Análise elementar

Tecnologias para análise da composição elementar de materiais

A análise elementar de materiais geralmente é um parâmetro importante na qualidade e segurança do produto. Por exemplo, a composição elementar correta da quantidade de matéria-prima para um forno de cimento é essencial para ter uma operação regular e a máxima eficiência. Igualmente importante, a presença de elementos potencialmente prejudiciais, como enxofre, sódio, potássio e mercúrio, deve ser cuidadosamente monitorada, pois esses elementos podem interferir no processo ou prejudicar o meio ambiente. A técnica mais adequada para realizar a análise elementar depende do material, sua localização e critérios específicos do setor.

A Malvern Panalytical tem uma gama de analisadores elementares que oferecem diversas técnicas analíticas elementares. Quando são necessárias análises precisas com o mínimo de preparação da amostra forem necessários, a fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica recomendada. Esse se tornou o "padrão ouro" para análise de composição elementar em muitos setores. A XRF é especialmente adequada durante a análise de sólidos, pós, pastas, filtros e óleos. Para análises de on-line de material transportado em correias transportadoras, a análise de ativação de nêutron térmica rápida pulsada (PFTNA) é uma técnica valiosa. Análises elementares em tempo real permitem avançar e retornar o controle que é fundamental em muitos processos.

Zetium

Zetium

Excelência elementar

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Série Epsilon

Série Epsilon

Rapidez e precisão na análise elementar e em linha

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Axios FAST

Axios FAST

Alta produtividade de amostras

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2830 ZT

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

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Linha CNA

Linha CNA

Analisadores elementares on-line para controle eficaz de vários processos industriais

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Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Detecção e análise de contaminantes
Identificação química
Tecnologia
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Ativação de nêutron térmica rápida pulsada
Gama elementar Be-Am F-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
processamento de amostra 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour