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Análise elementar

Tecnologias para análise da composição elementar de materiais

A análise elementar de materiais geralmente é um parâmetro importante na qualidade e segurança do produto. Por exemplo, a composição elementar correta da quantidade de matéria-prima para um forno de cimento é essencial para ter uma operação regular e a máxima eficiência. 

Igualmente importante, a presença de elementos potencialmente prejudiciais, como enxofre, sódio, potássio e mercúrio, deve ser cuidadosamente monitorada, pois esses elementos podem interferir no processo ou prejudicar o meio ambiente. 

A técnica mais adequada para realizar a análise elementar depende do material, sua localização e critérios específicos do setor.

Técnicas analíticas elementares

Existem muitas técnicas analíticas elementares que servem para entender a composição elementar das substâncias. Elas fornecem insights valiosos sobre a composição química dos materiais, ajudando pesquisadores e indústrias a tomar decisões bem fundamentadas. Seja para analisar a pureza de produtos farmacêuticos, identificar contaminantes em alimentos ou caracterizar amostras geológicas.

Fluorescência de raios X (XRF)

A fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica não destrutiva que se baseia na emissão de raios X característicos quando uma amostra é exposta à radiação de raios X. 

Ela é amplamente utilizada para realizar análises elementares em diversas aplicações, incluindo identificação de ligas, exploração mineral e controle de qualidade na fabricação.

Análise de ativação de nêutron térmica rápida pulsada (PFTNA)

A Ativação de nêutron térmica rápida pulsada (PFTNA) é uma técnica especializada que utiliza nêutrons térmicos rápidos pulsados para ativar materiais. 

Ela oferece vantagens exclusivas na análise de elementos traço e isótopos em várias amostras, incluindo materiais geológicos, ambientais e nucleares.

Plasma indutivamente acoplado (ICP)

O ICP é uma fonte de plasma de alta temperatura que excita átomos e íons em uma amostra, possibilitando a quantificação precisa dos elementos. 

Essa é uma técnica versátil usada em análises ambientais, na geoquímica e na determinação de elementos traço em várias matrizes.

Espetroscopia de absorção atômica (AAS)

A AAS mede a absorção de luz por átomos livres em uma amostra. Ela é particularmente útil para quantificar traços de metais em amostras biológicas e ambientais, o que a torna indispensável na química analítica.

Análise de ativação de nêutron (NAA)

A NAA consiste em bombardear amostras com nêutrons para induzir reações nucleares. É um método sensível de identificar e quantificar elementos traço em uma ampla variedade de materiais, desde artefatos arqueológicos até amostras forenses.

Quais soluções de análise elementar a Malvern Panalytical oferece?

A Malvern Panalytical tem uma gama de analisadores elementares que oferecem diversas técnicas analíticas elementares. Quando são necessárias análises precisas com o mínimo de preparação da amostra, a fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica recomendada. Esse se tornou o "padrão ouro" para análise de composição elementar em muitos setores. 

A XRF é especialmente adequada durante a análise de sólidos, pós, pastas, filtros e óleos. Para análises online de material transportado em correias transportadoras, a análise da Ativação de nêutron térmica rápida pulsada (PFTNA) é uma técnica valiosa. Análises elementares em tempo real permitem avançar e retornar o controle que é fundamental em muitos processos.

Nossa ampla linha de soluções elementares atende a um espectro diversificado de aplicações, garantindo resultados precisos e confiáveis. Explore nossa linha de instrumentação para análise elementar abaixo.

Zetium

Zetium

Excelência elementar

Série Epsilon

Série Epsilon

Rapidez e precisão na análise elementar e em linha

Axios FAST

Axios FAST

Alta produtividade de amostras

2830 ZT

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

Linha CNA

Linha CNA

Analisadores elementares on-line para controle eficaz de vários processos industriais

Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Detecção e análise de contaminantes
Identificação química
Tecnologia
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Ativação de nêutron térmica rápida pulsada
Gama elementar Be-Am F-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
processamento de amostra 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour