em linha

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

2830 ZT

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

Axios FAST

Axios FAST

Alta produtividade de amostras

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Análise elementar
Detecção e análise de contaminantes
Quantificação elementar
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar
LLD 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka)
processamento de amostra
Format Compact Floorstanding WDXRF Benchtop EDXRF Realtime Semi Floorstanding WDXRF