Fluorescência de raios X por dispersão em comprimento de onda (WDXRF)
Introdução à espectroscopia dispersiva de comprimento de onda WDXRF e aos espectrômetros WDXRF da Malvern Panalytical
Introdução à espectroscopia dispersiva de comprimento de onda WDXRF e aos espectrômetros WDXRF da Malvern Panalytical
A espectrometria de fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica não-destrutiva utilizada para obter informações elementares a partir de diferentes tipos de materiais.
É empregada em diversos setores e aplicações, como: produção de cimento, produção de vidro, mineração, beneficiamento mineral, ferro, aço e metais não-ferrosos, petróleo e petroquímicas, polímeros e setores relacionados, produtos farmacêuticos, produtos de saúde e meio ambiente.
Os sistemas de espectrômetros são geralmente divididos em dois grupos principais: sistemas de dispersão de comprimento de onda (WDXRF) e sistemas de energia dispersiva(EDXRF). A diferença entre os dois está no sistema de detecção.
O conceito básico de todos os espectrômetros é uma fonte de radiação, uma amostra e um sistema de detecção. Em espectrômetros WDXRF, a ampola de raios X que atua como fonte irradia uma amostra diretamente, e a fluorescência proveniente da amostra é medida com um sistema de detecção dispersiva por comprimento de onda.
A radiação característica vinda de cada elemento individual pode ser identificada com a análise de cristais que separam os raios X com base em seu comprimento de onda, ou, ao contrário, suas energias.
Esse tipo de análise pode ser feito tanto pela medição da intensidade dos raios X em diferentes comprimentos de onda um após o outro (sequencial) ou em posições fixas, medindo as intensidades de raios X em diferentes comprimentos de onda todos ao mesmo tempo (simultâneo).
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