Há uma ampla variedade de sistemas de XRF disponíveis no mercado, desde equipamentos portáteis e de bancada até sistemas maiores de chão. Todos esses sistemas variam em funcionalidade e desempenho, mas todos são desenvolvidos para resolver os desafios elementares dos usuários. Embora a percepção seja de que os sistemas portáteis são sempre as soluções mais econômicas, há sistemas de bancada que atendem a orçamentos semelhantes, normalmente na faixa de US$ 20 mil a US$ 50 mil, que no caso é o Espectrômetro de Fluorescência de Raios X por Dispersão de Energia Epsilon 1.
Se os dispositivos de bancada estiverem disponíveis por uma faixa de preço semelhante à de um dispositivo portátil, qual deve ser o fator decisivo? Você deve escolher a facilidade de uso com uma pistola de XRF para obter resultado? Ou há mais aspectos a considerar ao tomar a decisão certa? Os principais benefícios do Epsilon 1 portátil ou do SciAps PowerHouse X em relação a um dispositivo manual incluem:
Aqui estão algumas vantagens de usar o PowerHouse X em vez de um manual:
Embora os analisadores de XRF portáteis, como o Epsilon 1 e o PowerHouse X da SciAps ofereçam precisão com qualidade de laboratório em um formato compacto, há muitos cenários em que os analisadores de XRF manuais oferecem uma vantagem inigualável. Isso é especialmente válido com o poder e a inovação da linha SciAps Série X, agora parte do portfólio da Malvern Panalytical.
Os principais benefícios da XRF manual incluem:
Em resumo, quando a velocidade, a portabilidade e a facilidade de uso são as principais prioridades, um analisador de XRF manual, como o SciAps Série X, oferece uma alternativa poderosa, flexível e econômica.
Então, como faço para escolher a solução certa para o meu desafio analítico e qual orçamento devo reservar? Não se preocupe com essa pergunta, temos especialistas em todo o mundo disponíveis para discutir as suas amostras e desafios de análises elementares com você e informar quais espectrômetros de XRF são capazes de atender às suas necessidades. Para entrar em contato, clique em "Entrar em contato com o setor de vendas".
Brilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas
Tipo de medição | |
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Metrologia de filme fino | |
Análise elementar | |
Detecção e análise de contaminantes | |
Quantificação elementar | |
Identificação química | |
Tecnologia | |
X-ray Fluorescence (XRF) | |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
Gama elementar | |
LLD | 0.1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | |
processamento de amostra | |
Format | Compact |
Excelência elementar
Tipo de medição | |
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Metrologia de filme fino | |
Análise elementar | |
Detecção e análise de contaminantes | |
Quantificação elementar | |
Identificação química | |
Tecnologia | |
X-ray Fluorescence (XRF) | |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
Gama elementar | |
LLD | 0.1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | |
processamento de amostra | |
Format | Floorstanding WDXRF |
Rapidez e precisão na análise elementar e em linha
Tipo de medição | |
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Metrologia de filme fino | |
Análise elementar | |
Detecção e análise de contaminantes | |
Quantificação elementar | |
Identificação química | |
Tecnologia | |
X-ray Fluorescence (XRF) | |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
Gama elementar | |
LLD | 1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | |
processamento de amostra | |
Format | Benchtop EDXRF |
Informações diretas do seu processo de produção
Tipo de medição | |
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Metrologia de filme fino | |
Análise elementar | |
Detecção e análise de contaminantes | |
Quantificação elementar | |
Identificação química | |
Tecnologia | |
X-ray Fluorescence (XRF) | |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
Gama elementar | |
LLD | 1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | |
processamento de amostra | |
Format | Realtime |
Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados
Tipo de medição | |
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Metrologia de filme fino | |
Análise elementar | |
Detecção e análise de contaminantes | |
Quantificação elementar | |
Identificação química | |
Tecnologia | |
X-ray Fluorescence (XRF) | |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
Gama elementar | |
LLD | 0.1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | |
processamento de amostra | |
Format | Semi |
Alta produtividade de amostras
Tipo de medição | |
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Metrologia de filme fino | |
Análise elementar | |
Detecção e análise de contaminantes | |
Quantificação elementar | |
Identificação química | |
Tecnologia | |
X-ray Fluorescence (XRF) | |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
Gama elementar | |
LLD | 0.1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | |
processamento de amostra | |
Format | Floorstanding WDXRF |
![]() RevontiumBrilho compacto, análise avançada, possibilidades infinitas |
![]() ZetiumExcelência elementar |
![]() Série EpsilonRapidez e precisão na análise elementar e em linha |
![]() Epsilon XflowInformações diretas do seu processo de produção |
![]() 2830 ZTSolução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados |
![]() Axios FASTAlta produtividade de amostras |
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Tipo de medição | ||||||
Metrologia de filme fino | ||||||
Análise elementar | ||||||
Detecção e análise de contaminantes | ||||||
Quantificação elementar | ||||||
Identificação química | ||||||
Tecnologia | ||||||
X-ray Fluorescence (XRF) | ||||||
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | ||||||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | ||||||
Gama elementar | ||||||
LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Resolução (Mg-Ka) | ||||||
processamento de amostra | ||||||
Format | Compact | Floorstanding WDXRF | Benchtop EDXRF | Realtime | Semi | Floorstanding WDXRF |